Desenvolvimento de um sistema de extracao de parametros atraves de medidas em disposiivos semicondutores integrados, controladas por microcomputador : relatorio final do projeto PADCT/sinst

• Autor(a) principal: Engel, Paulo Martins
• Data de Publicação: 1989
• Tipo de documento: Relatório
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/126693
• topic: Microeletrônica; Dispositivos semicondutores; Unidade : Medida

Neste projeto desenvolveu-se um sistema automático para aquisição ~ de medidas do tipo Capacitância-Tensão (C-V) que integra uma estação de extração de parâmetros, em desenvolvimento no Grupo de Microeletrônica do CPGCC da UFRGS. Este sistema consta de um módulo microcontrolador, de uma interface GPIB, módulos de conversão D/A e A/D, e unidades de estímulo e medidas C-V. A montagem destes módulos, juntamente com o desenvolvimento do software básico para operação do sistema, deu origem a um primeiro protótipo que serviu de meio para o teste prático do sistema. Como continuação deste trabalho planeja-se desenvolver um conjunto de programas para o controle automático das medidas e tratamento automatizado dos dados, permitindo a extração de importantes parâmetros para a caracterização de dispositivos semicondutores, em especial do tipo MOS (Metal-óxidoSemicondutor).