Eletrocromismo e transporte iônico em eletrodos de filmes finos de óxidos de W, Mo e V e de seus óxidos binários

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Silva, Paulo Rogério Catarini da
Data de Publicação: 2024
Tipo de documento: Tese
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UEL
Texto Completo: https://repositorio.uel.br/handle/123456789/12479
Resumo: Resumo: Este trabalho teve como objetivo realizar um estudo das propriedades eletrocrômicas e de intercalação iônicas (Li+) em eletrodos de filmes finos de óxidos de W, Mo, V e de suas misturas binárias na composição nominal 5/5, observando possíveis efeitos de sinergia das propriedades dos óxidos monometálicos nos óxidos mistos Os filmes foram depositados por sputtering reativo e por evaporação por feixe eletrônico, e estudados na forma como-depositada e após tratamentos térmicos a 2 e 5 ºC em atmosfera de argônio Antes das caracterizações do efeito eletrocrômico e do fenômeno de intercalação foram realizadas medidas de espectroscopia óptica e difração de raios X, que identificaram como óxidos amorfizados os filmes como-depositados e tratados a 2 ºC e como policristalinos os filmes tratados 5 ºC O eletrocromismo foi analisado pelos resultados de medidas da eficiência eletrocrômica espectral (35 a 9 nm) e em 632,8 nm, pelo tempo de resposta e contraste óptico em 632,8 nm (transmitâncias máximas e mínimas) O fenômeno de intercalação foi caracterizado por medidas da capacidade de carga, do coeficiente de difusão e da energia livre de Gibbs Verificou-se que os tratamentos térmicos exercem grande influência nas propriedades eletrocrômicas e de transporte iônico dos filmes Verificou-se também que as propriedades eletrocrômicas e de intercalação nos óxidos mistos são diferentes das dos óxidos monometálicos que os compõem, com claro efeito de sinergia destas propriedades, particularmente no eletrocromismo da mistura W-V Os coeficientes de difusão dos íons Li+, medidos pelas técnicas GITT e PITT, apresentaram valores médios entre 1-1 e 1-12 cm2/s nos filmes depositados por sputtering e valores mais dispersos para os filmes evaporados por feixe eletrônico Nos óxidos contendo V verificou-se um aumento no coeficiente de difusão nos filmes policristalinos, comparado aos correspondentes filmes amorfos
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Universidade Estadual de Londrina, Centro de Ciências Exatas, Programa de Pós-Graduação em FísicaAbstract: This work aimed at studying electrochromic and ionic intercalation (Li+) properties in electrodes of thin films of W, Mo and V oxides as well as of their binary mixtures in 5/5 nominal composition, observing possible synergy effects of monometallic oxides properties in mixed oxides The films were deposited both by reactive sputtering and electron beam evaporation and studied in the as-deposited form as well as after thermal treatment at 2 and 5ºC under argonium atmosphere Besides the characterization of the electrochromic effect and intercalation phenomenon, optical spectroscopy and X-ray diffraction measurements were conducted, which identified as amorphous oxides the as-deposited films and the ones treated at 2 ºC, and as polycrystalline the films treated at 5 ºC Electrochromism was analyzed by means of spectral electrochromic efficiency measurements (35 a 9 nm) and at 6328 nm, and by response time and optical contrast in 6328 nm (maximum and minimum transmittance) The intercalation phenomenon was characterized by measurements of charge capacity, diffusion coefficient and Gibbs free energy It was verified that thermal treatments exert high influence on the electrochromic and ionic transport properties of the films It was also verified that the electrochromic and intercalation properties in mixed oxides are different from the ones in monometallic oxides that consist them, with clear synergy effect of such properties, particularly in the W-V mixture electrochromism The diffusion coefficients of Li+ ions, measured by GITT and PITT techniques, presented average values between 1-1 and 1-12 cm2/s in the films deposited by sputtering and more disperse values for films evaporated by electron beam In oxides containing V, it was verified an increase in the diffusion coefficients in polycrystalline films, in comparison with the correspondent amorphous filmsScarminio, Jair [Orientador]Urbano, AlexandreTorresi, Susana Inés CórdobaAvellaneda, César Antônio OropesaDall'Antonia, Luiz HenriqueSilva, Paulo Rogério Catarini da2024-05-01T13:55:25Z2024-05-01T13:55:25Z2011.0025.03.2011info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisapplication/pdfhttps://repositorio.uel.br/handle/123456789/12479porDoutoradoFísicaCentro de Ciências ExatasPrograma de Pós-Graduação em FísicaLondrinareponame:Repositório Institucional da UELinstname:Universidade Estadual de Londrina (UEL)instacron:UELinfo:eu-repo/semantics/openAccess2024-07-12T04:19:35Zoai:repositorio.uel.br:123456789/12479Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttp://www.bibliotecadigital.uel.br/PUBhttp://www.bibliotecadigital.uel.br/OAI/oai2.phpbcuel@uel.br||opendoar:2024-07-12T04:19:35Repositório Institucional da UEL - 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