Construção de um sistema de caracterização das propriedades de transporte de filmes finos pelo efeito Hall

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Maurity, A.J.S [UNESP]
Data de Publicação: 2012
Outros Autores: Lunas, F.R [UNESP], Carvalho, C.L [UNESP], Reynoso, V.C.S [UNESP], Aquino, Hermes Adolfo de [UNESP]
Tipo de documento: Artigo
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UNESP
Texto Completo: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1806-11172012000100007
http://hdl.handle.net/11449/10041
Resumo: Neste trabalho foi montado um sistema para determinar propriedades de transporte, tais como, a resistividade elétrica, a densidade e a mobilidade dos portadores de carga elétrica de filmes finos utilizando o efeito Hall, nas condições de laboratório de ensino, utilizando materiais de fácil aquisição. Filmes finos de SnO2 dopados com Fluor obtidos por processos químicos de deposição foram caracterizados e apresentaram resultados consistentes com o que existe na literatura.
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