Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Raeder, Gilson de Lima
Data de Publicação: 1992
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
Texto Completo: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1578528
Resumo: Orientador: Peter Jurgen Tatsch
id UNICAMP-30_942b79c357e1d9faa0b3d05707f9dddb
oai_identifier_str oai::50779
network_acronym_str UNICAMP-30
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
repository_id_str
spelling Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analiseConfiabilidadeFalha de sistema (Engenharia)Engenharia elétricaOrientador: Peter Jurgen TatschDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia EletricaResumo: Não informadoAbstract: Not informed.MestradoMestre em Engenharia Elétrica[s.n.]Tatsch, Peter Jürgen, 1949-Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Faculdade de Engenharia ElétricaPrograma de Pós-Graduação em Engenharia ElétricaUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINASRaeder, Gilson de Lima19921992-09-21T00:00:00Zinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdf120f. : il.(Broch.)https://hdl.handle.net/20.500.12733/1578528RAEDER, Gilson de Lima. Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise. 1992. 120f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1578528. Acesso em: 2 set. 2024.https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/50779Publicação FEEporreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instname:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instacron:UNICAMPinfo:eu-repo/semantics/openAccess2022-04-28T11:13:17Zoai::50779Biblioteca Digital de Teses e DissertaçõesPUBhttp://repositorio.unicamp.br/oai/tese/oai.aspsbubd@unicamp.bropendoar:2022-04-28T11:13:17Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)false
dc.title.none.fl_str_mv Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise
title Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise
spellingShingle Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise
Raeder, Gilson de Lima
Confiabilidade
Falha de sistema (Engenharia)
Engenharia elétrica
title_short Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise
title_full Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise
title_fullStr Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise
title_full_unstemmed Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise
title_sort Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise
author Raeder, Gilson de Lima
author_facet Raeder, Gilson de Lima
author_role author
dc.contributor.none.fl_str_mv Tatsch, Peter Jürgen, 1949-
Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Faculdade de Engenharia Elétrica
Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
dc.contributor.author.fl_str_mv Raeder, Gilson de Lima
dc.subject.por.fl_str_mv Confiabilidade
Falha de sistema (Engenharia)
Engenharia elétrica
topic Confiabilidade
Falha de sistema (Engenharia)
Engenharia elétrica
description Orientador: Peter Jurgen Tatsch
publishDate 1992
dc.date.none.fl_str_mv 1992
1992-09-21T00:00:00Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv (Broch.)
https://hdl.handle.net/20.500.12733/1578528
RAEDER, Gilson de Lima. Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise. 1992. 120f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1578528. Acesso em: 2 set. 2024.
identifier_str_mv (Broch.)
RAEDER, Gilson de Lima. Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise. 1992. 120f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1578528. Acesso em: 2 set. 2024.
url https://hdl.handle.net/20.500.12733/1578528
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.relation.none.fl_str_mv https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/50779
Publicação FEE
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
120f. : il.
dc.publisher.none.fl_str_mv [s.n.]
publisher.none.fl_str_mv [s.n.]
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
instname:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
instacron:UNICAMP
instname_str Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
instacron_str UNICAMP
institution UNICAMP
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
repository.mail.fl_str_mv sbubd@unicamp.br
_version_ 1809188738500132864