Metodologia de análise da variabilidade em FPGA

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Amaral, Raul Vieira
Data de Publicação: 2010
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/27934
Resumo: Este trabalho visa propor uma metodologia de análise da variabilidade do tempo de atraso de propagação no FPGA. Para alcançar esse objetivo são utilizados três circuitos diferentes: o circuito 1 mede a diferença de atrasos de dois circuitos, o circuito 2 identifica o atraso menor de dois circuitos e, por fim, o terceiro circuito que consiste do oscilador em anel. Cada circuito foi avaliado individualmente numa estrutura BIST, implementada nos FPGA XC3S200-FT256 e EP2C35F672C6. Os métodos utilizados para análise dos dados foram a média móvel, o plano de mínimos quadrados e o teste t-student. A metodologia permitiu mostrar a variabilidade within-die e suas componentes sistêmica e randômica.
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spelling Amaral, Raul VieiraWirth, Gilson Inacio2011-03-01T05:59:28Z2010http://hdl.handle.net/10183/27934000765011Este trabalho visa propor uma metodologia de análise da variabilidade do tempo de atraso de propagação no FPGA. Para alcançar esse objetivo são utilizados três circuitos diferentes: o circuito 1 mede a diferença de atrasos de dois circuitos, o circuito 2 identifica o atraso menor de dois circuitos e, por fim, o terceiro circuito que consiste do oscilador em anel. Cada circuito foi avaliado individualmente numa estrutura BIST, implementada nos FPGA XC3S200-FT256 e EP2C35F672C6. Os métodos utilizados para análise dos dados foram a média móvel, o plano de mínimos quadrados e o teste t-student. A metodologia permitiu mostrar a variabilidade within-die e suas componentes sistêmica e randômica.This work aims to propose a methodology of analysis of variability of propagation-delay time in FPGA. To achieve this goal three different circuits are implemented: the circuit 1 measures the delay difference of two logic paths, the circuit 2 identifies smallest delay of two logic paths, and finally the third circuit consists of a ring oscillator. Each circuit has been assessed individually in a BIST structure, implemented in FPGAs XC3S200-FT256 and EP2C35F672C6. The methods used for data analysis were the moving average, least-squares plane and the t-student test. The methodology has allowed to evaluate the within-die variability and its systemic and random components.application/pdfporFpgaCircuitos digitaisSistemas digitaisElectrical engineeringFPGAVariabilityPropagation-delay TimeDelayWithin-dieMetodologia de análise da variabilidade em FPGAinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulEscola de EngenhariaPrograma de Pós-Graduação em Engenharia ElétricaPorto Alegre, BR-RS2010mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSTEXT000765011.pdf.txt000765011.pdf.txtExtracted Texttext/plain191409http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/27934/2/000765011.pdf.txt9f631718d31b6398c4fe11df2e1f1518MD52ORIGINAL000765011.pdf000765011.pdfTexto completoapplication/pdf1831769http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/27934/1/000765011.pdfa9774943c054b707eec5c56ddd23a3afMD51THUMBNAIL000765011.pdf.jpg000765011.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1052http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/27934/3/000765011.pdf.jpgab250ccd2a10b4f42b2c7279589b78b1MD5310183/279342018-10-08 09:19:31.512oai:www.lume.ufrgs.br:10183/27934Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-08T12:19:31Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
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