Aplicações do Método de Rietveld na petrografia de rochas kimberlíticas

• Autor(a) principal: Nascimento, Matheus Andrade
• Data de Publicação: 2021
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UFBA
• Texto Completo: https://repositorio.ufba.br/handle/ri/34757
• topic: CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::GEOCIENCIAS::GEOLOGIA::PETROLOGIA; CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::GEOCIENCIAS::GEOLOGIA::METALOGENIA; CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::GEOCIENCIAS::GEOLOGIA::PROSPECCAO MINERAL; Rietveld, Método de; Difratometria de raios X; Rochas kimberlito; Rochas ígneas; Rietveld, Method of; X-ray diffractometry; Kimberlite rocks; Igneous rocks

A análise qualitativa através da difração de raios X se iniciou a partir de estudos de William H.Bragg, que observou que este fenômeno, causado quando um feixe de raios X monocromáticos incide sobre um material cristalino, ocorre o fenômeno da difração que pode ser utilizado para a identificação mineralógica. Assim, para analisar as fases cristalinas que estão presentes em um material pulverizado analisado, é feito um difratograma, que é um gráfico de intensidade observada em relação ao ângulo de espalhamento. Com o difratograma são calculados os picos de máxima intensidade. O método de Rietveld foi criado em 1969 por Hugo M. Rietveld, foi inicialmente idealizado por Hugo. M Rietveld, foi inicialmente idealizado para o refinamento da interpretação de dados dos difratogramas gerados a partir da difração de nêutrons e posteriormente aplicado a difração de raios X. O método permite calcular o difratograma ponto a ponto de uma determinada amostra através de um algoritmo com um padrão difratométrico adequado à fase que se pretende estudar, aplicando para isto o método matemático dos mínimos quadrados. Assim, comparando os picos experimentais obtidos na amostra desconhecida e o padrão de pontos calculados é possível se identificar e obter os valores das dimensões da célula unitária. Alguns destes valores podem ser encontrados em artigos que reportam estruturas similares. O estudo petrográfico clássico em kimberlitos é dificultado pela presença da mineralogia exótica, xenólitos, xenocristais, e minerais de origem mantélica pouco conhecidos. Além disto a geoquímica destas rochas, com riqueza de voláteis, favorece os processos tardios de serpentinização, carbonatização e oxidação, transformando as rochas expostas em superfície e impossibilitando muitas vezes a correta identificação das fases minerais presentes na amostra. Por estes motivos, o refinamento das análises por difratometria de raios X através do método de Rietveld é uma poderosa ferramenta na interpretação petrográfica de rochas de mineralogia exótica e alterada. Tais informações são essenciais para uma melhor compreensão da natureza e gênese deste importante prospecto mineral. Este estudo tem o objetivo de aplicar o método de quantificação de Rietveld através de análises por difratometria de raios X no método do pó-total para ampliar o entendimento sobre a petrografia do Lamproíto Aroeira. Para isso foi utilizado o software que DIFRAC.TOPPAS no laboratório de tecnologia mineral de raios X (LAPAG- UFBA). A metodologia de trabalho desenvolvida neste estudo focou na seleção de duas amostras representativas do Lamproíto Aroeira. Estas duas amostras foram laminadas em três direções ortogonais, obtendo-se assim 6 lâminas polido-delgadas e 6 tabletes destas mesmas frações, os quais foram moídos e geraram o pó analisado por DRX. Assim, o estudo da petrografia juntamente com o a aplicação do método de Rietveld no seu respectivo pó trouxe uma confiabilidade maior as descrições petrograficas e a identificação de fases exóticas e serpentinizadas.