Análise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnética

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Cristofoli, Luís Fernando Stiborski
Data de Publicação: 2009
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS
Texto Completo: http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/3017
Resumo: Atualmente, grande parte dos equipamentos eletrônicos utilizam circuitos síncronos que são controlados por um sinal de relógio (clock ) global. Este sinal estabelece o exato momento em que os registradores devem capturar os dados e assim, sincroniza as operações do sistema. Contudo, este tipo de circuito pode apresentar uma série de problemas como, por exemplo, grande sensibilidade ao ruído, além de apresentar altos índices de emissão eletromagnética e por conseguinte, afetar outros circuitos vizinhos com este tipo de ruído. Neste contexto, os circuitos assíncronos surgem como uma alternativa extremamente viável e interessante no que diz respeito ao projeto de sistemas intrinsicamente mais robustos ao ruído. Entretanto, o uso de circuitos assíncronos em larga escala é nitidamente limitado pela maior complexidade de projeto e principalmente pela inexistência de ferramentas CAD capazes de darem suporte a todas as fases de desenvolvimento dos mesmos e a necessidade de mudança de paradigmas por parte dos projetistas. Assim, o presente trabalho tem como principal objetivo comparar sistemas síncronos com assíncronos gerados a partir de uma dada técnica de dessincronização de forma a estabelecer a robustez associada a cada um dos circuitos. Esta técnica de dessincronização, desenvolvida em 2004 representa uma grande referência na área de projeto de circuitos assíncronos. Ela é baseada no uxo de projeto de circuitos síncronos e representa uma solução bastante simples, capaz de gerar circuitos assíncronos a partir de descrições síncronas. Além disso, esta técnica pode ser implementada através do uso de ferramentas de CAD convencionais já existentes no mercado. Finalmente, para validar a técnica de dessincronização acima mencionada, foram realizados vários experimentos de injeção de falhas através do uso de interferência eletromagn ética (EMI) irradiada e conduzida de acordo com as normas IEC 62.132-2 e IEC 61.004-29. A plataforma de ensaios utilizada foi projetada e desenvolvida pela equipe do Laboratório SiSC (Sistemas, Sinais e Computação) da PUCRS. Sobre esta plataforma, uma placa SMD com seis camadas contendo vários FPGAs e lógica de controle, duas versões distintas do processador (softcore) DLX foram mapeadas em FPGA e o programa aplicativo carregado em memória BRAM. A análise dos resultados obtidos durante os experimentos de injeção de falhas indica que a técnica proposta é capaz de gerar e cientemente circuitos assíncronos e que estes, quando expostos a EMI, são sem dúvida mais robustos do que os circuitos síncronos.
id P_RS_bbe1fe771f887bfde80b4924ea11d49e
oai_identifier_str oai:tede2.pucrs.br:tede/3017
network_acronym_str P_RS
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS
repository_id_str
spelling Vargas, Fabian LuisCPF:45411891000http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4788515U8CPF:53853318053http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4232591T2Cristofoli, Luís Fernando Stiborski2015-04-14T13:56:16Z2009-06-102009-03-31CRISTOFOLI, Luís Fernando Stiborski. Análise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnética. 2009. 152 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, 2009.http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/3017Made available in DSpace on 2015-04-14T13:56:16Z (GMT). No. of bitstreams: 1 412872.pdf: 5822459 bytes, checksum: 92433e5505b06d2b251a2d0c943d8652 (MD5) Previous issue date: 2009-03-31Atualmente, grande parte dos equipamentos eletrônicos utilizam circuitos síncronos que são controlados por um sinal de relógio (clock ) global. Este sinal estabelece o exato momento em que os registradores devem capturar os dados e assim, sincroniza as operações do sistema. Contudo, este tipo de circuito pode apresentar uma série de problemas como, por exemplo, grande sensibilidade ao ruído, além de apresentar altos índices de emissão eletromagnética e por conseguinte, afetar outros circuitos vizinhos com este tipo de ruído. Neste contexto, os circuitos assíncronos surgem como uma alternativa extremamente viável e interessante no que diz respeito ao projeto de sistemas intrinsicamente mais robustos ao ruído. Entretanto, o uso de circuitos assíncronos em larga escala é nitidamente limitado pela maior complexidade de projeto e principalmente pela inexistência de ferramentas CAD capazes de darem suporte a todas as fases de desenvolvimento dos mesmos e a necessidade de mudança de paradigmas por parte dos projetistas. Assim, o presente trabalho tem como principal objetivo comparar sistemas síncronos com assíncronos gerados a partir de uma dada técnica de dessincronização de forma a estabelecer a robustez associada a cada um dos circuitos. Esta técnica de dessincronização, desenvolvida em 2004 representa uma grande referência na área de projeto de circuitos assíncronos. Ela é baseada no uxo de projeto de circuitos síncronos e representa uma solução bastante simples, capaz de gerar circuitos assíncronos a partir de descrições síncronas. Além disso, esta técnica pode ser implementada através do uso de ferramentas de CAD convencionais já existentes no mercado. Finalmente, para validar a técnica de dessincronização acima mencionada, foram realizados vários experimentos de injeção de falhas através do uso de interferência eletromagn ética (EMI) irradiada e conduzida de acordo com as normas IEC 62.132-2 e IEC 61.004-29. A plataforma de ensaios utilizada foi projetada e desenvolvida pela equipe do Laboratório SiSC (Sistemas, Sinais e Computação) da PUCRS. Sobre esta plataforma, uma placa SMD com seis camadas contendo vários FPGAs e lógica de controle, duas versões distintas do processador (softcore) DLX foram mapeadas em FPGA e o programa aplicativo carregado em memória BRAM. A análise dos resultados obtidos durante os experimentos de injeção de falhas indica que a técnica proposta é capaz de gerar e cientemente circuitos assíncronos e que estes, quando expostos a EMI, são sem dúvida mais robustos do que os circuitos síncronos.application/pdfhttp://tede2.pucrs.br:80/tede2/retrieve/11233/412872.pdf.jpgporPontifícia Universidade Católica do Rio Grande do SulPrograma de Pós-Graduação em Engenharia ElétricaPUCRSBRFaculdade de EngenhariaENGENHARIA ELETRÔNICACIRCUITOS ASSÍNCRONOSELETROMAGNETISMOCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICAAnálise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnéticainfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesis207662918905964549500600-655770572761439785info:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RSinstname:Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (PUCRS)instacron:PUC_RSTHUMBNAIL412872.pdf.jpg412872.pdf.jpgimage/jpeg3301http://tede2.pucrs.br/tede2/bitstream/tede/3017/3/412872.pdf.jpg7f1fd788d5bbc61ef233383639a135b3MD53TEXT412872.pdf.txt412872.pdf.txttext/plain279679http://tede2.pucrs.br/tede2/bitstream/tede/3017/2/412872.pdf.txtdc3fd0b7999a61db86ca72222bf30d0aMD52ORIGINAL412872.pdfapplication/pdf5822459http://tede2.pucrs.br/tede2/bitstream/tede/3017/1/412872.pdf92433e5505b06d2b251a2d0c943d8652MD51tede/30172015-04-17 16:03:35.287oai:tede2.pucrs.br:tede/3017Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttp://tede2.pucrs.br/tede2/PRIhttps://tede2.pucrs.br/oai/requestbiblioteca.central@pucrs.br||opendoar:2015-04-17T19:03:35Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (PUCRS)false
dc.title.por.fl_str_mv Análise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnética
title Análise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnética
spellingShingle Análise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnética
Cristofoli, Luís Fernando Stiborski
ENGENHARIA ELETRÔNICA
CIRCUITOS ASSÍNCRONOS
ELETROMAGNETISMO
CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
title_short Análise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnética
title_full Análise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnética
title_fullStr Análise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnética
title_full_unstemmed Análise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnética
title_sort Análise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnética
author Cristofoli, Luís Fernando Stiborski
author_facet Cristofoli, Luís Fernando Stiborski
author_role author
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Vargas, Fabian Luis
dc.contributor.advisor1ID.fl_str_mv CPF:45411891000
dc.contributor.advisor1Lattes.fl_str_mv http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4788515U8
dc.contributor.authorID.fl_str_mv CPF:53853318053
dc.contributor.authorLattes.fl_str_mv http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4232591T2
dc.contributor.author.fl_str_mv Cristofoli, Luís Fernando Stiborski
contributor_str_mv Vargas, Fabian Luis
dc.subject.por.fl_str_mv ENGENHARIA ELETRÔNICA
CIRCUITOS ASSÍNCRONOS
ELETROMAGNETISMO
topic ENGENHARIA ELETRÔNICA
CIRCUITOS ASSÍNCRONOS
ELETROMAGNETISMO
CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
dc.subject.cnpq.fl_str_mv CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
description Atualmente, grande parte dos equipamentos eletrônicos utilizam circuitos síncronos que são controlados por um sinal de relógio (clock ) global. Este sinal estabelece o exato momento em que os registradores devem capturar os dados e assim, sincroniza as operações do sistema. Contudo, este tipo de circuito pode apresentar uma série de problemas como, por exemplo, grande sensibilidade ao ruído, além de apresentar altos índices de emissão eletromagnética e por conseguinte, afetar outros circuitos vizinhos com este tipo de ruído. Neste contexto, os circuitos assíncronos surgem como uma alternativa extremamente viável e interessante no que diz respeito ao projeto de sistemas intrinsicamente mais robustos ao ruído. Entretanto, o uso de circuitos assíncronos em larga escala é nitidamente limitado pela maior complexidade de projeto e principalmente pela inexistência de ferramentas CAD capazes de darem suporte a todas as fases de desenvolvimento dos mesmos e a necessidade de mudança de paradigmas por parte dos projetistas. Assim, o presente trabalho tem como principal objetivo comparar sistemas síncronos com assíncronos gerados a partir de uma dada técnica de dessincronização de forma a estabelecer a robustez associada a cada um dos circuitos. Esta técnica de dessincronização, desenvolvida em 2004 representa uma grande referência na área de projeto de circuitos assíncronos. Ela é baseada no uxo de projeto de circuitos síncronos e representa uma solução bastante simples, capaz de gerar circuitos assíncronos a partir de descrições síncronas. Além disso, esta técnica pode ser implementada através do uso de ferramentas de CAD convencionais já existentes no mercado. Finalmente, para validar a técnica de dessincronização acima mencionada, foram realizados vários experimentos de injeção de falhas através do uso de interferência eletromagn ética (EMI) irradiada e conduzida de acordo com as normas IEC 62.132-2 e IEC 61.004-29. A plataforma de ensaios utilizada foi projetada e desenvolvida pela equipe do Laboratório SiSC (Sistemas, Sinais e Computação) da PUCRS. Sobre esta plataforma, uma placa SMD com seis camadas contendo vários FPGAs e lógica de controle, duas versões distintas do processador (softcore) DLX foram mapeadas em FPGA e o programa aplicativo carregado em memória BRAM. A análise dos resultados obtidos durante os experimentos de injeção de falhas indica que a técnica proposta é capaz de gerar e cientemente circuitos assíncronos e que estes, quando expostos a EMI, são sem dúvida mais robustos do que os circuitos síncronos.
publishDate 2009
dc.date.available.fl_str_mv 2009-06-10
dc.date.issued.fl_str_mv 2009-03-31
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2015-04-14T13:56:16Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.citation.fl_str_mv CRISTOFOLI, Luís Fernando Stiborski. Análise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnética. 2009. 152 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, 2009.
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/3017
identifier_str_mv CRISTOFOLI, Luís Fernando Stiborski. Análise da robustez dos circuitos assíncronos em ambiente de interferência eletromagnética. 2009. 152 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, 2009.
url http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/3017
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.relation.program.fl_str_mv 207662918905964549
dc.relation.confidence.fl_str_mv 500
600
dc.relation.department.fl_str_mv -655770572761439785
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul
dc.publisher.program.fl_str_mv Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
dc.publisher.initials.fl_str_mv PUCRS
dc.publisher.country.fl_str_mv BR
dc.publisher.department.fl_str_mv Faculdade de Engenharia
publisher.none.fl_str_mv Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS
instname:Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (PUCRS)
instacron:PUC_RS
instname_str Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (PUCRS)
instacron_str PUC_RS
institution PUC_RS
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS
bitstream.url.fl_str_mv http://tede2.pucrs.br/tede2/bitstream/tede/3017/3/412872.pdf.jpg
http://tede2.pucrs.br/tede2/bitstream/tede/3017/2/412872.pdf.txt
http://tede2.pucrs.br/tede2/bitstream/tede/3017/1/412872.pdf
bitstream.checksum.fl_str_mv 7f1fd788d5bbc61ef233383639a135b3
dc3fd0b7999a61db86ca72222bf30d0a
92433e5505b06d2b251a2d0c943d8652
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (PUCRS)
repository.mail.fl_str_mv biblioteca.central@pucrs.br||
_version_ 1799765290360242176