[pt] REFLECTOMETRIA COERENTE APLICADA AO ESTUDO DA INSTABILIDADE DE FREQÜÊNCIA E EFEITOS TÉRMICOS EM LASERS DE REALIMENTAÇÃO DISTRIBUÍDA
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Data de Publicação: | 2006 |
Tipo de documento: | Outros |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell) |
Texto Completo: | https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8633@1 https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8633@2 http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8633 |
Resumo: | [pt] A reflectometria coerente tem se mostrado uma importante técnica para caracterização dos dispositivos ópticos e optoeletrônicos presentes nos sistemas de comunicações. Neste trabalho, a reflectometria coerente no domínio da freqüência foi utilizada no estudo das características dos lasers de semicondutor de realimentação distribuída. Foram realizadas medidas da resposta térmica do módulo laser, da linearidade da varredura em freqüência e da instabilidade de freqüência devido às reflexões da luz nas conexões do sistema. Conhecendo estas informações é possível saber algumas limitações da técnica. Todas as medidas de caracterização são feitas de formas simples e prática. |
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[pt] REFLECTOMETRIA COERENTE APLICADA AO ESTUDO DA INSTABILIDADE DE FREQÜÊNCIA E EFEITOS TÉRMICOS EM LASERS DE REALIMENTAÇÃO DISTRIBUÍDA [en] STUDY OF FREQUENCY INSTABILITY AND THERMAL EFFECTS IN DISTRIBUTAL FEEDBACK LASERS WITH COHERENT REFLECTOMETRY [pt] REFLECTOMETRIA OPTICA[pt] FREQUENCIA[en] OPTICAL REFLECTOMETRY[en] FREQUENCY[pt] A reflectometria coerente tem se mostrado uma importante técnica para caracterização dos dispositivos ópticos e optoeletrônicos presentes nos sistemas de comunicações. Neste trabalho, a reflectometria coerente no domínio da freqüência foi utilizada no estudo das características dos lasers de semicondutor de realimentação distribuída. Foram realizadas medidas da resposta térmica do módulo laser, da linearidade da varredura em freqüência e da instabilidade de freqüência devido às reflexões da luz nas conexões do sistema. Conhecendo estas informações é possível saber algumas limitações da técnica. Todas as medidas de caracterização são feitas de formas simples e prática. [en] Coherente reflectometry has been an important technique for characterization of optinal and optoeletronics devices used in communications systems. In this work, Coherente frequency domain reflectometry was used in the study of the Distributed-Feedback Semiconductor lasers characteristics. The measurement of thermal response of the laser module, linearity of the frequency sweep and frequency instabilities induced by feedback light reflected at the systems conections was was done. With these informations it is possible to know some limitations of the technique. MAXWELLJEAN PIERRE VON DER WEIDADELA ALENCAR SAAVEDRA2006-07-05info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/otherhttps://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8633@1https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8633@2http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8633porreponame:Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell)instname:Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (PUC-RIO)instacron:PUC_RIOinfo:eu-repo/semantics/openAccess2017-09-14T00:00:00Zoai:MAXWELL.puc-rio.br:8633Repositório InstitucionalPRIhttps://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/ibict.phpopendoar:5342017-09-14T00:00Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell) - Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (PUC-RIO)false |
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