Análise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantes

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Martins, Vera Lúcia Milani
Data de Publicação: 2010
Outros Autores: Werner, Liane
Tipo de documento: Artigo
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/29221
Resumo: A análise de dados de garantia é uma importante fonte de informação para descrever o comportamento dos tempos de falha. Cada produto possui um desempenho único ao ser iniciado o seu uso. O presente trabalho aborda uma modelagem não paramétrica para as falhas ao longo do calendário de alto-falantes, tipo subwoofer com 550 Wrms de potência, item considerado como não reparável. A modelagem das falhas é apresentada conforme duas formas de organização dos dados: a) falhas ao longo do calendário no período de garantia para tamanho de amostras diferentes e b) falhas ao longo do calendário no período de garantia para tamanho de amostras iguais, as estimativas de sobrevivência são geradas através do estimador de Kaplan-Meier. Os resultados mostram que há diferença signifi cativa entre as curvas geradas, e que para cada idade de falha, a curva que melhor representou as falhas é a estimada com tamanhos de amostras iguais.
id UFRGS-2_1488a99267ab7bf0a46c9b90cad63d44
oai_identifier_str oai:www.lume.ufrgs.br:10183/29221
network_acronym_str UFRGS-2
network_name_str Repositório Institucional da UFRGS
repository_id_str
spelling Martins, Vera Lúcia MilaniWerner, Liane2011-05-28T06:00:45Z20101516-3660http://hdl.handle.net/10183/29221000764298A análise de dados de garantia é uma importante fonte de informação para descrever o comportamento dos tempos de falha. Cada produto possui um desempenho único ao ser iniciado o seu uso. O presente trabalho aborda uma modelagem não paramétrica para as falhas ao longo do calendário de alto-falantes, tipo subwoofer com 550 Wrms de potência, item considerado como não reparável. A modelagem das falhas é apresentada conforme duas formas de organização dos dados: a) falhas ao longo do calendário no período de garantia para tamanho de amostras diferentes e b) falhas ao longo do calendário no período de garantia para tamanho de amostras iguais, as estimativas de sobrevivência são geradas através do estimador de Kaplan-Meier. Os resultados mostram que há diferença signifi cativa entre as curvas geradas, e que para cada idade de falha, a curva que melhor representou as falhas é a estimada com tamanhos de amostras iguais.The data analysis of products within warranty time is very important to describe the period of failure throughout the calendar of the product. Every product has its own and unique behavior since the start of its use. This paper deals with non-parametric modeling for failures throughout the calendar of subwoofer loudspeakers with 550 Wrms power, an item considered irreparable. The modeling of these failures is presented in two forms to organize the data: a) Failure throughout the calendar within the warranty time, making use of a different quantity for each sample; b) Failure throughout the calendar within the warranty time, making use of the same quantity for each sample. The estimated lifetime is generated by the Kaplan-Meier’s estimating. The results show a signifi cant difference among the generated curves. For each failure time, the best representative failure curve is the one estimated with the same quantity for each sample.application/pdfporProduto & produção. Porto Alegre. Vol. 11, n. 3 (out. 2010), p. 7-18Estatística não-paramétricaInferencia nao parametricaReliabilityLoudspeakersKaplan-MeierAnálise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantesinfo:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/otherinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000764298.pdf000764298.pdfTexto completoapplication/pdf844530http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/29221/1/000764298.pdf5c914dd2f9b98c97d495fd7768cb89bcMD51TEXT000764298.pdf.txt000764298.pdf.txtExtracted Texttext/plain47300http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/29221/2/000764298.pdf.txtceb3a0cc4ff32a61fde00c0601d42cc1MD52THUMBNAIL000764298.pdf.jpg000764298.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1926http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/29221/3/000764298.pdf.jpg79b192b027481adad1fb249282ce0659MD5310183/292212018-10-09 09:17:08.979oai:www.lume.ufrgs.br:10183/29221Repositório de PublicaçõesPUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestopendoar:2018-10-09T12:17:08Repositório Institucional da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Análise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantes
title Análise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantes
spellingShingle Análise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantes
Martins, Vera Lúcia Milani
Estatística não-paramétrica
Inferencia nao parametrica
Reliability
Loudspeakers
Kaplan-Meier
title_short Análise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantes
title_full Análise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantes
title_fullStr Análise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantes
title_full_unstemmed Análise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantes
title_sort Análise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantes
author Martins, Vera Lúcia Milani
author_facet Martins, Vera Lúcia Milani
Werner, Liane
author_role author
author2 Werner, Liane
author2_role author
dc.contributor.author.fl_str_mv Martins, Vera Lúcia Milani
Werner, Liane
dc.subject.por.fl_str_mv Estatística não-paramétrica
Inferencia nao parametrica
topic Estatística não-paramétrica
Inferencia nao parametrica
Reliability
Loudspeakers
Kaplan-Meier
dc.subject.eng.fl_str_mv Reliability
Loudspeakers
Kaplan-Meier
description A análise de dados de garantia é uma importante fonte de informação para descrever o comportamento dos tempos de falha. Cada produto possui um desempenho único ao ser iniciado o seu uso. O presente trabalho aborda uma modelagem não paramétrica para as falhas ao longo do calendário de alto-falantes, tipo subwoofer com 550 Wrms de potência, item considerado como não reparável. A modelagem das falhas é apresentada conforme duas formas de organização dos dados: a) falhas ao longo do calendário no período de garantia para tamanho de amostras diferentes e b) falhas ao longo do calendário no período de garantia para tamanho de amostras iguais, as estimativas de sobrevivência são geradas através do estimador de Kaplan-Meier. Os resultados mostram que há diferença signifi cativa entre as curvas geradas, e que para cada idade de falha, a curva que melhor representou as falhas é a estimada com tamanhos de amostras iguais.
publishDate 2010
dc.date.issued.fl_str_mv 2010
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2011-05-28T06:00:45Z
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/other
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
format article
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10183/29221
dc.identifier.issn.pt_BR.fl_str_mv 1516-3660
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv 000764298
identifier_str_mv 1516-3660
000764298
url http://hdl.handle.net/10183/29221
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.relation.ispartof.pt_BR.fl_str_mv Produto & produção. Porto Alegre. Vol. 11, n. 3 (out. 2010), p. 7-18
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da UFRGS
instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
instname_str Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron_str UFRGS
institution UFRGS
reponame_str Repositório Institucional da UFRGS
collection Repositório Institucional da UFRGS
bitstream.url.fl_str_mv http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/29221/1/000764298.pdf
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/29221/2/000764298.pdf.txt
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/29221/3/000764298.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv 5c914dd2f9b98c97d495fd7768cb89bc
ceb3a0cc4ff32a61fde00c0601d42cc1
79b192b027481adad1fb249282ce0659
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1801224726553559040