Um método simples para o projeto ótimo de gráficos de X

• Autor(a) principal: Epprecht,Eugenio K.
• Data de Publicação: 1998
• Outros Autores: Santos,Alessandra Bastos dos
• Tipo de documento: Artigo
• Idioma: por
• Título da fonte: Gestão & Produção
• Texto Completo: http://old.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0104-530X1998000300004
• topic: gráfico de <img border=0 id="_x0000_i1027" src="/img/revistas/gp/v5n3/a04img01.gif">; gráficos de Shewhart; controle estatístico de processo; controle estatístico de qualidade; projeto de gráficos de controle

É desenvolvido um método simples e eficiente para a seleção de parâmetros (tamanho de amostra, intervalo de tempo entre amostras, e largura dos limites de controle) para gráficos de <img border=0 id="_x0000_i1026" src="/img/revistas/gp/v5n3/a04img01.gif"> para controle estatístico de processos, que fornece soluções ótimas em termos da relação entre a rapidez de detecção e os recursos alocados à inspeção. O método é superior a procedimentos baseados em propriedades estatísticas do gráfico (tais como o ARL) e à adoção de valores empíricos gerais, e não apresenta as dificuldades de implementação dos métodos econômicos (economic design): não requer dados difíceis de obter ou estimar nem programas de computador para solução. Os resultados obtidos diferem de alguns resultados bem difundidos na literatura; mostra-se que os últimos são subótimos, por serem baseados em modelos que desconsideram aspectos importantes do problema. Uma contribuição adicional do método é o tratamento explícito e detalhado de restrições opcionais ao tamanho de amostra e/ou ao intervalo de tempo entre amostras. A simplicidade do método o torna viável para implementação em qualquer ambiente, e também apropriado para a sala de aula.