Efeito do reuso sobre as características de superfície e da composição química de instrumentos de NiTi

• Autor(a) principal: Bastos, Mariana Mena Barreto
• Data de Publicação: 2016
• Outros Autores: http://lattes.cnpq.br/4304572491064683
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFAM
• Texto Completo: http://tede.ufam.edu.br/handle/tede/5023
• topic: Endodontia; Instrumentos odontológicos; Microscopia; Endodontics; Dental instruments; Microscopy; CIÊNCIAS DA SAÚDE: ODONTOLOGIA

Instrumentos endodônticos de NiTi foram analisados por meio de um Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) acoplado a um Espectômetro de Raio X por Energia Dispersiva (EDAX), antes e após o uso, com o objetivo de avaliar a presença de defeitos, deformações e analisar a sua composição química. Para isso, trinta instrumentos foram separados em 3 grupos, 10 limas ProTaper Next®X1(PNX1), 10 limas ProTaper Next®X2 (PNX2) e 10 limas WoveOne® (WO), as quais foram Elétromicrografados com aumento de 250 vezes, na região da ponta, 2mm e a 4mm da ponta. Os instrumentos foram utilizados no preparo de 60 blocos de canais simulados fabricados em resina poliéster. Inicialmente foi realizado o cateterismo com lima tipo K #10 e no comprimento de trabalho (CT), seguido pela instrumentação de acordo com cada grupo. Grupo 1: 10 blocos de canais simulados foram instrumentados com o sistema ProTaper Next®, utilizando a lima X1 para instrumentação do terço cervical e médio e a X2 para o terço apical. O grupo 2: 10 blocos foram instrumentados com a lima Primary 25.08 do sistema WaveOne® de acordo com as recomendações do fabricante. Os instrumentos foram utilizados primeiramente 1 vez e depois reutilizados 2 vezes, sempre em canais simulados novos. A limas foram lavadas em cuba ultrassônica e submetidas a nova análise microscópica pelo MEV e EDAX. Em seguida, as elétromicrografias foram tomadas na ponta do instrumento, a 2mm e a 4mm da ponta, com aumento de 250X. Para estabelecimento dos scores foram observados a presença de bordas irregulares, ranhuras, microcavidades e rebarbas. Cada instrumento quando comparados entre si no mesmo comprimento durante os três tempos de utilização não apresentaram diferença estatística em relação ao aumento dos defeitos (p>0,05). Em relação aos escores, a análise estatística dos resultados evidenciou que somente as limas WO apresentaram maior número de defeitos e deformações no comprimento de 4mm, nos 3 tempos de avaliação do estudo (p< 0.05). Foi observado na análise dos elementos químicos que as limas PNX1 apresentaram perdas significativas de Ni quando comparada as médias antes do uso e após a terceira utilização (p<0,01); nas limas PNX2 e WO houve perda significativa de Ni nos três tempos do uso (p<0,01). Em relação ao Ti, nas limas PNX1 não houve perda significativa ao longo do uso (p>0,05), porém, nas limas PNX2 apresentou perda significativa entre antes e a primeira instrumentação e entre o primeiro e terceiro uso (p<0,01). Nas limas WO, houve perda significativa quando comparamos antes e após a primeira utilização e antes com o terceiro uso. Assim, o reuso demonstrou que os instrumentos apresentaram todos os defeitos e deformações em algum comprimento e momento da pesquisa porém não aumentaram conforme o uso. Ocorreu perda apenas de Ni nas limas ProTaper Next® X1 após o uso e nas limas ProTaper Next® X2 e WaveOne® houve perda de Ni e Ti após as 3 utilizações.