Análise da influência da temperatura no auto-teste de circuitos analógicos : método baseado em osciladores

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Toson, Fabiano
Data de Publicação: 2000
Outros Autores: Cota, Erika Fernandes, Carro, Luigi, Lubaszewski, Marcelo Soares
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/81733
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