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Karla BalzuweitEdmar Avellar SoaresEdmar Avellar SoaresLuciano Andrey MontoroRogerio Magalhaes PaniagoThais Milagres de Oliveira2019-08-12T15:56:50Z2019-08-12T15:56:50Z2015-12-14http://hdl.handle.net/1843/BUBD-A96GSYA microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução permite a determinação da estrutura cristalina de materiais. Hoje em dia existem pelo menos duas abordagens: a difração de elétrons similar à difração de raios-X e a determinação da estrutura através reconstrução por série focal de imagens de microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução. Adicionalmente, a microscopia eletrônica de transmissão e varredura de alta resolução (STEM), aliada a espectroscopia de perda de energia de elétrons (EELS) em microscópios de ultra alta resolução com corretores de aberração esférica e monocromador tem mostrado bons resultados em diversos casos. Contudo, a interpretação e quantificação de imagens de alta resolução é complexa, devido à forte interação do feixe de elétrons com a matéria. Além disto, a função de onda emitida pela amostra é modificada pelos componentes do microscópio. As imagens de microscopia de alta resolução são uma convolução da função de onda do feixe incidente difratada pela amostra com a função de onda do microscópio, de forma que cada contraste observado na imagem representa um efeito de interferência. Para realizar esse estudo foram utilizados dois materiais, o Silício, que é bem conhecido na literatura e o Telureto de Bismuto, um material termoelétrico e com propriedades de isolante topológico. O objetivo principal é estudar e aplicar a técnica de reconstrução por série focal no telureto de bismuto para num futuro próximo determinar estrutura atômica em ligas de telureto de bismuto intercaladas com estanho, selênio e outros elementos.High-resolution transmission electron microscopy is turning into a very powerful technique in crystal structure determination. Nowadays there are at least two different approaches: electron diffraction, similar to X-ray diffraction and structure determination by through focal series reconstruction of high-resolution transmission electron microscopy images. Additionally, scanning transmission electron microscopy (STEM), with electron energy loss spectroscopy (EELS) in high-resolution transmission electron microscopes with aberration correctors and monochromator have shown good results in many cases. However, high-resolution images interpretation and quantification is complex, due to strong radiation-matter interaction. Besides, the samples exit wave is modified by the microscope, so the contrast observed in the image represents an interference effect and cannot be interpreted directly. To perform this research two materials were used, Silicon, which is well known in the literature and Bismuth Telluride, a thermoelectric material and topological insulator. The main aim of this research is establish the focal series reconstruction procedure for bismuth telluride and in the near future try to determine the atomic positions of intercalated bismuth telluride with tin, selenium and other elements.Universidade Federal de Minas GeraisUFMGEstanhoSilicioSelenioTelureto de BismutoMicroscopia eletronica Tecnicasreconstrução por série focal (técnica)BismutoNão contémReconstrução por série focal do Telureto de Bismuto utilizando microscopia eletrônica de transmissão de alta resoluçãoinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisinfo:eu-repo/semantics/openAccessporreponame:Repositório Institucional da UFMGinstname:Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)instacron:UFMGORIGINALdissertacao_thais_milagres_de_oliveira.pdfapplication/pdf23323106https://repositorio.ufmg.br/bitstream/1843/BUBD-A96GSY/1/dissertacao_thais_milagres_de_oliveira.pdf499052c6088c833b02c0a6bb2fd97b8fMD51TEXTdissertacao_thais_milagres_de_oliveira.pdf.txtdissertacao_thais_milagres_de_oliveira.pdf.txtExtracted texttext/plain169396https://repositorio.ufmg.br/bitstream/1843/BUBD-A96GSY/2/dissertacao_thais_milagres_de_oliveira.pdf.txt33640a7afe49c7bf1288f19e394f8ec0MD521843/BUBD-A96GSY2019-11-14 18:29:28.941oai:repositorio.ufmg.br:1843/BUBD-A96GSYRepositório InstitucionalPUBhttps://repositorio.ufmg.br/oaiopendoar:2019-11-14T21:29:28Repositório Institucional da UFMG - Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)false
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