Autodetecção da condição de Bragg em detector de raios X e sua aplicação em retrodifração

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Hönnicke, Marcelo Gonçalves
Data de Publicação: 2002
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFPR
Texto Completo: https://hdl.handle.net/1884/41529
Resumo: Orientador: Irineu Mazzaro
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spelling Universidade Federal do Paraná. Setor de Ciências Exatas. Programa de Pós-Graduação em FísicaMazzaro, Irineu, 1953-Hönnicke, Marcelo Gonçalves2024-03-20T13:34:17Z2024-03-20T13:34:17Z2002https://hdl.handle.net/1884/41529Orientador: Irineu MazzaroDissertação (mestrado) - Universidade Federal do Paraná, Setor de Ciências Exatas, Programa de Pós-Graduação em FísicaResumo: Quando Raios x são detectados utilizando detectores de estado solido monocristalinos (Ge, Si, CdTe, etc.), um plano de Bragg deste detector pode estar na condição de difração para o comprimento de onda do feixe incidente sobre ele. Em uma primeira aproximação, a energia que esta sendo difratada (feixe h) e subtraída da intensidade detectada, transformando o cristal em detector e difrator, simultaneamente. Neste trabalho um detector diodo PIN de Si, com os planos (111) paralelos a superfície do cristal, foi utilizado para mostrar este efeito medindo-se a intensidade de um feixe de Raios x monocromático quando o cristal detector esta fora e na condição de Bragg da família dos planos (111) para o comprimento de onda incidente. Em um difratômetro de duplo cristal no arranjo nao dispersivo (+,-), um monocristal Si(l 11) foi utilizado como primeiro cristal (monocromador) e o cristal do detector diodo PIN como segundo cristal utilizando CuKai. Girando angularmente o segundo cristal, que e o detector, a intensidade que estava sendo detectada diminuía ate 50% quando o feixe incidente estava na condição de Bragg para os planos (111) do detector. Este efeito foi utilizado para desenvolver uma nova técnica para detectar o feixe h quando o angulo de difracao e exatamente 90°, ou seja, quando o feixe difratado esta exatamente sobre o feixe incidente. Então, um monocromador 4-cristais Si (220) foi utilizado para selecionar, da radiação branca do tubo de Raios x, o comprimento de onda correto para o cristal detector satisfazer a condição X= 2 d3 3 3 , que e a condição perfeita para retrodifração dos planos (333) do detector de Si. A taxa de contagem diminuiu quando o cristal detector foi girado angularmente em tomo de 90°. Este e um método alternativo ao método do detector semitransparente usado ate agora para detectar exatamente o feixe h retrodifratado.Abstract: When X-rays are detected with single crystal solid state detectors (Ge, Si, CdTe, etc.) a Bragg plane of this detector crystal may, eventually, be in diffracting condition for the wavelength of the incident beam. In a first aproach, the energy that is then being diffracted (hbeam) is subtracted from the detected intensity converting the crystal in a self-detecting diffractor. In this work a PIN-diode Si detector, with (111) planes parallel to the crystal surface, was used to show this effect by measuring the intensity of a monochromatic X-rays beam when the detecting crystal is in and out of the Bragg condition for those planes and for the incident wavelength. In a double-crystal diffractometer in the non-dispersive setting (+,-), a perfect (111) single crystal was used as first crystal (monochromator) and the crystal of the PIN diode detector as the second crystal, with CuKai radiation. Rocking the second crystal, that is, the detector, the intensity that was being detected decreased by as much as 50% when the incident beam was in Bragg condition for the (111) planes of the detector. This effect was used to develop a new technique to detect the h-beam when the diffraction angle is exactly 90 degrees, that is, when the diffracted beam is coincident with the incident beam. So, in a dispersive set-up, a Si (220) 4-crystal monochromator was used to select from the tube white radiation the correct wavelength for the crystal of the detector to fulfill the condition X= 2 d3 3 3 , that is, perfect back diffraction condition for the (333) planes of the silicon detector. The counting rate decreased when the detector crystal was rocked through the 90° Bragg angle. This is an alternative method to the semitransparent detector method used until now to detect the exactly backdiffracted h-beam.89 f. : il., grafs.application/pdfDisponível em formato digitalRaios X - DifracaoDetectoresSemicondutoresFísicaAutodetecção da condição de Bragg em detector de raios X e sua aplicação em retrodifraçãoinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisporreponame:Repositório Institucional da UFPRinstname:Universidade Federal do Paraná (UFPR)instacron:UFPRinfo:eu-repo/semantics/openAccessORIGINALD - MARCELO GONCALVES HONNICKE.pdfapplication/pdf5672286https://acervodigital.ufpr.br/bitstream/1884/41529/1/D%20-%20MARCELO%20GONCALVES%20HONNICKE.pdf8fa3ac6d7a38bc938f0cb2c767759838MD51open access1884/415292024-03-20 10:34:17.612open accessoai:acervodigital.ufpr.br:1884/41529Repositório de PublicaçõesPUBhttp://acervodigital.ufpr.br/oai/requestopendoar:3082024-03-20T13:34:17Repositório Institucional da UFPR - Universidade Federal do Paraná (UFPR)false
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