Resultados da busca por Autor

1

Geração automática de lógica aleatória utilizando a metodologia TRANCA

por Lubaszewski, Marcelo Soares

Publicado em 1990

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Dissertação

2

Le test unifié de cartes appliqué à la conception de systèmes fiables

por Lubaszewski, Marcelo Soares

Publicado em 1994

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Tese

3

SBCCI 99-XII on IC and systems design

por Lubaszewski, Marcelo Soares

Publicado em 1999

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Artigo

4

Design of self-checking fully differential circuits and boards

por Lubaszewski, Marcelo Soares

Publicado em 2000

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Artigo

5

por Lubaszewski, Marcelo Soares

Publicado em 2001

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Outros

6

A novel AES cryptographic core highly resistant to differential power analysis attacks

por Ghellar, Felipe

Publicado em 2009

Outros Autores: “...Lubaszewski, Marcelo Soares...”
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Artigo

7

Roteador a prova de falhas implementado em FPGA

por Kussler, Jader Alexandre

Publicado em 1998

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Artigo de conferência

8

Simulação de falhas em circuitos analógico-digitais

por Di Domenico, Elias Jose

Publicado em 1997

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Artigo de conferência

9

Amplificador realimentado com resistores não lineares em gate array

por Koetz, Cristiano Damasio

Publicado em 1998

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Artigo de conferência

10

A new adaptive analog test and diagnosis system

por Cota, Erika Fernandes

Publicado em 2000

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Artigo

11

A cryptography core tolerant to DFA fault attacks

por Moratelli, Carlos Roberto

Publicado em 2007

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Artigo

12

Concepção de circuitos e sistemas integrados

por Ribas, Renato Perez

Publicado em 2001

Outros Autores: “...Lubaszewski, Marcelo Soares...”
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Artigo

13

Amplificador de corrente para circuitos integrados

por Dias, Cristiano Pinto

Publicado em 1995

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Artigo de conferência

14

Detecção e tolerância a falhas em um roteador

por Cassol, Leandro José

Publicado em 1998

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Artigo de conferência

15

A cat tool for frequency-domain testing and diagnosis on analog

por Cota, Erika Fernandes

Publicado em 1997

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Artigo

16

Um método de teste utilizando uma transformação sigma-delta : sensibilidade do circuito à desvios de temperatura

por Toson, Fabiano

Publicado em 2001

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Artigo de conferência

17

A self-checking scheme to mitigate single event upset effects in SRAM-based FPAAs

por Balen, Tiago Roberto

Publicado em 2009

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Artigo

18

Reliability analysis of 0.5µm CMOS operational amplifiers under TID effects

por Cardoso, Guilherme Schwanke

Publicado em 2014

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Artigo

19

Thermal monitoring of self-checking systems

por Székely, Vladimir

Publicado em 1998

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Artigo

20

Experimentos em geração de teste para microestruturas eletro-mecânicas

por Schneider, Rafael Zandoná

Publicado em 1998

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Artigo de conferência

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