Estudo estrutural por microscopia eletrônica de transmissão (TEM) de amostras semicondutoras de arseneto de gálio (GAAS) implantadas com érbio

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Oliveira, Roana Melina de
Data de Publicação: 2004
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/61509
Resumo: 027
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