IVM: uma metodologia de verificação funcional interoperável, iterativa e incremental

• Autor(a) principal: Prado, Bruno Otávio Piedade
• Data de Publicação: 2009
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UFS
• Texto Completo: https://ri.ufs.br/handle/riufs/1672
• topic: SoC; Sistemas digitais; Verificação funcional; Cobertura funcional; OVM; VeriSC; Digital systems; Functional verification; Functional coverage

A crescente demanda por produtos eletrônicos e a capacidade cada vez maior de integração criaram sistemas extremamente complexos em chips, conhecidos como Systemon-Chip ou SoC. Seguindo em sentido oposto a esta tendência, os prazos (time-to-market) para que estes sistemas sejam construídos vem continuamente sendo reduzidos, obrigando que muito mais funcionalidades sejam implementadas em períodos cada vez menores de tempo. A necessidade de um maior controle de qualidade do produto final demanda a atividade de Verificação Funcional que consiste em utilizar um conjuntos de técnicas para estimular o sistema em busca de falhas. Esta atividade é a extremamente dispendiosa e necessária, consumindo até cerca de 80% do custo final do produto. É neste contexto que se insere este trabalho, propondo uma metodologia de Verificação Funcional chamada IVM que irá fornecer todos os subsídios para garantir a entrega de sistemas de alta qualidade, e ainda atingindo as rígidas restrições temporais impostas pelo mercado. Sendo baseado em metodologias já bastante difundidas e acreditadas, como o OVM e o VeriSC, o IVM definiu uma organização arquitetural e um fluxo de atividades que incorporou as principais características de ambas as abordagens que antes estavam disjuntas. Esta integração de técnicas e conceitos resulta em um fluxo de verificação mais eficiente, permitindo que sistemas atinjam o custo, prazo e qualidade esperados._________________________________________________________________________________________ ABSTRACT: The growing demand for electronic devices and its even higher integration capability created extremely complex systems in chips, known as System-on-Chip or SoC. In a opposite way to this tendency, the time-to-market for these systems be built have been continually reduced, forcing much more functionalities be implemented in even shorten time periods. The final product quality control is assured by the Functional Verification activity that consists in a set of techniques to stimulate a system in order to find bugs. This activity is extremely expensive and necessary, responding to around 80% of final product cost. In this context this work is inserted on, proposing a Functional Verification methodology called IVM that will provide all conditions to deliver high quality systems, while keeping the hard time restrictions imposed by the market. Based in well known and trusted methodologies, as OVM and VeriSC, the IVM defined an architectural organization and an activity flow that incorporates features of both approaches that were separated from each other. This techniques and concepts integration resulted in a more efficient verification flow, allowing systems to meet the desired budget, schedule and quality.