A influência de uma camada magneticamente macia em filmes finos que apresentam exchange bias

• Autor(a) principal: Schneider, Juliano Augusto
• Data de Publicação: 2012
• Tipo de documento: Trabalho de conclusão de curso
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/62388
• topic: Filmes finos; Ferromagnetismo; Antiferromagnetismo; Anisotropia magnética; Polarização por intercâmbio; Difração de raios X; Magnetometros

Este trabalho reúne medidas de magnetização e de difratometria de raios-x com o objetivo de realizar a caracterização magnética e estrutural de amostras magnéticas. As amostras são filmes finos compostos por IrMn (7 nm) / Ni81Fe19 (tNiFe) / Co (5 nm), depositados via desbastamento iônico onde a espessura, tNiFe, do permalloy (Ni81Fe19) foi variada entre 0 e 1,5 nm. Os filmes foram tratados termicamente durante 15 min, em uma temperatura de 210 ºC e resfriados na presença de um campo magnético. A caracterização estrutural confirma o crescimento da textura (111) no IrMn, a qual é fundamental para a observação do exchange bias. As curvas de magnetização, obtidas via AGFM das amostras como feitas, apresentam a assinatura de EB. Já nas amostras tratadas termicamente, percebemos que um efeito de EB mais significativo foi ativado. Analisando o campo de EB das amostras tratadas em função da espessura da camada de permalloy observa-se a presença de um máximo com valor de HEB significativamente maior se comparado com o da amostra sem Ni81Fe19. Este reflete um comportamento novo, em que o aumento do HEB é atribuído a um acréscimo no número de spins não-compensados na interface AF/FM provocado pela camada de permalloy.