Medidas de retroespalhamento de Rutherford em filmes de SiO/sub 2/ implantados com íons de Ge e Sn

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Kremer, Felipe
Data de Publicação: 2003
Outros Autores: Lopes, João Marcelo Jordão, Zawislak, Fernando Claudio
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/40368
Resumo: 395
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