Material de referencia certificado - utilizacao das tecnicas de INAA e ICP-OES em testes de homogeneidade para silicio metalico

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: CHUI, Q.S.H.
Data de Publicação: 2014
Outros Autores: IAMASHITA, C.O., BISPO, J.M.A., VASCONCELLOS, M.B.A., ENCONTRO PARA A QUALIDADE DE LABORATORIOS
Tipo de documento: Artigo de conferência
Título da fonte: Repositório Institucional do IPEN
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