Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Silva, Saimon Filipe Covre da
Data de Publicação: 2012
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: LOCUS Repositório Institucional da UFV
Texto Completo: http://locus.ufv.br/handle/123456789/4259
Resumo: Este trabalho consiste na caracterização ótica de filmes de CdMnTe crescidos sobre substratos de vidro. Os filmes foram depositados pela técnica de epitaxia por feixe molecular (MBE) e caracterizados através de espectroscopia ótica e elipsometria. Foram determinados parâmetros como gap dos filmes em função da concentração de manganês. Podemos comprovar o aumento do gap com o aumento da concentração de manganês. As franjas de interferência nos mostram a boa qualidade dos filmes crescidos. Através da técnica de elipsometria podemos observar o comportamento do índice de refração e do coeficiente de extinção em função da concentração de manganês. Foram obtidos também os valores da espessura e taxa de crescimento dos filmes.
id UFV_2ce82fc2d1c40ff4ee37e879f8554f8b
oai_identifier_str oai:locus.ufv.br:123456789/4259
network_acronym_str UFV
network_name_str LOCUS Repositório Institucional da UFV
repository_id_str 2145
spelling Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe MolecularOptical characterization of CdMnTe thin films grown by Molecular Beam Epitaxy techniqueCaracterização óticaEpitaxiaMBEElipsometriaCdMnTeOptical characterizationEpitaxyMBEEllipsometryCdMnTeCNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADAEste trabalho consiste na caracterização ótica de filmes de CdMnTe crescidos sobre substratos de vidro. Os filmes foram depositados pela técnica de epitaxia por feixe molecular (MBE) e caracterizados através de espectroscopia ótica e elipsometria. Foram determinados parâmetros como gap dos filmes em função da concentração de manganês. Podemos comprovar o aumento do gap com o aumento da concentração de manganês. As franjas de interferência nos mostram a boa qualidade dos filmes crescidos. Através da técnica de elipsometria podemos observar o comportamento do índice de refração e do coeficiente de extinção em função da concentração de manganês. Foram obtidos também os valores da espessura e taxa de crescimento dos filmes.This work consists of the optical characterization of CdMnTe films grown on glass substrate. The films were deposited by the technique of molecular beam epitaxy (MBE) and characterized by optical spectroscopy and ellipsometry. The energy gap for films with different manganese concentration was determined. We demonstrate the increase in gap energy as concentration of manganese increases. The pronounced interference fringes observed show the good optical quality of the films grown. By ellipsometry technique we can observe the behavior of the refractive index and extinction coefficients a function of manganese concentration. We have also obtained values of sample thickness and growth rate.Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível SuperiorUniversidade Federal de ViçosaBRFísica Teórica e Computacional; Preparação e Caracterização de Materiais; Sensores e Dispositivos.Mestrado em Física AplicadaUFVhttp://lattes.cnpq.br/4389754693071732Munford, Maximiliano Luishttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4791596H8Couto, Marcos da Silvahttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4781688P4Ferreira, Sukarno Olavohttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4786429E5Anjos, Virgilio de Carvalho doshttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4782111Y6Carvalho, Alexandre Tadeu Gomeshttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4787153D2Silva, Saimon Filipe Covre da2015-03-26T13:35:19Z2013-11-202015-03-26T13:35:19Z2012-07-20info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdfapplication/pdfSILVA, Saimon Filipe Covre da. Optical characterization of CdMnTe thin films grown by Molecular Beam Epitaxy technique. 2012. 81 f. Dissertação (Mestrado em Física Teórica e Computacional; Preparação e Caracterização de Materiais; Sensores e Dispositivos.) - Universidade Federal de Viçosa, Viçosa, 2012.http://locus.ufv.br/handle/123456789/4259porinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:LOCUS Repositório Institucional da UFVinstname:Universidade Federal de Viçosa (UFV)instacron:UFV2024-07-12T08:47:48Zoai:locus.ufv.br:123456789/4259Repositório InstitucionalPUBhttps://www.locus.ufv.br/oai/requestfabiojreis@ufv.bropendoar:21452024-07-12T08:47:48LOCUS Repositório Institucional da UFV - Universidade Federal de Viçosa (UFV)false
dc.title.none.fl_str_mv Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular
Optical characterization of CdMnTe thin films grown by Molecular Beam Epitaxy technique
title Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular
spellingShingle Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular
Silva, Saimon Filipe Covre da
Caracterização ótica
Epitaxia
MBE
Elipsometria
CdMnTe
Optical characterization
Epitaxy
MBE
Ellipsometry
CdMnTe
CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
title_short Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular
title_full Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular
title_fullStr Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular
title_full_unstemmed Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular
title_sort Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular
author Silva, Saimon Filipe Covre da
author_facet Silva, Saimon Filipe Covre da
author_role author
dc.contributor.none.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/4389754693071732
Munford, Maximiliano Luis
http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4791596H8
Couto, Marcos da Silva
http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4781688P4
Ferreira, Sukarno Olavo
http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4786429E5
Anjos, Virgilio de Carvalho dos
http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4782111Y6
Carvalho, Alexandre Tadeu Gomes
http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4787153D2
dc.contributor.author.fl_str_mv Silva, Saimon Filipe Covre da
dc.subject.por.fl_str_mv Caracterização ótica
Epitaxia
MBE
Elipsometria
CdMnTe
Optical characterization
Epitaxy
MBE
Ellipsometry
CdMnTe
CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
topic Caracterização ótica
Epitaxia
MBE
Elipsometria
CdMnTe
Optical characterization
Epitaxy
MBE
Ellipsometry
CdMnTe
CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
description Este trabalho consiste na caracterização ótica de filmes de CdMnTe crescidos sobre substratos de vidro. Os filmes foram depositados pela técnica de epitaxia por feixe molecular (MBE) e caracterizados através de espectroscopia ótica e elipsometria. Foram determinados parâmetros como gap dos filmes em função da concentração de manganês. Podemos comprovar o aumento do gap com o aumento da concentração de manganês. As franjas de interferência nos mostram a boa qualidade dos filmes crescidos. Através da técnica de elipsometria podemos observar o comportamento do índice de refração e do coeficiente de extinção em função da concentração de manganês. Foram obtidos também os valores da espessura e taxa de crescimento dos filmes.
publishDate 2012
dc.date.none.fl_str_mv 2012-07-20
2013-11-20
2015-03-26T13:35:19Z
2015-03-26T13:35:19Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv SILVA, Saimon Filipe Covre da. Optical characterization of CdMnTe thin films grown by Molecular Beam Epitaxy technique. 2012. 81 f. Dissertação (Mestrado em Física Teórica e Computacional; Preparação e Caracterização de Materiais; Sensores e Dispositivos.) - Universidade Federal de Viçosa, Viçosa, 2012.
http://locus.ufv.br/handle/123456789/4259
identifier_str_mv SILVA, Saimon Filipe Covre da. Optical characterization of CdMnTe thin films grown by Molecular Beam Epitaxy technique. 2012. 81 f. Dissertação (Mestrado em Física Teórica e Computacional; Preparação e Caracterização de Materiais; Sensores e Dispositivos.) - Universidade Federal de Viçosa, Viçosa, 2012.
url http://locus.ufv.br/handle/123456789/4259
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal de Viçosa
BR
Física Teórica e Computacional; Preparação e Caracterização de Materiais; Sensores e Dispositivos.
Mestrado em Física Aplicada
UFV
publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal de Viçosa
BR
Física Teórica e Computacional; Preparação e Caracterização de Materiais; Sensores e Dispositivos.
Mestrado em Física Aplicada
UFV
dc.source.none.fl_str_mv reponame:LOCUS Repositório Institucional da UFV
instname:Universidade Federal de Viçosa (UFV)
instacron:UFV
instname_str Universidade Federal de Viçosa (UFV)
instacron_str UFV
institution UFV
reponame_str LOCUS Repositório Institucional da UFV
collection LOCUS Repositório Institucional da UFV
repository.name.fl_str_mv LOCUS Repositório Institucional da UFV - Universidade Federal de Viçosa (UFV)
repository.mail.fl_str_mv fabiojreis@ufv.br
_version_ 1817560044095406080

Registros relacionados