Photoluminescence, photoabsorption and photoemission studies of hydrazone thin film used as hole transporting material in OLEDS

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Quirino, W.G.
Data de Publicação: 2008
Outros Autores: Legnani, C., Cremona, M., Reyes, R., Mota, Gunar Vingre da Silva, Weibel, Daniel Eduardo, Rocco, Maria Luiza Miranda
Tipo de documento: Artigo
Idioma: eng
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/24589
Resumo: A fotoluminescência de filmes finos de 1-(3-metilfenil)-1,2,3,4-tetrahidroquinolina-6-carboxialdeído-1,1’-difenilhidrazona foi monitorada em função da irradiação com luz UV. A intensidade da emissão decresce exponencialmente com o tempo de exposição, sugerindo degradação das amostras. Com o objetivo de investigar os mecanismos de degradação e determinar a estrutura eletrônica desse material orgânico usado com sucesso como camada transportadora de buracos na fabricação de diodos orgânicos emissores de luz (OLEDs), foram empregadas as técnicas de fotoabsorção e de fotoemissão nas bordas 1s do carbono e do nitrogênio bem como na banda de valência. A influência da luz solar foi simulada usando radiação síncrotron não-monocromática. Após exposição, todos os espectros apresentam um decréscimo nos sinais de fotoabsorção e de fotoemissão, que é menos acentuado na borda do carbono, apresentando, entretanto, um decréscimo drástico na borda do nitrogênio e na região de valência. O estudo sugere que a perda de nitrogênio é a principal causa para a quebra do sistema π, levando, dessa forma, à falha do dispositivo fabricado com esse composto.
id UFRGS-2_f9545bcc001244e6d97b4c9230aa1fa6
oai_identifier_str oai:www.lume.ufrgs.br:10183/24589
network_acronym_str UFRGS-2
network_name_str Repositório Institucional da UFRGS
repository_id_str
spelling Quirino, W.G.Legnani, C.Cremona, M.Reyes, R.Mota, Gunar Vingre da SilvaWeibel, Daniel EduardoRocco, Maria Luiza Miranda2010-07-13T04:19:06Z20080103-5053http://hdl.handle.net/10183/24589000661570A fotoluminescência de filmes finos de 1-(3-metilfenil)-1,2,3,4-tetrahidroquinolina-6-carboxialdeído-1,1’-difenilhidrazona foi monitorada em função da irradiação com luz UV. A intensidade da emissão decresce exponencialmente com o tempo de exposição, sugerindo degradação das amostras. Com o objetivo de investigar os mecanismos de degradação e determinar a estrutura eletrônica desse material orgânico usado com sucesso como camada transportadora de buracos na fabricação de diodos orgânicos emissores de luz (OLEDs), foram empregadas as técnicas de fotoabsorção e de fotoemissão nas bordas 1s do carbono e do nitrogênio bem como na banda de valência. A influência da luz solar foi simulada usando radiação síncrotron não-monocromática. Após exposição, todos os espectros apresentam um decréscimo nos sinais de fotoabsorção e de fotoemissão, que é menos acentuado na borda do carbono, apresentando, entretanto, um decréscimo drástico na borda do nitrogênio e na região de valência. O estudo sugere que a perda de nitrogênio é a principal causa para a quebra do sistema π, levando, dessa forma, à falha do dispositivo fabricado com esse composto.Photoluminescence (PL) emission of 1-(3-methylphenyl)-1,2,3,4-tetrahydroquinoline-6-carboxyaldehyde-1,1’-diphenylhydrazone (MTCD) thin films was monitored as a function of UV irradiation, and it was found to decrease exponentially with the exposure time. In order to gain insight into the degradation mechanisms and evaluate the electronic structure of this organic material used with good results as hole transporting layer (HTL) in the fabrication of organic light emitting diodes (OLEDs), synchrotron radiation-based photoabsorption and photoemission techniques at the carbon and nitrogen 1s edges as well as at the valence band were employed. The influence of sunlight was simulated using non-monochromatized synchrotron radiation. After exposure all the spectra show a decrease of the photoabsorption and photoemission signals, however, while it is less accentuated at the carbon edge, at the nitrogen edge and at the valence region it decreases drastically. The loss of nitrogen is suggested to be the main step in the disruption of the π system, leading to the failure of the devices fabricated with this compound as hole transporting layer.application/pdfengJournal of the Brazilian Chemical Society. São Paulo. Vol. 19, n. 5 (2008), p. 872-876FotoluminescênciaSemicondutoresPhotoluminescencePhotoabsorptionPhotoemissionMTCDOLED degradationPhotoluminescence, photoabsorption and photoemission studies of hydrazone thin film used as hole transporting material in OLEDSinfo:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/otherinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSTEXT000661570.pdf.txt000661570.pdf.txtExtracted Texttext/plain16424http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/24589/2/000661570.pdf.txtcda28c4796d593d0de4d7c73e479500aMD52ORIGINAL000661570.pdf000661570.pdfTexto completo (inglês)application/pdf270878http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/24589/1/000661570.pdfe8c595055b9a9ea23ffd9365026c49e0MD51THUMBNAIL000661570.pdf.jpg000661570.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1750http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/24589/3/000661570.pdf.jpg2d3c77f9197b83c9f48270c2b40da357MD5310183/245892018-10-09 08:21:29.652oai:www.lume.ufrgs.br:10183/24589Repositório InstitucionalPUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.bropendoar:2018-10-09T11:21:29Repositório Institucional da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Photoluminescence, photoabsorption and photoemission studies of hydrazone thin film used as hole transporting material in OLEDS
title Photoluminescence, photoabsorption and photoemission studies of hydrazone thin film used as hole transporting material in OLEDS
spellingShingle Photoluminescence, photoabsorption and photoemission studies of hydrazone thin film used as hole transporting material in OLEDS
Quirino, W.G.
Fotoluminescência
Semicondutores
Photoluminescence
Photoabsorption
Photoemission
MTCD
OLED degradation
title_short Photoluminescence, photoabsorption and photoemission studies of hydrazone thin film used as hole transporting material in OLEDS
title_full Photoluminescence, photoabsorption and photoemission studies of hydrazone thin film used as hole transporting material in OLEDS
title_fullStr Photoluminescence, photoabsorption and photoemission studies of hydrazone thin film used as hole transporting material in OLEDS
title_full_unstemmed Photoluminescence, photoabsorption and photoemission studies of hydrazone thin film used as hole transporting material in OLEDS
title_sort Photoluminescence, photoabsorption and photoemission studies of hydrazone thin film used as hole transporting material in OLEDS
author Quirino, W.G.
author_facet Quirino, W.G.
Legnani, C.
Cremona, M.
Reyes, R.
Mota, Gunar Vingre da Silva
Weibel, Daniel Eduardo
Rocco, Maria Luiza Miranda
author_role author
author2 Legnani, C.
Cremona, M.
Reyes, R.
Mota, Gunar Vingre da Silva
Weibel, Daniel Eduardo
Rocco, Maria Luiza Miranda
author2_role author
author
author
author
author
author
dc.contributor.author.fl_str_mv Quirino, W.G.
Legnani, C.
Cremona, M.
Reyes, R.
Mota, Gunar Vingre da Silva
Weibel, Daniel Eduardo
Rocco, Maria Luiza Miranda
dc.subject.por.fl_str_mv Fotoluminescência
Semicondutores
topic Fotoluminescência
Semicondutores
Photoluminescence
Photoabsorption
Photoemission
MTCD
OLED degradation
dc.subject.eng.fl_str_mv Photoluminescence
Photoabsorption
Photoemission
MTCD
OLED degradation
description A fotoluminescência de filmes finos de 1-(3-metilfenil)-1,2,3,4-tetrahidroquinolina-6-carboxialdeído-1,1’-difenilhidrazona foi monitorada em função da irradiação com luz UV. A intensidade da emissão decresce exponencialmente com o tempo de exposição, sugerindo degradação das amostras. Com o objetivo de investigar os mecanismos de degradação e determinar a estrutura eletrônica desse material orgânico usado com sucesso como camada transportadora de buracos na fabricação de diodos orgânicos emissores de luz (OLEDs), foram empregadas as técnicas de fotoabsorção e de fotoemissão nas bordas 1s do carbono e do nitrogênio bem como na banda de valência. A influência da luz solar foi simulada usando radiação síncrotron não-monocromática. Após exposição, todos os espectros apresentam um decréscimo nos sinais de fotoabsorção e de fotoemissão, que é menos acentuado na borda do carbono, apresentando, entretanto, um decréscimo drástico na borda do nitrogênio e na região de valência. O estudo sugere que a perda de nitrogênio é a principal causa para a quebra do sistema π, levando, dessa forma, à falha do dispositivo fabricado com esse composto.
publishDate 2008
dc.date.issued.fl_str_mv 2008
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2010-07-13T04:19:06Z
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/other
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
format article
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10183/24589
dc.identifier.issn.pt_BR.fl_str_mv 0103-5053
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv 000661570
identifier_str_mv 0103-5053
000661570
url http://hdl.handle.net/10183/24589
dc.language.iso.fl_str_mv eng
language eng
dc.relation.ispartof.pt_BR.fl_str_mv Journal of the Brazilian Chemical Society. São Paulo. Vol. 19, n. 5 (2008), p. 872-876
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da UFRGS
instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
instname_str Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron_str UFRGS
institution UFRGS
reponame_str Repositório Institucional da UFRGS
collection Repositório Institucional da UFRGS
bitstream.url.fl_str_mv http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/24589/2/000661570.pdf.txt
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/24589/1/000661570.pdf
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/24589/3/000661570.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv cda28c4796d593d0de4d7c73e479500a
e8c595055b9a9ea23ffd9365026c49e0
2d3c77f9197b83c9f48270c2b40da357
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
repository.mail.fl_str_mv lume@ufrgs.br
_version_ 1824427066599145472

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