Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Teixeira, Jonathan Fernando
Data de Publicação: 2008
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UnB
Texto Completo: http://repositorio.unb.br/handle/10482/1237
Resumo: Dissertação (mestrado)—Universidade de Brasília, Instituto de Física, 2008.
id UNB_279a78b012aa0a64f61c65231ebc5b1d
oai_identifier_str oai:repositorio.unb.br:10482/1237
network_acronym_str UNB
network_name_str Repositório Institucional da UnB
repository_id_str
spelling Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescênciaFilme finoEspectroscopiaFotoluminescênciaDissertação (mestrado)—Universidade de Brasília, Instituto de Física, 2008.A dependência da quantidade de nitrogênio (N) nas propriedades ópticas e estruturais de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs, com 0, 0144 x 0, 0370, tratados termicamente e como crescidos, foram investigados por espectroscopias Raman e de Fotoluminescência. Os espectros Raman exibem a presença de dois modos caracter ísticos do filme de GaAs1−xNx. É observado um sistemático decréscimo da freqüência do fônon longitudinal óptico do tipo-GaAs (LO1), próximo a 292 cm−1 e um aumento linear da intensidade do fônon longitudinal óptico do tipo-GaN (LO2), próximo a 475 cm−1, com o aumento da concentração de N. É também evidente que a concentração de N nos filmes de GaAs1−xNx, determinado por espectroscopia Raman (xRaman), exibe uma dependência linear com aquela determinada por difração de Raios-X de alta resolução (HRXDR) (xXRD). Foi verificado que o sistemático redshift observado para o fônon LO1 e geralmente associado a deformações (strain) da rede e aos efeitos de liga, é também influenciado pela presença da dopagem não intencional assim como pela quebra da ordem de longo alcance da rede cristalina, devido a introdução do N. Os resultados de Fotoluminescência (PL) evidenciaram um decréscimo de até 460 meV do band gap do GaAs1−xNx com o aumento da concentração de N, no intervalo de x estudado. Medidas de PL em função da temperatura e da intensidade de excitação revelaram que o decréscimo de energia do band gap com o aumento da temperatura é significantemente maior para o GaAs do que para o GaAs1−xNx e que na temperatura de 7 K, o processo de recombinação bimolecular dos portadores é predominantemente radiativo. Todos os resultados de PL, são explicados pelo modelo Band Anticrossing. __________________________________________________________________________________________ ABSTRACTThe dependence of nitrogen (N) concentration on optical properties in thermally treated and as grown thin films of GaAs1−xNx, with 0, 0144 x 0, 0370, is investigated through Raman spectroscopy and Photoluminescence. Raman spectra exhibits the presence of two GaAs1−xNx characteristic modes. A systematic decrease of the longitudinal optical GaAs-type phonon frequency (LO1) near 292 cm−1 and a linear increase of longitudinal optical phonon of the GaN-type (LO2), near 475 cm−1 is observed with increasing N concentration. It is also evident that the N concentration in GaAs1−xNx, determined by Raman spectroscopy (xRaman), exhibits a linear dependence with the one determined by High Resolution X-Ray Diffraction (HRXRD) (xXRD). It was verified that the systematic redshift observed for the LO1 phonon, usually associated to lattice strain and alloy effects, is associated with non-intentional doping and the loss of long range crystaline order. The photoluminescence (PL) results showed a reduction of up to 460 meV of the GaAs1−xNx band gap with increasing N concentration. PL measurements as a function of temperature and excitation intensity, revealed that the decrease of band gap energy with temperature increase is significantly greater for GaAs compared to GaAs1−xNx, and that at 7K the carrier bimolecular recombination process is predominantly radiative. All PL results are explained by the Band Anticrossing model.Instituto de Física (IF)Programa de Pós-Graduação em FísicaSilva, Sebastião William daTeixeira, Jonathan Fernando2009-02-16T14:57:05Z2009-02-16T14:57:05Z2008-06-172008-06-17info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdfTEIXEIRA, Jonathan Fernando. Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia raman e de fotoluminescência. 2008. 112 f. Dissertação (Mestrado em Física)-Universidade de Brasília, Brasília, 2008.http://repositorio.unb.br/handle/10482/1237info:eu-repo/semantics/openAccessporreponame:Repositório Institucional da UnBinstname:Universidade de Brasília (UnB)instacron:UNB2024-02-20T16:56:58Zoai:repositorio.unb.br:10482/1237Repositório InstitucionalPUBhttps://repositorio.unb.br/oai/requestrepositorio@unb.bropendoar:2024-02-20T16:56:58Repositório Institucional da UnB - Universidade de Brasília (UnB)false
dc.title.none.fl_str_mv Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência
title Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência
spellingShingle Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência
Teixeira, Jonathan Fernando
Filme fino
Espectroscopia
Fotoluminescência
title_short Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência
title_full Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência
title_fullStr Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência
title_full_unstemmed Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência
title_sort Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia Raman e de fotoluminescência
author Teixeira, Jonathan Fernando
author_facet Teixeira, Jonathan Fernando
author_role author
dc.contributor.none.fl_str_mv Silva, Sebastião William da
dc.contributor.author.fl_str_mv Teixeira, Jonathan Fernando
dc.subject.por.fl_str_mv Filme fino
Espectroscopia
Fotoluminescência
topic Filme fino
Espectroscopia
Fotoluminescência
description Dissertação (mestrado)—Universidade de Brasília, Instituto de Física, 2008.
publishDate 2008
dc.date.none.fl_str_mv 2008-06-17
2008-06-17
2009-02-16T14:57:05Z
2009-02-16T14:57:05Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv TEIXEIRA, Jonathan Fernando. Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia raman e de fotoluminescência. 2008. 112 f. Dissertação (Mestrado em Física)-Universidade de Brasília, Brasília, 2008.
http://repositorio.unb.br/handle/10482/1237
identifier_str_mv TEIXEIRA, Jonathan Fernando. Estudo de filmes finos de GaAs1−xNx/GaAs por espectroscopia raman e de fotoluminescência. 2008. 112 f. Dissertação (Mestrado em Física)-Universidade de Brasília, Brasília, 2008.
url http://repositorio.unb.br/handle/10482/1237
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da UnB
instname:Universidade de Brasília (UnB)
instacron:UNB
instname_str Universidade de Brasília (UnB)
instacron_str UNB
institution UNB
reponame_str Repositório Institucional da UnB
collection Repositório Institucional da UnB
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da UnB - Universidade de Brasília (UnB)
repository.mail.fl_str_mv repositorio@unb.br
_version_ 1814508232725495808

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