Análise de tempos de falha em testes de vida acelerados

• Autor(a) principal: Sandrini, Beatriz
• Data de Publicação: 2017
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Científico de Acesso Aberto de Portugal (Repositórios Cientìficos)
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/10400.22/16412
• topic: Fiabilidade; Tempo até à falha; Ensaios de vida acelerados; Curvas de Kaplan-Meier; Distribuição de Weibull; Função potência inversa; Extrapolação de valores; Reliability; Time to failure; Accelerated life tests; Kaplan-Meier curves; Weibull distribution; Inverse power function; Extrapolation of values

Os testes de vida acelerados consistem na exposição de componentes/sistemas a cargas de stress de forma a reduzir o tempo de falha a níveis aceitáveis. A informação obtida sob condições aceleradas é considerada na previsão do comportamento do componente/sistema em condições normais de operação. Para relacionar os tempos obtidos em condição de stress com medidas de fiabilidade em condições normais são, frequentemente, considerados modelos físico-estatísticos. Entre os vários modelos físico-estatísticos mais populares, está o modelo Lei de Potência Inversa que se baseia na distribuição de Weibull e é indicado quando o fator de stress é a voltagem. O modelo da Lei da Potência Inversa estipula que o parâmetro de forma β da distribuição de Weibull tome o mesmo valor em todos os níveis do fator de stress. Este pressuposto possibilitará que os vários testes acelerados possam ser comparados entre si, permitindo assim a extrapolação dos parâmetros para condições de normal operação. Quando este pressuposto não é verificado é habitual considerar como estimativa para β a média das estimativas deste parâmetro em cada nível do fator. Neste trabalho é proposta outra solução para este problema, que utiliza o β mediano. As metodologias revistas, assim como as propostas são ilustradas com base num conjunto de dados real publicado na literatura.