Filtros de amostragem na frequência no processo de identificação de sistemas.

• Autor(a) principal: VIEIRA, Isabela Sales.
• Data de Publicação: 2005
• Tipo de documento: Trabalho de conclusão de curso
• Idioma: por
• Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCG
• Texto Completo: http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17205
• topic: Identificação de sistemas; Frequency Sampling Filter; Modelo FSF - Frequency Sampling Filter; Sistemas de controle; Módulo Peltier; Processo de identificação de sistemas; Filtro de amostragem na frequência – modelo FSF; Systems identification; Control system; Peltier Module; System identification process; Frequency sampling filter - FSF model; Engenharia Elétrica.

O objetivo deste trabalho e apresentar os resultados do estudo sobre a identificação de sistemas a partir do modelo FSF - Frequency Sampling Filter. Em sistemas de controle, a identificação de sistemas e fundamental para o projeto dos controladores. Em muitos casos, não se tem informações suficientes sobre o sistema que se deseja controlar, seja por não se conhecer as propriedades físicas do sistema, ou pelo fato de se ter um modelo muito complexo. Nestas situações, a identificação de sistemas e uma ferramenta muito importante para o projetista de sistemas de controle. Diversas técnicas podem ser utilizadas no processo de identificação de sistemas, entre elas, a técnica baseada no modelo FSF - Frequency Sampling Filter. O modelo FSF e um modelo no domínio da frequência, composto por filtros de amostragem na frequência. Neste trabalho, serão apresentadas as características do modelo FSF e as principais vantagens da sua utilização no processo de identificação de sistemas.