Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2013 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ |
Texto Completo: | http://www.bdtd.uerj.br/handle/1/8001 |
Resumo: | This paper presents the energy dispersive of X-ray fluorescence ( EDXRF ) technique to calculate the thickness of thin metallic films to be relatively low-cost , non-destructive and also allows a qualitative and quantitative elements to the coating. The thicknesses of nickel , zinc and chromium on steel were calculated using five different procedures and all mathematical relationships were obtained based on Beer- Lambert attenuation law, which lists the Kα intensities and / or Kβ and unique material relations ( attenuation coefficient , μm). The experimental results for the thickness of the zinc and nickel , using only the intensity Kα, showed values close to the values estimated. When was considered the reason Kα / Kβ, experimental results diverged quite the estimate. The thickness of chrome due multiple layers (chromium, copper and nickel ), required another method in which the layers are separately calculated. The results for the thickness of the chromium has been satisfactory. |
id |
UERJ_2daf293fc97dc487acaaac6ee38d1d05 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:www.bdtd.uerj.br:1/8001 |
network_acronym_str |
UERJ |
network_name_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ |
repository_id_str |
2903 |
spelling |
Assis, Joaquim Teixeira dehttp://lattes.cnpq.br/7307238902576135Andrade, Mônica Calixto dehttp://lattes.cnpq.br/4303756562067099Pessôa, José Renato de Castrohttp://lattes.cnpq.br/7355133184082398Paschuk, Sergei Anatolyevichhttp://lattes.cnpq.br/5290164798310287Philippov, Sergeyhttp://lattes.cnpq.br/3210981099094841http://lattes.cnpq.br/1835787053751541Santos, Marcos Rogério Soares2021-01-05T18:30:21Z2014-04-072013-11-06SANTOS, Marcos Rogério Soares. Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF. 2013. 63 f. Dissertação (Mestrado em Materiais não-metálicos; Física e mecânica dos materiais) - Universidade do Estado do Rio de Janeiro, Nova Friburgo, 2013.http://www.bdtd.uerj.br/handle/1/8001This paper presents the energy dispersive of X-ray fluorescence ( EDXRF ) technique to calculate the thickness of thin metallic films to be relatively low-cost , non-destructive and also allows a qualitative and quantitative elements to the coating. The thicknesses of nickel , zinc and chromium on steel were calculated using five different procedures and all mathematical relationships were obtained based on Beer- Lambert attenuation law, which lists the Kα intensities and / or Kβ and unique material relations ( attenuation coefficient , μm). The experimental results for the thickness of the zinc and nickel , using only the intensity Kα, showed values close to the values estimated. When was considered the reason Kα / Kβ, experimental results diverged quite the estimate. The thickness of chrome due multiple layers (chromium, copper and nickel ), required another method in which the layers are separately calculated. The results for the thickness of the chromium has been satisfactory.Esse trabalho apresenta a técnica de fluorescência de raios X por dispersão de energia (EDXRF) para calcular a espessura de filmes metálicos finos por ser de custo relativamente baixo, não destrutiva e que permite também uma análise qualitativa e até quantitativa dos elementos do revestimento. As espessuras do Níquel, Zinco e Cromo sobre aço, foram calculadas utilizando cinco procedimentos diferentes e todas as relações matemáticas obtidas foram baseadas na lei de atenuação de Beer-Lambert, que relaciona as intensidades Kα e/ou Kβ e as relações específicas do material (coeficiente de atenuação, μm). Os resultados experimentais para as espessuras do Zinco e Níquel, utilizando somente a intensidade Kα, apresentaram valores próximos dos valores estimados. Quando foi considerada a razão Kα/Kβ, os resultados experimentais divergiram bastante do estimado. Para calcular a espessura do Cromo foi necessário utilizar um método em que as camadas são calculadas separadamente, pois o revestimento de Cromo é composto por múltiplas camadas (Cromo, Cobre e Níquel), Os resultados para a espessura do Cromo foram satisfatórios.Submitted by Boris Flegr (boris@uerj.br) on 2021-01-05T18:30:21Z No. of bitstreams: 1 Dissertacao_MarcosRogerioSoaresSantos.pdf: 1276824 bytes, checksum: a9ba5afd79aa92478b957e902fdfcc86 (MD5)Made available in DSpace on 2021-01-05T18:30:21Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Dissertacao_MarcosRogerioSoaresSantos.pdf: 1276824 bytes, checksum: a9ba5afd79aa92478b957e902fdfcc86 (MD5) Previous issue date: 2013-11-06Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superiorapplication/pdfporUniversidade do Estado do Rio de JaneiroPrograma de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia de MateriaisUERJBRCentro de Tecnologia e Ciências::Instituto PolitécnicoEDXRFGalvanoplastyThickness Thin FilmsEDXRFGalvanoplastiaEspessura de revestimento metálicoFilmes metálicosEletrodeposiçãoFluorescencia de raio XCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICAMedição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRFMeasurement of thickness of films electrodeposited on metal support by XRFinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJinstname:Universidade do Estado do Rio de Janeiro (UERJ)instacron:UERJORIGINALDissertacao_MarcosRogerioSoaresSantos.pdfapplication/pdf1276824http://www.bdtd.uerj.br/bitstream/1/8001/1/Dissertacao_MarcosRogerioSoaresSantos.pdfa9ba5afd79aa92478b957e902fdfcc86MD511/80012024-02-27 14:29:35.915oai:www.bdtd.uerj.br:1/8001Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttp://www.bdtd.uerj.br/PUBhttps://www.bdtd.uerj.br:8443/oai/requestbdtd.suporte@uerj.bropendoar:29032024-02-27T17:29:35Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ - Universidade do Estado do Rio de Janeiro (UERJ)false |
dc.title.por.fl_str_mv |
Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF |
dc.title.alternative.eng.fl_str_mv |
Measurement of thickness of films electrodeposited on metal support by XRF |
title |
Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF |
spellingShingle |
Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF Santos, Marcos Rogério Soares EDXRF Galvanoplasty Thickness Thin Films EDXRF Galvanoplastia Espessura de revestimento metálico Filmes metálicos Eletrodeposição Fluorescencia de raio X CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA |
title_short |
Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF |
title_full |
Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF |
title_fullStr |
Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF |
title_full_unstemmed |
Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF |
title_sort |
Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF |
author |
Santos, Marcos Rogério Soares |
author_facet |
Santos, Marcos Rogério Soares |
author_role |
author |
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv |
Assis, Joaquim Teixeira de |
dc.contributor.advisor1Lattes.fl_str_mv |
http://lattes.cnpq.br/7307238902576135 |
dc.contributor.referee1.fl_str_mv |
Andrade, Mônica Calixto de |
dc.contributor.referee1Lattes.fl_str_mv |
http://lattes.cnpq.br/4303756562067099 |
dc.contributor.referee2.fl_str_mv |
Pessôa, José Renato de Castro |
dc.contributor.referee2Lattes.fl_str_mv |
http://lattes.cnpq.br/7355133184082398 |
dc.contributor.referee3.fl_str_mv |
Paschuk, Sergei Anatolyevich |
dc.contributor.referee3Lattes.fl_str_mv |
http://lattes.cnpq.br/5290164798310287 |
dc.contributor.referee4.fl_str_mv |
Philippov, Sergey |
dc.contributor.referee4Lattes.fl_str_mv |
http://lattes.cnpq.br/3210981099094841 |
dc.contributor.authorLattes.fl_str_mv |
http://lattes.cnpq.br/1835787053751541 |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
Santos, Marcos Rogério Soares |
contributor_str_mv |
Assis, Joaquim Teixeira de Andrade, Mônica Calixto de Pessôa, José Renato de Castro Paschuk, Sergei Anatolyevich Philippov, Sergey |
dc.subject.eng.fl_str_mv |
EDXRF Galvanoplasty Thickness Thin Films |
topic |
EDXRF Galvanoplasty Thickness Thin Films EDXRF Galvanoplastia Espessura de revestimento metálico Filmes metálicos Eletrodeposição Fluorescencia de raio X CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA |
dc.subject.por.fl_str_mv |
EDXRF Galvanoplastia Espessura de revestimento metálico Filmes metálicos Eletrodeposição Fluorescencia de raio X |
dc.subject.cnpq.fl_str_mv |
CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA |
description |
This paper presents the energy dispersive of X-ray fluorescence ( EDXRF ) technique to calculate the thickness of thin metallic films to be relatively low-cost , non-destructive and also allows a qualitative and quantitative elements to the coating. The thicknesses of nickel , zinc and chromium on steel were calculated using five different procedures and all mathematical relationships were obtained based on Beer- Lambert attenuation law, which lists the Kα intensities and / or Kβ and unique material relations ( attenuation coefficient , μm). The experimental results for the thickness of the zinc and nickel , using only the intensity Kα, showed values close to the values estimated. When was considered the reason Kα / Kβ, experimental results diverged quite the estimate. The thickness of chrome due multiple layers (chromium, copper and nickel ), required another method in which the layers are separately calculated. The results for the thickness of the chromium has been satisfactory. |
publishDate |
2013 |
dc.date.issued.fl_str_mv |
2013-11-06 |
dc.date.available.fl_str_mv |
2014-04-07 |
dc.date.accessioned.fl_str_mv |
2021-01-05T18:30:21Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/masterThesis |
format |
masterThesis |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.citation.fl_str_mv |
SANTOS, Marcos Rogério Soares. Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF. 2013. 63 f. Dissertação (Mestrado em Materiais não-metálicos; Física e mecânica dos materiais) - Universidade do Estado do Rio de Janeiro, Nova Friburgo, 2013. |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
http://www.bdtd.uerj.br/handle/1/8001 |
identifier_str_mv |
SANTOS, Marcos Rogério Soares. Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF. 2013. 63 f. Dissertação (Mestrado em Materiais não-metálicos; Física e mecânica dos materiais) - Universidade do Estado do Rio de Janeiro, Nova Friburgo, 2013. |
url |
http://www.bdtd.uerj.br/handle/1/8001 |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
Universidade do Estado do Rio de Janeiro |
dc.publisher.program.fl_str_mv |
Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia de Materiais |
dc.publisher.initials.fl_str_mv |
UERJ |
dc.publisher.country.fl_str_mv |
BR |
dc.publisher.department.fl_str_mv |
Centro de Tecnologia e Ciências::Instituto Politécnico |
publisher.none.fl_str_mv |
Universidade do Estado do Rio de Janeiro |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ instname:Universidade do Estado do Rio de Janeiro (UERJ) instacron:UERJ |
instname_str |
Universidade do Estado do Rio de Janeiro (UERJ) |
instacron_str |
UERJ |
institution |
UERJ |
reponame_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ |
collection |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ |
bitstream.url.fl_str_mv |
http://www.bdtd.uerj.br/bitstream/1/8001/1/Dissertacao_MarcosRogerioSoaresSantos.pdf |
bitstream.checksum.fl_str_mv |
a9ba5afd79aa92478b957e902fdfcc86 |
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv |
MD5 |
repository.name.fl_str_mv |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ - Universidade do Estado do Rio de Janeiro (UERJ) |
repository.mail.fl_str_mv |
bdtd.suporte@uerj.br |
_version_ |
1811728632634146816 |