Uso de curvas de remanência magnética em sistemas que apresentam exchange-bias

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Cichelero, Rafael
Data de Publicação: 2013
Tipo de documento: Trabalho de conclusão de curso
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/78187
Resumo: O presente estudo discute a adaptação e a elaboração de uma técnica que usa medidas de remanência magnética em sistemas que apresentam interação de troca, visando a extração de resultados referentes a interações magnéticas presentes nas amostras. Tal adaptação consiste, basicamente, na translação da origem (magnetização contra campo magnético) do sistema. O primeiro passo foi a elaboração de um software de aquisição de dados que possibilite a aplicação da técnica para esse tipo de sistema. Uma série composta por filmes finos de NiCu/IrMn foi utilizada; devido ao fato de não apresentarem deslocamento em campo, esses filmes serviram como base para verificação da rotina. Posteriormente, foram utilizados filmes de Co/Cu/IrMn as quais apresentam deslocamento em campo (EB) e, em alguns casos, assimetria em suas curvas de histerese magnética. Concluindo os passos precedentes, foi possível então avaliar interações presentes em ambos os sistemas utilizando os gráficos de Henkel e δM. Para o sistema NiCu/IrMn que apresenta laços de histerese simétricos e não-deslocados em campo, obtêm-se as curvas Mr e Md usando a t´técnica de remanência em sua forma tradicional tornando possível, de uma maneira direta, a construção dos gráficos de remanência. Devido a` diferença entre os sentidos dos campos magnéticos aplicados durante as aquisições das curvas remanência da série Co/Cu/IrMn, foi necessária a elaboração de uma nova notação. Além disso, a aplicação da t´técnica em tais amostras possibilitou a fácil visualização da assimetria direcional causada pela interação de troca. Também foi possível desenvolver novas representações gráficas, facilitando a visualização das interações magnéticas presentes.
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