[pt] CARACTERIZAÇÃO DE GUIAS ÓTICOS COM REFLECTOMETRIA DE BAIXA COERÊNCIA
Autor(a) principal: | |
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Data de Publicação: | 2006 |
Tipo de documento: | Outros |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell) |
Texto Completo: | https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8877@1 https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8877@2 http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8877 |
Resumo: | [pt] Reflectometria Ótica de Baixa Coerência (OLCR) é uma importante técnica não-destrutiva para a caracterização de guias de onda óticos. Este trabalho apresenta um estudo sobre a multiplicação de soluções que aparecem com uma nova configuração, que coloca o dispositivo fora dos braços do interferômetro. Duas técnicas foram desenvolvidas para resolver esse problema. Uma delas é baseada na correlação de medidas feitas com o dispositivo em duas posições diferentes. A outra técnica elimina a dualidade pela modulação da fase das reflexões provenientes do dispositivo. Ambas as técnicas eliminaram os picos indesejáveis satisfatoriamente, tornando mais fácil a observação das reflexões. A resolução não foi alterada pela modulação, e um elevada sensibilidade foi obtida. Um método para medidas de atenuação, baseado em sistemas de OLCR, foi apresentado. Se o coeficiente de reflexão for bem conhecido, o seu uso para medidas em guias de onda, tais como moduladores eletro-óticos, pode ser bastante interessante. |
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[pt] CARACTERIZAÇÃO DE GUIAS ÓTICOS COM REFLECTOMETRIA DE BAIXA COERÊNCIA [en] CHARACTERIZATION OF OPTICAL WAVEGUIDES WITH LOW COHERENCE REFLECTOMETRY [pt] REFLECTOMETRIA OPTICA[pt] GUIAS DE ONDAS[en] OPTICAL REFLECTOMETRY[en] WAVEGUIDES OF GUIDES[pt] Reflectometria Ótica de Baixa Coerência (OLCR) é uma importante técnica não-destrutiva para a caracterização de guias de onda óticos. Este trabalho apresenta um estudo sobre a multiplicação de soluções que aparecem com uma nova configuração, que coloca o dispositivo fora dos braços do interferômetro. Duas técnicas foram desenvolvidas para resolver esse problema. Uma delas é baseada na correlação de medidas feitas com o dispositivo em duas posições diferentes. A outra técnica elimina a dualidade pela modulação da fase das reflexões provenientes do dispositivo. Ambas as técnicas eliminaram os picos indesejáveis satisfatoriamente, tornando mais fácil a observação das reflexões. A resolução não foi alterada pela modulação, e um elevada sensibilidade foi obtida. Um método para medidas de atenuação, baseado em sistemas de OLCR, foi apresentado. Se o coeficiente de reflexão for bem conhecido, o seu uso para medidas em guias de onda, tais como moduladores eletro-óticos, pode ser bastante interessante. [en] Optical Low Coherence Reflectometry (OLCR) is na important non-destructive method for characterization of optical waveguides. This work presents a study of the plurality of solutions that appear with a new configuration, which places the device out of both arms of the interferometer. Two techniques were developed to solve this problem. One of them is based on the correlation of measurements made with the device in two different positions. The other technique removes the ambiguity by modulating the phase of the reflections from the interferometer. Both techniques have eliminated the undesirable peaks sucessfully, making the observation of the reflections more easy. The resolution was not changed by the modulation, and a high sensitivy was achieved. A method for attenuation measurements, based on OLCR systems, was presented. If the reflection coefficient is well know, its use for measurements of optical waveguides, such as modulators, could be very interesting. MAXWELLJEAN PIERRE VON DER WEIDCARLOS HUMBERTO PROLA JUNIOR2006-08-22info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/otherhttps://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8877@1https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8877@2http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8877porreponame:Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell)instname:Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (PUC-RIO)instacron:PUC_RIOinfo:eu-repo/semantics/openAccess2018-10-10T00:00:00Zoai:MAXWELL.puc-rio.br:8877Repositório InstitucionalPRIhttps://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/ibict.phpopendoar:5342018-10-10T00:00Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell) - Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (PUC-RIO)false |
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