Obtencao de filmes dieletricos para aplicacoes oticas com monitoracao otica de espessura

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Hickmann, Jandir Miguel
Data de Publicação: 1988
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/165876
Resumo: Foi construído um sistema ótico para controlar a espessura de filmes finos num evaporador de alto vácuo. Foi medida a reflexão "in situ" de um filme fino depositado num substrato apropriado. O cálculo da transmissividade e refletividade de filmes dielétricos, divisores de feixes e filtros também é descrito. O problema inverso, que é obter um filme com propiedades de reflexão e/ou transmissão pré-determinadas também é analisado. Também são dados programas que calculam as propriedades de um filme fino e os desenham. Finalmente é descrita a fabricação de espelhos dielétricos para um Fabry-Per,ot e um divisor de feixe no evaporador de alto vácuo.
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spelling Hickmann, Jandir MiguelFrancke Sandoval, Ricardo Eugenio2017-08-29T02:34:08Z1988http://hdl.handle.net/10183/165876000014595Foi construído um sistema ótico para controlar a espessura de filmes finos num evaporador de alto vácuo. Foi medida a reflexão "in situ" de um filme fino depositado num substrato apropriado. O cálculo da transmissividade e refletividade de filmes dielétricos, divisores de feixes e filtros também é descrito. O problema inverso, que é obter um filme com propiedades de reflexão e/ou transmissão pré-determinadas também é analisado. Também são dados programas que calculam as propriedades de um filme fino e os desenham. Finalmente é descrita a fabricação de espelhos dielétricos para um Fabry-Per,ot e um divisor de feixe no evaporador de alto vácuo.An optical monitoring system was built to control the thickness of thin film in a high vacuum evaporator. In this system we measured the in-situ reflection from a thin film deposited on an appropriate substrate. The calculation of the transmission and reflection from a multilayer thin film as used in dielectric mirrors, beam splitlers and filters is also described. The inverse problem, that is to obtain a film with predetermined reflection and trasmissiom, is also studied. Computer program for calculating thin film and designing them are also given. Finally we describe the fabrication of Fabry-Perot dielectric mirrors and a beam-splitter in our high vacuum evaporator.application/pdfporFilmes finosOticaFilmes finos dieletricosFisica de laserObtencao de filmes dieletricos para aplicacoes oticas com monitoracao otica de espessurainfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de FísicaCurso de Pós-Graduação em FísicaPorto Alegre, BR-RS1988.mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000014595.pdf000014595.pdfTexto completoapplication/pdf19360715http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/165876/1/000014595.pdfe654c160234078af8de94a433160732aMD51TEXT000014595.pdf.txt000014595.pdf.txtExtracted Texttext/plain186928http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/165876/2/000014595.pdf.txte66b7107f30a62035abb284cd8d4de5eMD52THUMBNAIL000014595.pdf.jpg000014595.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1493http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/165876/3/000014595.pdf.jpg147ee4b308dbbd9cea2f509de7e42dd0MD5310183/1658762023-08-16 03:33:39.099352oai:www.lume.ufrgs.br:10183/165876Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532023-08-16T06:33:39Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
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