Plataforma de testes para caracterização elétrica de diodos Schottky integrados

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Berlitz, Carlos Augusto
Data de Publicação: 2017
Tipo de documento: Trabalho de conclusão de curso
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/169246
Resumo: A redução da tensão de alimentação dos dispositivos eletrônicos traz a necessidade do estudo de novas topologias para referências de tensão. Essas topologias buscam o uso de dispositivos normalmente alheios a esse tipo de aplicações, como diodos Schottky, encontrados usualmente em circuitos de proteção para circuitos integrados (CIs). Para esse uso é mandatório que os parâmetros de variabilidade sejam bem conhecidos e, devido a ausência de tais dados por parte da indústria, surge a necessidade do desenvolvimento de estruturas para caracterização e obtenção dos parâmetros relevantes para a aplicação. Sistemas de caracterização de dispositivos semicondutores tem em seu cerne analisadores de parâmetros, isso traz a necessidade do desenvolvimento de estruturas de integração entre estes e outros equipamentos, como câmaras térmicas para conformar o ambiente e circuitos para isolação galvânica entre o dispositivo a ser medido e o computador. Também é necessária uma estrutura de controle para automatizar e deixar mais modular o sistema de caracterização possibilitando reuso futuro em aplicações distintas. A estrutura modular desenvolvida habilita a caracterização automatizada da matriz de diodos Schottky e provê diversas possibilidades de aproveitamento futuro dessa tecnologia.
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