[en] DYNAMIC LINEAR MODEL OF HARRISON & STEVENS APPLIED TO STATISTICAL PROCESS CONTROL AUTOCORRELATED

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: ADRIANO SIQUEIRA PYLKO
Data de Publicação: 2008
Tipo de documento: Outros
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell)
Texto Completo: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=12173@1
https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=12173@2
http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.12173
Resumo: [pt] Um dos principais problemas em manufatura é como ajustar um processo de produção que não está obtendo uma performance desejada. O intuito é fazer com que o parâmetro do processo volte a assumir um valor alvo requerido. As técnicas de controle estatístico de processo (CEP) são amplamente utilizadas na indústria para monitorar processos e, conseqüentemente, para melhoria da qualidade. Os gráficos de controle para variáveis mais freqüentemente utilizados para monitorar a média e a variabilidade do processo são os gráficos de Shewhart, os gráficos de CUSUM e os gráficos de EWMA. Porém, as considerações básicas para se utilizar um gráfico de Shewhart são que os dados gerados pelo processo sejam independentes e identicamente distribuídos (IID). Quando a hipótese de independência dos dados não é satisfeita, tais gráficos não funcionam bem, pois fornecerão resultados não confiáveis na forma de excesso de alarme falsos, ou seja, conduz a interpretações equivocadas acerca do processo e gera custos adicionais de controle. Esta tese utiliza uma formulação bayesiana, o Modelo Linear Dinâmico de Harrison & Stevens (MLD-HS) para o monitoramento da média de processos cujas observações podem ser modeladas como um processo ARMA (1,1). O Fator de Bayes acumulado foi utilizado na detecção de desvios na média de um dado processo. Posteriormente, os resultados obtidos pelo modelo proposto, que foi nomeado como MLD-CEP, são comparados aos resultados obtidos por Lu & Reynolds (2001). Os resultados obtidos pelo MLD-CEP sugerem bom desempenho na detecção de alterações na média em processos de baixo a moderadamente alto nível de autocorrelação.
id PUC_RIO-1_74775941e4d30b017ed084c16b4a5928
oai_identifier_str oai:MAXWELL.puc-rio.br:12173
network_acronym_str PUC_RIO-1
network_name_str Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell)
repository_id_str 534
spelling [en] DYNAMIC LINEAR MODEL OF HARRISON & STEVENS APPLIED TO STATISTICAL PROCESS CONTROL AUTOCORRELATED [pt] MODELO LINEAR DINÂMICO DE HARRISON & STEVENS APLICADO AO CONTROLE ESTATÍSTICO DE PROCESSOS AUTOCORRELACIONADOS [pt] CONTROLE ESTATISTICO DE PROCESSO[pt] AUTO-CORRELACAO[pt] MODELO LINEAR[pt] GRAFICOS DE CONTROLE[en] STATISTICAL PROCESS CONTROL[en] AUTOCORRELATION[en] LINEAR MODEL[en] CONTROL CHARTS[pt] Um dos principais problemas em manufatura é como ajustar um processo de produção que não está obtendo uma performance desejada. O intuito é fazer com que o parâmetro do processo volte a assumir um valor alvo requerido. As técnicas de controle estatístico de processo (CEP) são amplamente utilizadas na indústria para monitorar processos e, conseqüentemente, para melhoria da qualidade. Os gráficos de controle para variáveis mais freqüentemente utilizados para monitorar a média e a variabilidade do processo são os gráficos de Shewhart, os gráficos de CUSUM e os gráficos de EWMA. Porém, as considerações básicas para se utilizar um gráfico de Shewhart são que os dados gerados pelo processo sejam independentes e identicamente distribuídos (IID). Quando a hipótese de independência dos dados não é satisfeita, tais gráficos não funcionam bem, pois fornecerão resultados não confiáveis na forma de excesso de alarme falsos, ou seja, conduz a interpretações equivocadas acerca do processo e gera custos adicionais de controle. Esta tese utiliza uma formulação bayesiana, o Modelo Linear Dinâmico de Harrison & Stevens (MLD-HS) para o monitoramento da média de processos cujas observações podem ser modeladas como um processo ARMA (1,1). O Fator de Bayes acumulado foi utilizado na detecção de desvios na média de um dado processo. Posteriormente, os resultados obtidos pelo modelo proposto, que foi nomeado como MLD-CEP, são comparados aos resultados obtidos por Lu & Reynolds (2001). Os resultados obtidos pelo MLD-CEP sugerem bom desempenho na detecção de alterações na média em processos de baixo a moderadamente alto nível de autocorrelação.[en] Monitoring a manufacturing process is an important subject in the industries currently. Statistical process control techniques are widely used for process monitoring and quality improvement. Control charts for variables more often used to control both process mean and variance are Shewhart control charts, CUSUM charts and EWMA charts. However, the basic assumptions to use a Shewhart chart are: independent and identically distributed observations (IID); but,autocorrelation may be present in many process, and may have a strong impact nthe properties of control charts. This thesis used a bayesian formulation, Dynamic Linear Model of Harrison & Stevens (MLD-HS), for monitoring the process mean for the situation in which observations from the process can be modeled as an ARMA(1,1). The cumulative Bayes factor has been used for detecting shifts on the process mean. After that, the results obtained by MLD-CEP are compared with the results obtained by Lu & Reynolds (2001). The MLD-CEP results indicate a good performance in detecting shifts in the process mean.MAXWELLEUGENIO KAHN EPPRECHTADRIANO SIQUEIRA PYLKO2008-09-09info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/otherhttps://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=12173@1https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=12173@2http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.12173porreponame:Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell)instname:Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (PUC-RIO)instacron:PUC_RIOinfo:eu-repo/semantics/openAccess2018-09-06T00:00:00Zoai:MAXWELL.puc-rio.br:12173Repositório InstitucionalPRIhttps://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/ibict.phpopendoar:5342018-09-06T00:00Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell) - Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (PUC-RIO)false
dc.title.none.fl_str_mv [en] DYNAMIC LINEAR MODEL OF HARRISON & STEVENS APPLIED TO STATISTICAL PROCESS CONTROL AUTOCORRELATED
[pt] MODELO LINEAR DINÂMICO DE HARRISON & STEVENS APLICADO AO CONTROLE ESTATÍSTICO DE PROCESSOS AUTOCORRELACIONADOS
title [en] DYNAMIC LINEAR MODEL OF HARRISON & STEVENS APPLIED TO STATISTICAL PROCESS CONTROL AUTOCORRELATED
spellingShingle [en] DYNAMIC LINEAR MODEL OF HARRISON & STEVENS APPLIED TO STATISTICAL PROCESS CONTROL AUTOCORRELATED
ADRIANO SIQUEIRA PYLKO
[pt] CONTROLE ESTATISTICO DE PROCESSO
[pt] AUTO-CORRELACAO
[pt] MODELO LINEAR
[pt] GRAFICOS DE CONTROLE
[en] STATISTICAL PROCESS CONTROL
[en] AUTOCORRELATION
[en] LINEAR MODEL
[en] CONTROL CHARTS
title_short [en] DYNAMIC LINEAR MODEL OF HARRISON & STEVENS APPLIED TO STATISTICAL PROCESS CONTROL AUTOCORRELATED
title_full [en] DYNAMIC LINEAR MODEL OF HARRISON & STEVENS APPLIED TO STATISTICAL PROCESS CONTROL AUTOCORRELATED
title_fullStr [en] DYNAMIC LINEAR MODEL OF HARRISON & STEVENS APPLIED TO STATISTICAL PROCESS CONTROL AUTOCORRELATED
title_full_unstemmed [en] DYNAMIC LINEAR MODEL OF HARRISON & STEVENS APPLIED TO STATISTICAL PROCESS CONTROL AUTOCORRELATED
title_sort [en] DYNAMIC LINEAR MODEL OF HARRISON & STEVENS APPLIED TO STATISTICAL PROCESS CONTROL AUTOCORRELATED
author ADRIANO SIQUEIRA PYLKO
author_facet ADRIANO SIQUEIRA PYLKO
author_role author
dc.contributor.none.fl_str_mv EUGENIO KAHN EPPRECHT
dc.contributor.author.fl_str_mv ADRIANO SIQUEIRA PYLKO
dc.subject.por.fl_str_mv [pt] CONTROLE ESTATISTICO DE PROCESSO
[pt] AUTO-CORRELACAO
[pt] MODELO LINEAR
[pt] GRAFICOS DE CONTROLE
[en] STATISTICAL PROCESS CONTROL
[en] AUTOCORRELATION
[en] LINEAR MODEL
[en] CONTROL CHARTS
topic [pt] CONTROLE ESTATISTICO DE PROCESSO
[pt] AUTO-CORRELACAO
[pt] MODELO LINEAR
[pt] GRAFICOS DE CONTROLE
[en] STATISTICAL PROCESS CONTROL
[en] AUTOCORRELATION
[en] LINEAR MODEL
[en] CONTROL CHARTS
description [pt] Um dos principais problemas em manufatura é como ajustar um processo de produção que não está obtendo uma performance desejada. O intuito é fazer com que o parâmetro do processo volte a assumir um valor alvo requerido. As técnicas de controle estatístico de processo (CEP) são amplamente utilizadas na indústria para monitorar processos e, conseqüentemente, para melhoria da qualidade. Os gráficos de controle para variáveis mais freqüentemente utilizados para monitorar a média e a variabilidade do processo são os gráficos de Shewhart, os gráficos de CUSUM e os gráficos de EWMA. Porém, as considerações básicas para se utilizar um gráfico de Shewhart são que os dados gerados pelo processo sejam independentes e identicamente distribuídos (IID). Quando a hipótese de independência dos dados não é satisfeita, tais gráficos não funcionam bem, pois fornecerão resultados não confiáveis na forma de excesso de alarme falsos, ou seja, conduz a interpretações equivocadas acerca do processo e gera custos adicionais de controle. Esta tese utiliza uma formulação bayesiana, o Modelo Linear Dinâmico de Harrison & Stevens (MLD-HS) para o monitoramento da média de processos cujas observações podem ser modeladas como um processo ARMA (1,1). O Fator de Bayes acumulado foi utilizado na detecção de desvios na média de um dado processo. Posteriormente, os resultados obtidos pelo modelo proposto, que foi nomeado como MLD-CEP, são comparados aos resultados obtidos por Lu & Reynolds (2001). Os resultados obtidos pelo MLD-CEP sugerem bom desempenho na detecção de alterações na média em processos de baixo a moderadamente alto nível de autocorrelação.
publishDate 2008
dc.date.none.fl_str_mv 2008-09-09
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/other
format other
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=12173@1
https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=12173@2
http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.12173
url https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=12173@1
https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=12173@2
http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.12173
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.publisher.none.fl_str_mv MAXWELL
publisher.none.fl_str_mv MAXWELL
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell)
instname:Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (PUC-RIO)
instacron:PUC_RIO
instname_str Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (PUC-RIO)
instacron_str PUC_RIO
institution PUC_RIO
reponame_str Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell)
collection Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell)
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da PUC-RIO (Projeto Maxwell) - Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (PUC-RIO)
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1814822569063219200