Evaluating the impact of charge traps on MOSFETs and ciruits

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Camargo, Vinícius Valduga de Almeida
Data de Publicação: 2016
Tipo de documento: Tese
Idioma: eng
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/150857
Resumo: Nesta tese são apresentados estudos do impacto de armadilhas no desempenho elétrico de MOSFETs em nível de circuito e um simulador Ensamble Monte Carlo (EMC) é apresentado visando a análise do impacto de armadilhas em nível de dispositivo. O impacto de eventos de captura e emissão de portadores por armadilhas na performance e confiabilidade de circuitos é estudada. Para tanto, um simulador baseado em SPICE que leva em consideração a atividade de armadilhas em simulações transientes foi desenvolvido e é apresentado seguido de estudos de caso em células SRAM, circuitos combinacionais, ferramentas de SSTA e em osciladores em anel. Foi também desenvolvida uma ferramenta de simulação de dispositivo (TCAD) atomística baseada no método EMC para MOSFETs do tipo p. Este simulador é apresentado em detalhes e seu funcionamento é testado conceitualmente e através de comparações com ferramentas comerciais similares.
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