Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2008 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Repositório Institucional da UnB |
Texto Completo: | http://repositorio.unb.br/handle/10482/1237 |
Resumo: | Dissertação (mestrado)—Universidade de Brasília, Instituto de Física, 2008. |
id |
UNB_1b583a8d711507f021131d5dc07bfcb5 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:repositorio2.unb.br:10482/1237 |
network_acronym_str |
UNB |
network_name_str |
Repositório Institucional da UnB |
repository_id_str |
|
spelling |
Teixeira, Jonathan FernandoSilva, Sebastião William da2009-02-16T14:57:05Z2009-02-16T14:57:05Z2008-06-172008-06-17TEIXEIRA, Jonathan Fernando. Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia raman e de fotoluminescência. 2008. 112 f. Dissertação (Mestrado em Física)-Universidade de Brasília, Brasília, 2008.http://repositorio.unb.br/handle/10482/1237Dissertação (mestrado)—Universidade de Brasília, Instituto de Física, 2008.A dependência da quantidade de nitrogênio (N) nas propriedades ópticas e estruturais de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs, com 0, 0144 x 0, 0370, tratados termicamente e como crescidos, foram investigados por espectroscopias Raman e de Fotoluminescência. Os espectros Raman exibem a presença de dois modos caracter ísticos do filme de GaAs1−xNx. É observado um sistemático decréscimo da freqüência do fônon longitudinal óptico do tipo-GaAs (LO1), próximo a 292 cm−1 e um aumento linear da intensidade do fônon longitudinal óptico do tipo-GaN (LO2), próximo a 475 cm−1, com o aumento da concentração de N. É também evidente que a concentração de N nos filmes de GaAs1−xNx, determinado por espectroscopia Raman (xRaman), exibe uma dependência linear com aquela determinada por difração de Raios-X de alta resolução (HRXDR) (xXRD). Foi verificado que o sistemático redshift observado para o fônon LO1 e geralmente associado a deformações (strain) da rede e aos efeitos de liga, é também influenciado pela presença da dopagem não intencional assim como pela quebra da ordem de longo alcance da rede cristalina, devido a introdução do N. Os resultados de Fotoluminescência (PL) evidenciaram um decréscimo de até 460 meV do band gap do GaAs1−xNx com o aumento da concentração de N, no intervalo de x estudado. Medidas de PL em função da temperatura e da intensidade de excitação revelaram que o decréscimo de energia do band gap com o aumento da temperatura é significantemente maior para o GaAs do que para o GaAs1−xNx e que na temperatura de 7 K, o processo de recombinação bimolecular dos portadores é predominantemente radiativo. Todos os resultados de PL, são explicados pelo modelo Band Anticrossing. __________________________________________________________________________________________ ABSTRACTThe dependence of nitrogen (N) concentration on optical properties in thermally treated and as grown thin films of GaAs1−xNx, with 0, 0144 x 0, 0370, is investigated through Raman spectroscopy and Photoluminescence. Raman spectra exhibits the presence of two GaAs1−xNx characteristic modes. A systematic decrease of the longitudinal optical GaAs-type phonon frequency (LO1) near 292 cm−1 and a linear increase of longitudinal optical phonon of the GaN-type (LO2), near 475 cm−1 is observed with increasing N concentration. It is also evident that the N concentration in GaAs1−xNx, determined by Raman spectroscopy (xRaman), exhibits a linear dependence with the one determined by High Resolution X-Ray Diffraction (HRXRD) (xXRD). It was verified that the systematic redshift observed for the LO1 phonon, usually associated to lattice strain and alloy effects, is associated with non-intentional doping and the loss of long range crystaline order. The photoluminescence (PL) results showed a reduction of up to 460 meV of the GaAs1−xNx band gap with increasing N concentration. PL measurements as a function of temperature and excitation intensity, revealed that the decrease of band gap energy with temperature increase is significantly greater for GaAs compared to GaAs1−xNx, and that at 7K the carrier bimolecular recombination process is predominantly radiative. All PL results are explained by the Band Anticrossing model.Instituto de Física (IF)Programa de Pós-Graduação em FísicaEstudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescênciainfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisFilme finoEspectroscopiaFotoluminescênciaBRAinfo:eu-repo/semantics/openAccessporreponame:Repositório Institucional da UnBinstname:Universidade de Brasília (UnB)instacron:UNBORIGINALDISSERTACAO_2008_JonathanFernandoTeixeira.pdfDISSERTACAO_2008_JonathanFernandoTeixeira.pdfapplication/pdf1853226http://repositorio2.unb.br/jspui/bitstream/10482/1237/1/DISSERTACAO_2008_JonathanFernandoTeixeira.pdf137a609b04f4d9c223284d464e08f55aMD51open accessLICENSElicense.txtlicense.txttext/plain1865http://repositorio2.unb.br/jspui/bitstream/10482/1237/2/license.txt6df04e80adcd936f4d63788058326e9bMD52open accessTEXTDISSERTACAO_2008_JonathanFernandoTeixeira.pdf.txtDISSERTACAO_2008_JonathanFernandoTeixeira.pdf.txtExtracted texttext/plain150657http://repositorio2.unb.br/jspui/bitstream/10482/1237/3/DISSERTACAO_2008_JonathanFernandoTeixeira.pdf.txt2b440e06b4d8dcfa39690627e4a28752MD53open access10482/12372024-02-20 13:56:58.951open accessoai:repositorio2.unb.br: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Biblioteca Digital de Teses e DissertaçõesPUBhttps://repositorio.unb.br/oai/requestopendoar:2024-02-20T16:56:58Repositório Institucional da UnB - Universidade de Brasília (UnB)false |
dc.title.pt_BR.fl_str_mv |
Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência |
title |
Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência |
spellingShingle |
Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência Teixeira, Jonathan Fernando Filme fino Espectroscopia Fotoluminescência |
title_short |
Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência |
title_full |
Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência |
title_fullStr |
Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência |
title_full_unstemmed |
Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência |
title_sort |
Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência |
author |
Teixeira, Jonathan Fernando |
author_facet |
Teixeira, Jonathan Fernando |
author_role |
author |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
Teixeira, Jonathan Fernando |
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv |
Silva, Sebastião William da |
contributor_str_mv |
Silva, Sebastião William da |
dc.subject.keyword.pt_BR.fl_str_mv |
Filme fino Espectroscopia Fotoluminescência |
topic |
Filme fino Espectroscopia Fotoluminescência |
description |
Dissertação (mestrado)—Universidade de Brasília, Instituto de Física, 2008. |
publishDate |
2008 |
dc.date.submitted.none.fl_str_mv |
2008-06-17 |
dc.date.issued.fl_str_mv |
2008-06-17 |
dc.date.accessioned.fl_str_mv |
2009-02-16T14:57:05Z |
dc.date.available.fl_str_mv |
2009-02-16T14:57:05Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/masterThesis |
format |
masterThesis |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.citation.fl_str_mv |
TEIXEIRA, Jonathan Fernando. Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia raman e de fotoluminescência. 2008. 112 f. Dissertação (Mestrado em Física)-Universidade de Brasília, Brasília, 2008. |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
http://repositorio.unb.br/handle/10482/1237 |
identifier_str_mv |
TEIXEIRA, Jonathan Fernando. Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia raman e de fotoluminescência. 2008. 112 f. Dissertação (Mestrado em Física)-Universidade de Brasília, Brasília, 2008. |
url |
http://repositorio.unb.br/handle/10482/1237 |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Repositório Institucional da UnB instname:Universidade de Brasília (UnB) instacron:UNB |
instname_str |
Universidade de Brasília (UnB) |
instacron_str |
UNB |
institution |
UNB |
reponame_str |
Repositório Institucional da UnB |
collection |
Repositório Institucional da UnB |
bitstream.url.fl_str_mv |
http://repositorio2.unb.br/jspui/bitstream/10482/1237/1/DISSERTACAO_2008_JonathanFernandoTeixeira.pdf http://repositorio2.unb.br/jspui/bitstream/10482/1237/2/license.txt http://repositorio2.unb.br/jspui/bitstream/10482/1237/3/DISSERTACAO_2008_JonathanFernandoTeixeira.pdf.txt |
bitstream.checksum.fl_str_mv |
137a609b04f4d9c223284d464e08f55a 6df04e80adcd936f4d63788058326e9b 2b440e06b4d8dcfa39690627e4a28752 |
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv |
MD5 MD5 MD5 |
repository.name.fl_str_mv |
Repositório Institucional da UnB - Universidade de Brasília (UnB) |
repository.mail.fl_str_mv |
|
_version_ |
1803573450123509760 |