Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL.
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2007 |
Tipo de documento: | Trabalho de conclusão de curso |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCG |
Texto Completo: | http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17350 |
Resumo: | Neste trabalho será apresentado um estado da arte das técnicas de tolerância a falha, principalmente os trabalhos que tiveram como motivação a questão dos defeitos/falhas ligados ao processo de escalonamento dos dispositivos CMOS e sera apresentado os resultados de um estudo de caso baseado na aplicação de arquiteturas tolerantes a falha de um sistema de aquisição de dados de um sensor de temperatura embarcado. Pode-se distinguir basicamente duas linhas de abordagem ao problema de falhas em circuitos: mascaramento de erros e detecção e correção de erros. Nos propomos aqui a implementar uma técnica de cada uma das linhas citadas, a TMR (Triple Modular Redundancy) dentro da proposta de mascaramento de erros e uso de códigos de Hamming na de detecção e correção de erros, para que sejam avaliadas as vantagens e desvantagens de cada método no contexto da aplicação escolhida. |
id |
UFCG_f60ba997fbead1e1642e0a48a976589c |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:localhost:riufcg/17350 |
network_acronym_str |
UFCG |
network_name_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCG |
repository_id_str |
4851 |
spelling |
Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL.Case study for the description of fault tolerance techniques in VHDL.Falha em VHDLNanoeletrônicaTolerância à falhaTécnicas de tolerância a falhaAbordagem de mascaramentos de erros - TMRAbordagem de detecção e correção de errosCódigos de HammingDetecção e correção de erros - sistema elétricoVHDL failureNanoelectronicsFault toleranceFault tolerance techniquesError masking approach - TMRError detection and correction approachHamming codesError detection and correction - electrical systemEngenharia Elétrica.Neste trabalho será apresentado um estado da arte das técnicas de tolerância a falha, principalmente os trabalhos que tiveram como motivação a questão dos defeitos/falhas ligados ao processo de escalonamento dos dispositivos CMOS e sera apresentado os resultados de um estudo de caso baseado na aplicação de arquiteturas tolerantes a falha de um sistema de aquisição de dados de um sensor de temperatura embarcado. Pode-se distinguir basicamente duas linhas de abordagem ao problema de falhas em circuitos: mascaramento de erros e detecção e correção de erros. Nos propomos aqui a implementar uma técnica de cada uma das linhas citadas, a TMR (Triple Modular Redundancy) dentro da proposta de mascaramento de erros e uso de códigos de Hamming na de detecção e correção de erros, para que sejam avaliadas as vantagens e desvantagens de cada método no contexto da aplicação escolhida.Universidade Federal de Campina GrandeBrasilCentro de Engenharia Elétrica e Informática - CEEIUFCGTURNELL, Maria de Fátima Queiroz Vieira.TURNELL, M. F. Q. V.http://lattes.cnpq.br/1459797138770378VASCONCELOS, Maí Correia Rabelo de.2007-04-102021-02-23T18:44:14Z2021-03-232021-02-23T18:44:14Zinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/bachelorThesishttp://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17350VASCONCELOS, Maí Correia Rabelo de. Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. 2007. f35. Curso de Bacharelado em Engenharia Elétrica, Centro de Engenharia Elétrica e Informática , Universidade Federal de Campina Grande – Paraíba Brasil, 2007. Disponível em:http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17350porinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCGinstname:Universidade Federal de Campina Grande (UFCG)instacron:UFCG2021-02-23T18:45:10Zoai:localhost:riufcg/17350Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttp://bdtd.ufcg.edu.br/PUBhttp://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/oai/requestbdtd@setor.ufcg.edu.br || bdtd@setor.ufcg.edu.bropendoar:48512021-02-23T18:45:10Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCG - Universidade Federal de Campina Grande (UFCG)false |
dc.title.none.fl_str_mv |
Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. Case study for the description of fault tolerance techniques in VHDL. |
title |
Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. |
spellingShingle |
Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. VASCONCELOS, Maí Correia Rabelo de. Falha em VHDL Nanoeletrônica Tolerância à falha Técnicas de tolerância a falha Abordagem de mascaramentos de erros - TMR Abordagem de detecção e correção de erros Códigos de Hamming Detecção e correção de erros - sistema elétrico VHDL failure Nanoelectronics Fault tolerance Fault tolerance techniques Error masking approach - TMR Error detection and correction approach Hamming codes Error detection and correction - electrical system Engenharia Elétrica. |
title_short |
Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. |
title_full |
Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. |
title_fullStr |
Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. |
title_full_unstemmed |
Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. |
title_sort |
Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. |
author |
VASCONCELOS, Maí Correia Rabelo de. |
author_facet |
VASCONCELOS, Maí Correia Rabelo de. |
author_role |
author |
dc.contributor.none.fl_str_mv |
TURNELL, Maria de Fátima Queiroz Vieira. TURNELL, M. F. Q. V. http://lattes.cnpq.br/1459797138770378 |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
VASCONCELOS, Maí Correia Rabelo de. |
dc.subject.por.fl_str_mv |
Falha em VHDL Nanoeletrônica Tolerância à falha Técnicas de tolerância a falha Abordagem de mascaramentos de erros - TMR Abordagem de detecção e correção de erros Códigos de Hamming Detecção e correção de erros - sistema elétrico VHDL failure Nanoelectronics Fault tolerance Fault tolerance techniques Error masking approach - TMR Error detection and correction approach Hamming codes Error detection and correction - electrical system Engenharia Elétrica. |
topic |
Falha em VHDL Nanoeletrônica Tolerância à falha Técnicas de tolerância a falha Abordagem de mascaramentos de erros - TMR Abordagem de detecção e correção de erros Códigos de Hamming Detecção e correção de erros - sistema elétrico VHDL failure Nanoelectronics Fault tolerance Fault tolerance techniques Error masking approach - TMR Error detection and correction approach Hamming codes Error detection and correction - electrical system Engenharia Elétrica. |
description |
Neste trabalho será apresentado um estado da arte das técnicas de tolerância a falha, principalmente os trabalhos que tiveram como motivação a questão dos defeitos/falhas ligados ao processo de escalonamento dos dispositivos CMOS e sera apresentado os resultados de um estudo de caso baseado na aplicação de arquiteturas tolerantes a falha de um sistema de aquisição de dados de um sensor de temperatura embarcado. Pode-se distinguir basicamente duas linhas de abordagem ao problema de falhas em circuitos: mascaramento de erros e detecção e correção de erros. Nos propomos aqui a implementar uma técnica de cada uma das linhas citadas, a TMR (Triple Modular Redundancy) dentro da proposta de mascaramento de erros e uso de códigos de Hamming na de detecção e correção de erros, para que sejam avaliadas as vantagens e desvantagens de cada método no contexto da aplicação escolhida. |
publishDate |
2007 |
dc.date.none.fl_str_mv |
2007-04-10 2021-02-23T18:44:14Z 2021-03-23 2021-02-23T18:44:14Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/bachelorThesis |
format |
bachelorThesis |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17350 VASCONCELOS, Maí Correia Rabelo de. Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. 2007. f35. Curso de Bacharelado em Engenharia Elétrica, Centro de Engenharia Elétrica e Informática , Universidade Federal de Campina Grande – Paraíba Brasil, 2007. Disponível em:http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17350 |
url |
http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17350 |
identifier_str_mv |
VASCONCELOS, Maí Correia Rabelo de. Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. 2007. f35. Curso de Bacharelado em Engenharia Elétrica, Centro de Engenharia Elétrica e Informática , Universidade Federal de Campina Grande – Paraíba Brasil, 2007. Disponível em:http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17350 |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
Universidade Federal de Campina Grande Brasil Centro de Engenharia Elétrica e Informática - CEEI UFCG |
publisher.none.fl_str_mv |
Universidade Federal de Campina Grande Brasil Centro de Engenharia Elétrica e Informática - CEEI UFCG |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCG instname:Universidade Federal de Campina Grande (UFCG) instacron:UFCG |
instname_str |
Universidade Federal de Campina Grande (UFCG) |
instacron_str |
UFCG |
institution |
UFCG |
reponame_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCG |
collection |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCG |
repository.name.fl_str_mv |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCG - Universidade Federal de Campina Grande (UFCG) |
repository.mail.fl_str_mv |
bdtd@setor.ufcg.edu.br || bdtd@setor.ufcg.edu.br |
_version_ |
1809744480059785216 |