Estudo por microscopia/espectroscopia de tunelamento e difração de raios x da correlação entre propriedades estruturais e eletrônicas de grafeno epitaxial sobre cobre 

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Thais Chagas Peixoto Silva
Data de Publicação: 2016
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFMG
Texto Completo: http://hdl.handle.net/1843/SMRA-BBPPL8
Resumo: Neste trabalho utilizamos as técnicas de microscopia e espectroscopia de tunelamento para estabelecer conexões entre as propriedades estruturais e eletrônicas de uma amostra de grafeno epitaxial crescida sobre um substrato de cobre policristalino por deposição química na fase vapor. Em particular, foi possível correlacionar as alterações na estrutura de bandas desse material com uma deformação periódica induzida pelo substrato. As imagens de microscopia de tunelamento revelaram diretamente o casamento epitaxial entre a monocamada de grafeno e o substrato de cobre em diferentes orientações cristalográficas através de padrões de Moiré distintos. Utilizando a espectroscopia de tunelamento mostramos que a presença do substrato modifica drasticamente a densidade de estados eletrônicos do grafeno e, consequentemente, sua estrutura eletrônica de bandas. Em especial, observamos o aparecimento de uma série de picos nos diagramas de densidade de estados, para energias perto do nível de Fermi, em diversas regiões da amostra estudada. No sentido de compreender os fenômenos físicos envolvidos nas observações experimentais foram realizados cálculos através da teoria do funcional da densidade que nos permitiram a construção de um modelo fenomenológico capaz de explicar o problema. Esse modelo nos permitiu associar os estados eletrônicos preferenciais à presença de deformações periódicas reveladas pelos padrões de Moiré. Finalmente, utilizamos a técnica de difração de raios X por incidência rasante para corroborarmos o modelo estrutural proposto.
id UFMG_bd4da46f5a830604d07bb6673027f070
oai_identifier_str oai:repositorio.ufmg.br:1843/SMRA-BBPPL8
network_acronym_str UFMG
network_name_str Repositório Institucional da UFMG
repository_id_str
spelling Rogerio Magalhaes PaniagoRicardo Wagner NunesMyriano Henriques de Oliveira JuniorThais Chagas Peixoto Silva2019-08-11T00:59:52Z2019-08-11T00:59:52Z2016-03-02http://hdl.handle.net/1843/SMRA-BBPPL8Neste trabalho utilizamos as técnicas de microscopia e espectroscopia de tunelamento para estabelecer conexões entre as propriedades estruturais e eletrônicas de uma amostra de grafeno epitaxial crescida sobre um substrato de cobre policristalino por deposição química na fase vapor. Em particular, foi possível correlacionar as alterações na estrutura de bandas desse material com uma deformação periódica induzida pelo substrato. As imagens de microscopia de tunelamento revelaram diretamente o casamento epitaxial entre a monocamada de grafeno e o substrato de cobre em diferentes orientações cristalográficas através de padrões de Moiré distintos. Utilizando a espectroscopia de tunelamento mostramos que a presença do substrato modifica drasticamente a densidade de estados eletrônicos do grafeno e, consequentemente, sua estrutura eletrônica de bandas. Em especial, observamos o aparecimento de uma série de picos nos diagramas de densidade de estados, para energias perto do nível de Fermi, em diversas regiões da amostra estudada. No sentido de compreender os fenômenos físicos envolvidos nas observações experimentais foram realizados cálculos através da teoria do funcional da densidade que nos permitiram a construção de um modelo fenomenológico capaz de explicar o problema. Esse modelo nos permitiu associar os estados eletrônicos preferenciais à presença de deformações periódicas reveladas pelos padrões de Moiré. Finalmente, utilizamos a técnica de difração de raios X por incidência rasante para corroborarmos o modelo estrutural proposto.In this work we have used atomically-resolved scanning tunneling microscopy and spectroscopy to study the interplay between atomic and electronic structure of graphene formed on copper via chemical vapor deposition. In particular, we studied the interplay between strain modulation and electronic band modification induced by the substrate. Scanning tunneling microscopy directly revealed the epitaxial match between a single layer of graphene and the underlying copper substrate in different crystallographic orientations through the disclosure of different Moiré patterns. Using scanning tunneling spectroscopy we have directly measured the electronic density of states of graphene layers near the Fermi level, observing the appearance of a series of peaks in specific cases. These features were analyzed in terms of substrate-induced perturbations in the structural and electronic properties of graphene by means of atomistic models supported by density functional theory calculations. Finally, we have used grazing incidence diffraction to confirm our proposed structural model.Universidade Federal de Minas GeraisUFMGMicroscopiaTunelamento (Física)Raios X DifraçãoGrafenoEspectroscopiaestrutura eletrônicaEstudo por microscopia/espectroscopia de tunelamento e difração de raios x da correlação entre propriedades estruturais e eletrônicas de grafeno epitaxial sobre cobre info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisinfo:eu-repo/semantics/openAccessporreponame:Repositório Institucional da UFMGinstname:Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)instacron:UFMGORIGINALthaischagaspeixotosilva_diss.pdfapplication/pdf7737415https://repositorio.ufmg.br/bitstream/1843/SMRA-BBPPL8/1/thaischagaspeixotosilva_diss.pdfcc38c0eacbc95debb2eb73e8f6da7da8MD51TEXTthaischagaspeixotosilva_diss.pdf.txtthaischagaspeixotosilva_diss.pdf.txtExtracted texttext/plain200833https://repositorio.ufmg.br/bitstream/1843/SMRA-BBPPL8/2/thaischagaspeixotosilva_diss.pdf.txt899a1e6b822985e1fb0ff0b1eb5e6142MD521843/SMRA-BBPPL82019-11-14 09:05:45.328oai:repositorio.ufmg.br:1843/SMRA-BBPPL8Repositório de PublicaçõesPUBhttps://repositorio.ufmg.br/oaiopendoar:2019-11-14T12:05:45Repositório Institucional da UFMG - Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Estudo por microscopia/espectroscopia de tunelamento e difração de raios x da correlação entre propriedades estruturais e eletrônicas de grafeno epitaxial sobre cobre 
title Estudo por microscopia/espectroscopia de tunelamento e difração de raios x da correlação entre propriedades estruturais e eletrônicas de grafeno epitaxial sobre cobre 
spellingShingle Estudo por microscopia/espectroscopia de tunelamento e difração de raios x da correlação entre propriedades estruturais e eletrônicas de grafeno epitaxial sobre cobre 
Thais Chagas Peixoto Silva
Espectroscopia
estrutura eletrônica
Microscopia
Tunelamento (Física)
Raios X Difração
Grafeno
title_short Estudo por microscopia/espectroscopia de tunelamento e difração de raios x da correlação entre propriedades estruturais e eletrônicas de grafeno epitaxial sobre cobre 
title_full Estudo por microscopia/espectroscopia de tunelamento e difração de raios x da correlação entre propriedades estruturais e eletrônicas de grafeno epitaxial sobre cobre 
title_fullStr Estudo por microscopia/espectroscopia de tunelamento e difração de raios x da correlação entre propriedades estruturais e eletrônicas de grafeno epitaxial sobre cobre 
title_full_unstemmed Estudo por microscopia/espectroscopia de tunelamento e difração de raios x da correlação entre propriedades estruturais e eletrônicas de grafeno epitaxial sobre cobre 
title_sort Estudo por microscopia/espectroscopia de tunelamento e difração de raios x da correlação entre propriedades estruturais e eletrônicas de grafeno epitaxial sobre cobre 
author Thais Chagas Peixoto Silva
author_facet Thais Chagas Peixoto Silva
author_role author
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Rogerio Magalhaes Paniago
dc.contributor.referee1.fl_str_mv Ricardo Wagner Nunes
dc.contributor.referee2.fl_str_mv Myriano Henriques de Oliveira Junior
dc.contributor.author.fl_str_mv Thais Chagas Peixoto Silva
contributor_str_mv Rogerio Magalhaes Paniago
Ricardo Wagner Nunes
Myriano Henriques de Oliveira Junior
dc.subject.por.fl_str_mv Espectroscopia
estrutura eletrônica
topic Espectroscopia
estrutura eletrônica
Microscopia
Tunelamento (Física)
Raios X Difração
Grafeno
dc.subject.other.pt_BR.fl_str_mv Microscopia
Tunelamento (Física)
Raios X Difração
Grafeno
description Neste trabalho utilizamos as técnicas de microscopia e espectroscopia de tunelamento para estabelecer conexões entre as propriedades estruturais e eletrônicas de uma amostra de grafeno epitaxial crescida sobre um substrato de cobre policristalino por deposição química na fase vapor. Em particular, foi possível correlacionar as alterações na estrutura de bandas desse material com uma deformação periódica induzida pelo substrato. As imagens de microscopia de tunelamento revelaram diretamente o casamento epitaxial entre a monocamada de grafeno e o substrato de cobre em diferentes orientações cristalográficas através de padrões de Moiré distintos. Utilizando a espectroscopia de tunelamento mostramos que a presença do substrato modifica drasticamente a densidade de estados eletrônicos do grafeno e, consequentemente, sua estrutura eletrônica de bandas. Em especial, observamos o aparecimento de uma série de picos nos diagramas de densidade de estados, para energias perto do nível de Fermi, em diversas regiões da amostra estudada. No sentido de compreender os fenômenos físicos envolvidos nas observações experimentais foram realizados cálculos através da teoria do funcional da densidade que nos permitiram a construção de um modelo fenomenológico capaz de explicar o problema. Esse modelo nos permitiu associar os estados eletrônicos preferenciais à presença de deformações periódicas reveladas pelos padrões de Moiré. Finalmente, utilizamos a técnica de difração de raios X por incidência rasante para corroborarmos o modelo estrutural proposto.
publishDate 2016
dc.date.issued.fl_str_mv 2016-03-02
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2019-08-11T00:59:52Z
dc.date.available.fl_str_mv 2019-08-11T00:59:52Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/1843/SMRA-BBPPL8
url http://hdl.handle.net/1843/SMRA-BBPPL8
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal de Minas Gerais
dc.publisher.initials.fl_str_mv UFMG
publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal de Minas Gerais
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da UFMG
instname:Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
instacron:UFMG
instname_str Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
instacron_str UFMG
institution UFMG
reponame_str Repositório Institucional da UFMG
collection Repositório Institucional da UFMG
bitstream.url.fl_str_mv https://repositorio.ufmg.br/bitstream/1843/SMRA-BBPPL8/1/thaischagaspeixotosilva_diss.pdf
https://repositorio.ufmg.br/bitstream/1843/SMRA-BBPPL8/2/thaischagaspeixotosilva_diss.pdf.txt
bitstream.checksum.fl_str_mv cc38c0eacbc95debb2eb73e8f6da7da8
899a1e6b822985e1fb0ff0b1eb5e6142
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da UFMG - Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1803589367033233408