Medidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis utilizando o método de Abelès
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2013 |
Outros Autores: | , , |
Tipo de documento: | Artigo |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Repositório Institucional da UFJF |
Texto Completo: | http://dx.doi.org/10.1590/S1806-11172013000300032 https://repositorio.ufjf.br/jspui/handle/ufjf/8099 |
Resumo: | Fotorresina positiva AZ-1518 é um exemplo de material fotossensível amplamente usado em processos litográficos em microeletrônica e em óptica para fabricação de componente de relevo. Esta fotorresina é formada pelo composto fotoativo (PAC) e de uma matriz, que é uma resina espessa denominada novolak. Quando exposta à radiação ultravioleta, reações químicas induzidas modificam as suas propriedades físicas e químicas. Filmes finos homogêneos desses materiais fotossensíveis foram preparados sobre substratos de vidro. Este trabalho tem como objetivo medir o índice de refração dos filmes, não expostos e expostos à radiação ultravioleta, utilizando o método Abelès. A partir das medidas das variações do índice de refração dos filmes fotossensíveis é possível obter a medida da taxa de decaimento do composto fotoativo (PAC) por unidade de intensidade. Medidas desta taxa fornecem indicações importantes da cinética química microscópica desses materiais fotossensíveis. Os resultados mostram que a precisão do método é suficiente para medir as variações do índice de refração desses tipos de materiais fotossensíveis. |
id |
UFJF_a3ee77ffb221388462a1c3aed00f29ad |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:hermes.cpd.ufjf.br:ufjf/8099 |
network_acronym_str |
UFJF |
network_name_str |
Repositório Institucional da UFJF |
repository_id_str |
|
spelling |
2018-11-29T10:19:30Z2018-11-262018-11-29T10:19:30Z2013-0735337033703http://dx.doi.org/10.1590/S1806-11172013000300032https://repositorio.ufjf.br/jspui/handle/ufjf/8099Fotorresina positiva AZ-1518 é um exemplo de material fotossensível amplamente usado em processos litográficos em microeletrônica e em óptica para fabricação de componente de relevo. Esta fotorresina é formada pelo composto fotoativo (PAC) e de uma matriz, que é uma resina espessa denominada novolak. Quando exposta à radiação ultravioleta, reações químicas induzidas modificam as suas propriedades físicas e químicas. Filmes finos homogêneos desses materiais fotossensíveis foram preparados sobre substratos de vidro. Este trabalho tem como objetivo medir o índice de refração dos filmes, não expostos e expostos à radiação ultravioleta, utilizando o método Abelès. A partir das medidas das variações do índice de refração dos filmes fotossensíveis é possível obter a medida da taxa de decaimento do composto fotoativo (PAC) por unidade de intensidade. Medidas desta taxa fornecem indicações importantes da cinética química microscópica desses materiais fotossensíveis. Os resultados mostram que a precisão do método é suficiente para medir as variações do índice de refração desses tipos de materiais fotossensíveis.Positive AZ-1518 photoresist are examples of photosensitive materials widely used in lithographic processes in microelectronics and optic for component relief manufacturing. This photoresist is composed of the photoactive compound (PAC) and the matrix material, which is a thick resin called novolak. When exposed to ultraviolet radiation induced chemical reactions modify their chemical and physical properties. Homogeneous thin films of these photosensitive materials were prepared on glass substrates. This work aims to measure the refractive index of films, exposed and unexposed to ultraviolet radiation, using the Abelès method. From the refractive index changes measurements in photosensitive films would be possible to obtain the fractional rate of decay of photoactive compound (PAC) per unit of intensity. Measurements of this rate provide important indications of microscopic chemical kinetics of photosensitive materials. The results show that the accuracy of the method is sufficient to measure the refractive index changes of these photosensitive materials type.por--BrasilRevista Brasileira de Ensino de Física-Fotorresinas positivasMétodo de AbelèsFilmes finosRadiação ultravioletaPositive photoresistAbelès methodThin filmsUltraviolet radiationMedidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis utilizando o método de AbelèsRefractive index measurements of photosensitives materials using Abelès methodinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/articleMartins, J.S.René, P.S.Pinho, R.R.Lima, C.R.A.info:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFJFinstname:Universidade Federal de Juiz de Fora (UFJF)instacron:UFJFTHUMBNAILMedidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis.pdf.jpgMedidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1470https://repositorio.ufjf.br/jspui/bitstream/ufjf/8099/4/Medidas%20dos%20%c3%adndices%20de%20refra%c3%a7%c3%a3o%20de%20materiais%20fotossens%c3%adveis.pdf.jpga7d02db74aac60e61b07410afab04f98MD54ORIGINALMedidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis.pdfMedidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis.pdfapplication/pdf965519https://repositorio.ufjf.br/jspui/bitstream/ufjf/8099/1/Medidas%20dos%20%c3%adndices%20de%20refra%c3%a7%c3%a3o%20de%20materiais%20fotossens%c3%adveis.pdf777c3996fd10f4110de96901c8727f97MD51LICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-82197https://repositorio.ufjf.br/jspui/bitstream/ufjf/8099/2/license.txt000e18a5aee6ca21bb5811ddf55fc37bMD52TEXTMedidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis.pdf.txtMedidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis.pdf.txtExtracted texttext/plain19609https://repositorio.ufjf.br/jspui/bitstream/ufjf/8099/3/Medidas%20dos%20%c3%adndices%20de%20refra%c3%a7%c3%a3o%20de%20materiais%20fotossens%c3%adveis.pdf.txtd5ddcba4a6106ecfe372fc4228faffb0MD53ufjf/80992019-06-16 09:41:39.385oai:hermes.cpd.ufjf.br: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Repositório InstitucionalPUBhttps://repositorio.ufjf.br/oai/requestopendoar:2019-06-16T12:41:39Repositório Institucional da UFJF - Universidade Federal de Juiz de Fora (UFJF)false |
dc.title.pt_BR.fl_str_mv |
Medidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis utilizando o método de Abelès |
dc.title.alternative.pt_BR.fl_str_mv |
Refractive index measurements of photosensitives materials using Abelès method |
title |
Medidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis utilizando o método de Abelès |
spellingShingle |
Medidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis utilizando o método de Abelès Martins, J.S. - Fotorresinas positivas Método de Abelès Filmes finos Radiação ultravioleta Positive photoresist Abelès method Thin films Ultraviolet radiation |
title_short |
Medidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis utilizando o método de Abelès |
title_full |
Medidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis utilizando o método de Abelès |
title_fullStr |
Medidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis utilizando o método de Abelès |
title_full_unstemmed |
Medidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis utilizando o método de Abelès |
title_sort |
Medidas dos índices de refração de materiais fotossensíveis utilizando o método de Abelès |
author |
Martins, J.S. |
author_facet |
Martins, J.S. René, P.S. Pinho, R.R. Lima, C.R.A. |
author_role |
author |
author2 |
René, P.S. Pinho, R.R. Lima, C.R.A. |
author2_role |
author author author |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
Martins, J.S. René, P.S. Pinho, R.R. Lima, C.R.A. |
dc.subject.cnpq.fl_str_mv |
- |
topic |
- Fotorresinas positivas Método de Abelès Filmes finos Radiação ultravioleta Positive photoresist Abelès method Thin films Ultraviolet radiation |
dc.subject.por.fl_str_mv |
Fotorresinas positivas Método de Abelès Filmes finos Radiação ultravioleta Positive photoresist Abelès method Thin films Ultraviolet radiation |
description |
Fotorresina positiva AZ-1518 é um exemplo de material fotossensível amplamente usado em processos litográficos em microeletrônica e em óptica para fabricação de componente de relevo. Esta fotorresina é formada pelo composto fotoativo (PAC) e de uma matriz, que é uma resina espessa denominada novolak. Quando exposta à radiação ultravioleta, reações químicas induzidas modificam as suas propriedades físicas e químicas. Filmes finos homogêneos desses materiais fotossensíveis foram preparados sobre substratos de vidro. Este trabalho tem como objetivo medir o índice de refração dos filmes, não expostos e expostos à radiação ultravioleta, utilizando o método Abelès. A partir das medidas das variações do índice de refração dos filmes fotossensíveis é possível obter a medida da taxa de decaimento do composto fotoativo (PAC) por unidade de intensidade. Medidas desta taxa fornecem indicações importantes da cinética química microscópica desses materiais fotossensíveis. Os resultados mostram que a precisão do método é suficiente para medir as variações do índice de refração desses tipos de materiais fotossensíveis. |
publishDate |
2013 |
dc.date.issued.fl_str_mv |
2013-07 |
dc.date.accessioned.fl_str_mv |
2018-11-29T10:19:30Z |
dc.date.available.fl_str_mv |
2018-11-26 2018-11-29T10:19:30Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/article |
format |
article |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
https://repositorio.ufjf.br/jspui/handle/ufjf/8099 |
dc.identifier.doi.pt_BR.fl_str_mv |
http://dx.doi.org/10.1590/S1806-11172013000300032 |
url |
http://dx.doi.org/10.1590/S1806-11172013000300032 https://repositorio.ufjf.br/jspui/handle/ufjf/8099 |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.relation.ispartof.pt_BR.fl_str_mv |
Revista Brasileira de Ensino de Física |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
- |
dc.publisher.initials.fl_str_mv |
- |
dc.publisher.country.fl_str_mv |
Brasil |
publisher.none.fl_str_mv |
- |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Repositório Institucional da UFJF instname:Universidade Federal de Juiz de Fora (UFJF) instacron:UFJF |
instname_str |
Universidade Federal de Juiz de Fora (UFJF) |
instacron_str |
UFJF |
institution |
UFJF |
reponame_str |
Repositório Institucional da UFJF |
collection |
Repositório Institucional da UFJF |
bitstream.url.fl_str_mv |
https://repositorio.ufjf.br/jspui/bitstream/ufjf/8099/4/Medidas%20dos%20%c3%adndices%20de%20refra%c3%a7%c3%a3o%20de%20materiais%20fotossens%c3%adveis.pdf.jpg https://repositorio.ufjf.br/jspui/bitstream/ufjf/8099/1/Medidas%20dos%20%c3%adndices%20de%20refra%c3%a7%c3%a3o%20de%20materiais%20fotossens%c3%adveis.pdf https://repositorio.ufjf.br/jspui/bitstream/ufjf/8099/2/license.txt https://repositorio.ufjf.br/jspui/bitstream/ufjf/8099/3/Medidas%20dos%20%c3%adndices%20de%20refra%c3%a7%c3%a3o%20de%20materiais%20fotossens%c3%adveis.pdf.txt |
bitstream.checksum.fl_str_mv |
a7d02db74aac60e61b07410afab04f98 777c3996fd10f4110de96901c8727f97 000e18a5aee6ca21bb5811ddf55fc37b d5ddcba4a6106ecfe372fc4228faffb0 |
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv |
MD5 MD5 MD5 MD5 |
repository.name.fl_str_mv |
Repositório Institucional da UFJF - Universidade Federal de Juiz de Fora (UFJF) |
repository.mail.fl_str_mv |
|
_version_ |
1817338519352246272 |