Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Morais, Antonio Higor Freire de
Data de Publicação: 2009
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRN
Texto Completo: https://repositorio.ufrn.br/jspui/handle/123456789/15284
Resumo: The semiconductor technologies evolutions leads devices to be developed with higher processing capability. Thus, those components have been used widely in more fields. Many industrial environment such as: oils, mines, automotives and hospitals are frequently using those devices on theirs process. Those industries activities are direct related to environment and health safe. So, it is quite important that those systems have extra safe features yield more reliability, safe and availability. The reference model eOSI that will be presented by this work is aimed to allow the development of systems under a new view perspective which can improve and make simpler the choice of strategies for fault tolerant. As a way to validate the model na architecture FPGA-based was developed.
id UFRN_caaf19dc337f41f2727c98fa0a708f1f
oai_identifier_str oai:https://repositorio.ufrn.br:123456789/15284
network_acronym_str UFRN
network_name_str Repositório Institucional da UFRN
repository_id_str
spelling Morais, Antonio Higor Freire dehttp://lattes.cnpq.br/7568055799308361http://lattes.cnpq.br/0050402182466103Guerreiro, Ana Maria Guimarãeshttp://lattes.cnpq.br/8556144121380013Brandão, Gláucio Bezerra2014-12-17T14:55:35Z2009-09-172014-12-17T14:55:35Z2009-07-17MORAIS, Antonio Higor Freire de. Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas. 2009. 112 f. Dissertação (Mestrado em Automação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicações) - Universidade Federal do Rio Grande do Norte, Natal, 2009.https://repositorio.ufrn.br/jspui/handle/123456789/15284The semiconductor technologies evolutions leads devices to be developed with higher processing capability. Thus, those components have been used widely in more fields. Many industrial environment such as: oils, mines, automotives and hospitals are frequently using those devices on theirs process. Those industries activities are direct related to environment and health safe. So, it is quite important that those systems have extra safe features yield more reliability, safe and availability. The reference model eOSI that will be presented by this work is aimed to allow the development of systems under a new view perspective which can improve and make simpler the choice of strategies for fault tolerant. As a way to validate the model na architecture FPGA-based was developed.A evolução das tecnologias em semicondutores possibilita que dispositivos sejam desenvolvidos cada vez mais com uma maior capacidade de processamento. Neste sentido, estes componentes passam a ter sua utilização ampliada para um maior campo de atuação. Ambientes da indústria petroleira, mineração, automotivos e hospitalares são exemplos de setores que estão utilizando tais dispositivos com maior frequência em seus processos. As atividades que são desenvolvidas por estas indústrias estão diretamente envolvidas com a segurança ambiental e a saúde daqueles que nela trabalham. Desta forma, torna-se mister a utilização de sistemas que sejam dotados de características de segurança extra que possam conferir a estes sistemas maior confiabilidade, segurança e disponibilidade. O modelo de referencia eOSI que será apresentado por esta Dissertação tem por objetivo permitir que estes sistemas sejam desenvolvidos sob uma nova perspectiva que facilite a escolha das estratégias de tolerância a falha a serem empregadas na aplicação. Como forma de validar a utilização deste modelo será apresentada uma arquitetura de suporte que foi desenvolvida em FPGA com base neste modelo.application/pdfporUniversidade Federal do Rio Grande do NortePrograma de Pós-Graduação em Engenharia ElétricaUFRNBRAutomação e Sistemas; Engenharia de Computação; TelecomunicaçõesTolerância a falhaSistemas embarcadosFPGAFault TolerantEmbedded SystemsFPGA.CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICAEosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhasinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFRNinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Norte (UFRN)instacron:UFRNORIGINALAntonioHFM.pdfapplication/pdf1206372https://repositorio.ufrn.br/bitstream/123456789/15284/1/AntonioHFM.pdf7e767b645dc802c79b12255cbcef962fMD51TEXTAntonioHFM.pdf.txtAntonioHFM.pdf.txtExtracted texttext/plain182892https://repositorio.ufrn.br/bitstream/123456789/15284/6/AntonioHFM.pdf.txtf3fe0a8058e10bc4c4517e3b554d6d74MD56THUMBNAILAntonioHFM.pdf.jpgAntonioHFM.pdf.jpgIM Thumbnailimage/jpeg4921https://repositorio.ufrn.br/bitstream/123456789/15284/7/AntonioHFM.pdf.jpg8b5d23a4374ba4083553fc704d070f6cMD57123456789/152842017-11-02 08:26:02.55oai:https://repositorio.ufrn.br:123456789/15284Repositório de PublicaçõesPUBhttp://repositorio.ufrn.br/oai/opendoar:2017-11-02T11:26:02Repositório Institucional da UFRN - Universidade Federal do Rio Grande do Norte (UFRN)false
dc.title.por.fl_str_mv Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas
title Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas
spellingShingle Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas
Morais, Antonio Higor Freire de
Tolerância a falha
Sistemas embarcados
FPGA
Fault Tolerant
Embedded Systems
FPGA.
CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
title_short Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas
title_full Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas
title_fullStr Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas
title_full_unstemmed Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas
title_sort Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas
author Morais, Antonio Higor Freire de
author_facet Morais, Antonio Higor Freire de
author_role author
dc.contributor.authorID.por.fl_str_mv
dc.contributor.authorLattes.por.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/7568055799308361
dc.contributor.advisorID.por.fl_str_mv
dc.contributor.advisorLattes.por.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/0050402182466103
dc.contributor.advisor-co1ID.por.fl_str_mv
dc.contributor.author.fl_str_mv Morais, Antonio Higor Freire de
dc.contributor.advisor-co1.fl_str_mv Guerreiro, Ana Maria Guimarães
dc.contributor.advisor-co1Lattes.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/8556144121380013
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Brandão, Gláucio Bezerra
contributor_str_mv Guerreiro, Ana Maria Guimarães
Brandão, Gláucio Bezerra
dc.subject.por.fl_str_mv Tolerância a falha
Sistemas embarcados
FPGA
topic Tolerância a falha
Sistemas embarcados
FPGA
Fault Tolerant
Embedded Systems
FPGA.
CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
dc.subject.eng.fl_str_mv Fault Tolerant
Embedded Systems
FPGA.
dc.subject.cnpq.fl_str_mv CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
description The semiconductor technologies evolutions leads devices to be developed with higher processing capability. Thus, those components have been used widely in more fields. Many industrial environment such as: oils, mines, automotives and hospitals are frequently using those devices on theirs process. Those industries activities are direct related to environment and health safe. So, it is quite important that those systems have extra safe features yield more reliability, safe and availability. The reference model eOSI that will be presented by this work is aimed to allow the development of systems under a new view perspective which can improve and make simpler the choice of strategies for fault tolerant. As a way to validate the model na architecture FPGA-based was developed.
publishDate 2009
dc.date.available.fl_str_mv 2009-09-17
2014-12-17T14:55:35Z
dc.date.issued.fl_str_mv 2009-07-17
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2014-12-17T14:55:35Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.citation.fl_str_mv MORAIS, Antonio Higor Freire de. Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas. 2009. 112 f. Dissertação (Mestrado em Automação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicações) - Universidade Federal do Rio Grande do Norte, Natal, 2009.
dc.identifier.uri.fl_str_mv https://repositorio.ufrn.br/jspui/handle/123456789/15284
identifier_str_mv MORAIS, Antonio Higor Freire de. Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas. 2009. 112 f. Dissertação (Mestrado em Automação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicações) - Universidade Federal do Rio Grande do Norte, Natal, 2009.
url https://repositorio.ufrn.br/jspui/handle/123456789/15284
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal do Rio Grande do Norte
dc.publisher.program.fl_str_mv Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
dc.publisher.initials.fl_str_mv UFRN
dc.publisher.country.fl_str_mv BR
dc.publisher.department.fl_str_mv Automação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicações
publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal do Rio Grande do Norte
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da UFRN
instname:Universidade Federal do Rio Grande do Norte (UFRN)
instacron:UFRN
instname_str Universidade Federal do Rio Grande do Norte (UFRN)
instacron_str UFRN
institution UFRN
reponame_str Repositório Institucional da UFRN
collection Repositório Institucional da UFRN
bitstream.url.fl_str_mv https://repositorio.ufrn.br/bitstream/123456789/15284/1/AntonioHFM.pdf
https://repositorio.ufrn.br/bitstream/123456789/15284/6/AntonioHFM.pdf.txt
https://repositorio.ufrn.br/bitstream/123456789/15284/7/AntonioHFM.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv 7e767b645dc802c79b12255cbcef962f
f3fe0a8058e10bc4c4517e3b554d6d74
8b5d23a4374ba4083553fc704d070f6c
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da UFRN - Universidade Federal do Rio Grande do Norte (UFRN)
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1814832742536314880

Registros relacionados