Single trimming resistorless CMOS sub-bandgap voltage references for high precision applications

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Lima, Vanessa Furtado de
Data de Publicação: 2021
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: eng
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/222314
Resumo: A referência de tensão é uma classe de circuito relevante já que sua tensão de saída deve gerar uma referência precisa para muitas aplicações analógicas, de sinais mistos e digitais. Esse tipo de circuito funciona baseado na compensação mútua de dependências de temperatura de duas grandezas elétricas. Considerando que essas grandezas também dependem do processo de fabricação, o desempenho das referências de tensão são profundamente afetadas pela variabilidade de fabricação. A redução ou compensação do impacto da variabilidade no desempenho da referência é um desafio considerável de projeto, necessário para aumentar sua precisão e robustez. Por isso, esse trabalho propõe duas referências de tensão do tipo sub-bandgap que são projetadas para reduzir o impacto da variabilidade na referência de tensão para aumentar a precisão. Um circuito de polarização de um transistor bipolar, um MOSFET self-cascode, um par diferencial desbalanceado e uma estrutura PTAT high-slope foram analisadas para identificar como minimizar as principais fontes de erros, como a variabilidade de fabricação e não-linearidades intrínsecas. A partir dessa investigação, uma fonte de corrente ISQ foi implementada para alimentar um transistor bipolar e reduzir a variabilidade da tensão de base-emissor gerada. Além disso, as estruturas de MOSFET self-cascode e do par diferencial desbalanceado foram escolhidos para formar as referências de tensão propostas. Uma estratégia de calibração em um único ponto foi apresentada para reduzir a sensibilidade à temperatura do circuito. As topologias de referências de tensão são descrevidas analiticamente e o modelo UICM foi utilizado para projetar o circuito. Os circuitos não possuem resistores e foram projetados em um processo de 180 nm. Além disso, o desempenho dos circuitos é avaliado através de simulações feitas após o layout. Então, a referência sub-bandgap com MOSFET self-cascode (SBSCM) apresentou uma referência de tensão de 592 mV com um coeficiente de temperatura (TC) típico de 3.6 ppm/°C, consumindo 40.8 nW com uma fonte de alimentação de 1.8 V. A referência sub-bandgap com o par diferencial desbalanceado (SBDF) resultou em uma referência de tensão de 607 mV com um TC típico de 8.3 ppm/°C e consumindo 40 nW com 1.8 V de tensão de alimentação. Simulações do tipo Monte Carlo demonstraram a sensibilidade do projeto implementado à variabilidade. Considerando o impacto da variabilidade e a calibração proposta, as referências SBSCM e SBDF apresentaram um TC médio de 6.9 ppm/°C e 11 ppm/°C, respectivamente. O desempenho dos circuitos apresentou um baixo consumo de potência e coeficiente de temperatura com uma tensão de saída precisa, ocupando uma pequena área de silício.
id URGS_25219076715b90de71d43f425a9b5185
oai_identifier_str oai:www.lume.ufrgs.br:10183/222314
network_acronym_str URGS
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
repository_id_str 1853
spelling Lima, Vanessa Furtado deKlimach, Hamilton Duarte2021-06-16T04:38:44Z2021http://hdl.handle.net/10183/222314001126163A referência de tensão é uma classe de circuito relevante já que sua tensão de saída deve gerar uma referência precisa para muitas aplicações analógicas, de sinais mistos e digitais. Esse tipo de circuito funciona baseado na compensação mútua de dependências de temperatura de duas grandezas elétricas. Considerando que essas grandezas também dependem do processo de fabricação, o desempenho das referências de tensão são profundamente afetadas pela variabilidade de fabricação. A redução ou compensação do impacto da variabilidade no desempenho da referência é um desafio considerável de projeto, necessário para aumentar sua precisão e robustez. Por isso, esse trabalho propõe duas referências de tensão do tipo sub-bandgap que são projetadas para reduzir o impacto da variabilidade na referência de tensão para aumentar a precisão. Um circuito de polarização de um transistor bipolar, um MOSFET self-cascode, um par diferencial desbalanceado e uma estrutura PTAT high-slope foram analisadas para identificar como minimizar as principais fontes de erros, como a variabilidade de fabricação e não-linearidades intrínsecas. A partir dessa investigação, uma fonte de corrente ISQ foi implementada para alimentar um transistor bipolar e reduzir a variabilidade da tensão de base-emissor gerada. Além disso, as estruturas de MOSFET self-cascode e do par diferencial desbalanceado foram escolhidos para formar as referências de tensão propostas. Uma estratégia de calibração em um único ponto foi apresentada para reduzir a sensibilidade à temperatura do circuito. As topologias de referências de tensão são descrevidas analiticamente e o modelo UICM foi utilizado para projetar o circuito. Os circuitos não possuem resistores e foram projetados em um processo de 180 nm. Além disso, o desempenho dos circuitos é avaliado através de simulações feitas após o layout. Então, a referência sub-bandgap com MOSFET self-cascode (SBSCM) apresentou uma referência de tensão de 592 mV com um coeficiente de temperatura (TC) típico de 3.6 ppm/°C, consumindo 40.8 nW com uma fonte de alimentação de 1.8 V. A referência sub-bandgap com o par diferencial desbalanceado (SBDF) resultou em uma referência de tensão de 607 mV com um TC típico de 8.3 ppm/°C e consumindo 40 nW com 1.8 V de tensão de alimentação. Simulações do tipo Monte Carlo demonstraram a sensibilidade do projeto implementado à variabilidade. Considerando o impacto da variabilidade e a calibração proposta, as referências SBSCM e SBDF apresentaram um TC médio de 6.9 ppm/°C e 11 ppm/°C, respectivamente. O desempenho dos circuitos apresentou um baixo consumo de potência e coeficiente de temperatura com uma tensão de saída precisa, ocupando uma pequena área de silício.A voltage reference is a relevant circuit class since its output voltage should generate an accurate reference for many analog, mixed-signal, and digital applications. This type of circuit works based on the mutual compensation of the temperature dependencies of two electrical quantities. Considering that these quantities also depend on the fabrication process, the voltage reference performance is heavily affected by fabrication variability. The reduction or compensation of the variability impact on the reference performance is a considerable design challenge, required to increase its precision and robustness. Hence, this work proposes two sub-bandgap voltage references that are designed to reduce the variability impact on the reference voltage to enhance its precision. A BJT biasing circuit, a self-cascode MOSFET, an unbalanced differential pair and a high-slope PTAT structure were analyzed to understand how to minimize the main error sources, such as fabrication variability and intrinsic non-linearities. From this investigation, a sheet specific current (ISQ) source was implemented for biasing a BJT to reduce the variability of its generated base-emitter voltage. Also, the self-cascode MOSFET and the unbalanced differential pair architectures were chosen to form the proposed voltage references. A single-point trimming strategy was presented to reduce the temperature sensitivity of the circuits. The voltage references topologies are analytically described and the UICM model was used to design the circuits. The circuits are resistorless and were designed in a 180 nm process. Also, the performance of the voltage references were evaluated through post-layout simulation. Then, the proposed sub-bandgap reference with self-cascode MOSFETs (SBSCM) presented a 592 mV reference voltage with a typical temperature coefficient (TC) of 3.6 ppm/°C, while consuming just 40.8 nW under 1.8 V of power supply. The sub-bandgap reference with an unbalanced differential pair (SBDF) resulted in a 607 mV reference voltage with a typical TC of 8.3 ppm/°C and consuming 40 nW under 1.8 V of supply voltage. Monte-Carlo simulations demonstrated the sensitivity of the implemented design to fabrication variability. Considering the variability impact and the trimming scheme, the SBSCM and the SBDF presented an average TC of 6.9 ppm/°C and 11 ppm/°C, respectively. The circuit’s performance presented low power consumption and TC with an accurate output voltage while occupying a small silicon area.application/pdfengCmosCircuitos integradosMicroeletrônicaTransistores bipolaresCMOS analog designVoltage referenceHigh precisionTrimmingLow powerSingle trimming resistorless CMOS sub-bandgap voltage references for high precision applicationsReferências de tensão sub-bandgap CMOS sem resistores com um único ajuste para aplicações de alta precisão info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de InformáticaPrograma de Pós-Graduação em MicroeletrônicaPorto Alegre, BR-RS2021mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSTEXT001126163.pdf.txt001126163.pdf.txtExtracted Texttext/plain159225http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/222314/2/001126163.pdf.txtfb7f5d8110ae6136ea2f6b31f5f2d867MD52ORIGINAL001126163.pdfTexto completo (inglês)application/pdf12932693http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/222314/1/001126163.pdf8169f69f1b49430995cc7979524903beMD5110183/2223142024-03-27 06:38:38.922188oai:www.lume.ufrgs.br:10183/222314Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532024-03-27T09:38:38Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Single trimming resistorless CMOS sub-bandgap voltage references for high precision applications
dc.title.alternative.pt.fl_str_mv Referências de tensão sub-bandgap CMOS sem resistores com um único ajuste para aplicações de alta precisão
title Single trimming resistorless CMOS sub-bandgap voltage references for high precision applications
spellingShingle Single trimming resistorless CMOS sub-bandgap voltage references for high precision applications
Lima, Vanessa Furtado de
Cmos
Circuitos integrados
Microeletrônica
Transistores bipolares
CMOS analog design
Voltage reference
High precision
Trimming
Low power
title_short Single trimming resistorless CMOS sub-bandgap voltage references for high precision applications
title_full Single trimming resistorless CMOS sub-bandgap voltage references for high precision applications
title_fullStr Single trimming resistorless CMOS sub-bandgap voltage references for high precision applications
title_full_unstemmed Single trimming resistorless CMOS sub-bandgap voltage references for high precision applications
title_sort Single trimming resistorless CMOS sub-bandgap voltage references for high precision applications
author Lima, Vanessa Furtado de
author_facet Lima, Vanessa Furtado de
author_role author
dc.contributor.author.fl_str_mv Lima, Vanessa Furtado de
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Klimach, Hamilton Duarte
contributor_str_mv Klimach, Hamilton Duarte
dc.subject.por.fl_str_mv Cmos
Circuitos integrados
Microeletrônica
Transistores bipolares
topic Cmos
Circuitos integrados
Microeletrônica
Transistores bipolares
CMOS analog design
Voltage reference
High precision
Trimming
Low power
dc.subject.eng.fl_str_mv CMOS analog design
Voltage reference
High precision
Trimming
Low power
description A referência de tensão é uma classe de circuito relevante já que sua tensão de saída deve gerar uma referência precisa para muitas aplicações analógicas, de sinais mistos e digitais. Esse tipo de circuito funciona baseado na compensação mútua de dependências de temperatura de duas grandezas elétricas. Considerando que essas grandezas também dependem do processo de fabricação, o desempenho das referências de tensão são profundamente afetadas pela variabilidade de fabricação. A redução ou compensação do impacto da variabilidade no desempenho da referência é um desafio considerável de projeto, necessário para aumentar sua precisão e robustez. Por isso, esse trabalho propõe duas referências de tensão do tipo sub-bandgap que são projetadas para reduzir o impacto da variabilidade na referência de tensão para aumentar a precisão. Um circuito de polarização de um transistor bipolar, um MOSFET self-cascode, um par diferencial desbalanceado e uma estrutura PTAT high-slope foram analisadas para identificar como minimizar as principais fontes de erros, como a variabilidade de fabricação e não-linearidades intrínsecas. A partir dessa investigação, uma fonte de corrente ISQ foi implementada para alimentar um transistor bipolar e reduzir a variabilidade da tensão de base-emissor gerada. Além disso, as estruturas de MOSFET self-cascode e do par diferencial desbalanceado foram escolhidos para formar as referências de tensão propostas. Uma estratégia de calibração em um único ponto foi apresentada para reduzir a sensibilidade à temperatura do circuito. As topologias de referências de tensão são descrevidas analiticamente e o modelo UICM foi utilizado para projetar o circuito. Os circuitos não possuem resistores e foram projetados em um processo de 180 nm. Além disso, o desempenho dos circuitos é avaliado através de simulações feitas após o layout. Então, a referência sub-bandgap com MOSFET self-cascode (SBSCM) apresentou uma referência de tensão de 592 mV com um coeficiente de temperatura (TC) típico de 3.6 ppm/°C, consumindo 40.8 nW com uma fonte de alimentação de 1.8 V. A referência sub-bandgap com o par diferencial desbalanceado (SBDF) resultou em uma referência de tensão de 607 mV com um TC típico de 8.3 ppm/°C e consumindo 40 nW com 1.8 V de tensão de alimentação. Simulações do tipo Monte Carlo demonstraram a sensibilidade do projeto implementado à variabilidade. Considerando o impacto da variabilidade e a calibração proposta, as referências SBSCM e SBDF apresentaram um TC médio de 6.9 ppm/°C e 11 ppm/°C, respectivamente. O desempenho dos circuitos apresentou um baixo consumo de potência e coeficiente de temperatura com uma tensão de saída precisa, ocupando uma pequena área de silício.
publishDate 2021
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2021-06-16T04:38:44Z
dc.date.issued.fl_str_mv 2021
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10183/222314
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv 001126163
url http://hdl.handle.net/10183/222314
identifier_str_mv 001126163
dc.language.iso.fl_str_mv eng
language eng
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
instname_str Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron_str UFRGS
institution UFRGS
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
bitstream.url.fl_str_mv http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/222314/2/001126163.pdf.txt
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/222314/1/001126163.pdf
bitstream.checksum.fl_str_mv fb7f5d8110ae6136ea2f6b31f5f2d867
8169f69f1b49430995cc7979524903be
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
repository.mail.fl_str_mv lume@ufrgs.br||lume@ufrgs.br
_version_ 1800309180570009600