Estudos dos padrões de não aleatoriedade dos gráficos de controle de Shewhart: um enfoque probabilístico

• Autor(a) principal: Nomelini,Quintiliano Siqueira Schroden
• Data de Publicação: 2009
• Outros Autores: Ferreira,Eric Batista, Oliveira,Marcelo Silva de
• Tipo de documento: Artigo
• Idioma: por
• Título da fonte: Gestão & Produção
• Texto Completo: http://old.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0104-530X2009000300008
• topic: Controle Estatístico de Processo - CEP; Padrões de não aleatoriedade; Processo estável; Causas especiais; Gráfico de controle

Além de investimento em novas tecnologias e modernização do parque industrial, a competitividade dos produtos brasileiros está ligada ao aumento de produtividade. O Controle Estatístico de Processo (CEP), junto com os gráficos de controle, inseriu-se neste contexto no que diz respeito ao controle das características significativas do produto e do processo, em tempo real, garantindo níveis de qualidade, a um custo exigido pelo mercado. Um procedimento importante é a interpretação dos gráficos de controle. Um estudo foi feito para ilustrar e discutir padrões de não aleatoriedade, que auxiliam na interpretação de tais gráficos. Alguns padrões de não aleatoriedade foram ilustrados e, por meio de cálculo de probabilidade, mostrou-se quais deles rejeitaram a hipótese de controle estatístico, a um nível de significância pré-especificado. Concluiu-se que os padrões mencionados na literatura não eram tão informativos. No que diz respeito ao nível de significância, observou-se então que em alguns padrões a um certo nível de significância retornaram resultados diferentes dos mencionados na literatura.