Modelo funcional de memória NAND Flash com injeção de falhas caracterizadas

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Lopes, Guilherme Ferreira
Data de Publicação: 2018
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UNISINOS (RBDU Repositório Digital da Biblioteca da Unisinos)
Texto Completo: http://www.repositorio.jesuita.org.br/handle/UNISINOS/7288
Resumo: CAPES - Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior
id USIN_d2122e69bd247cd6c2f3164cc66bd358
oai_identifier_str oai:www.repositorio.jesuita.org.br:UNISINOS/7288
network_acronym_str USIN
network_name_str Repositório Institucional da UNISINOS (RBDU Repositório Digital da Biblioteca da Unisinos)
repository_id_str
spelling 2018-09-21T17:00:26Z2018-09-21T17:00:26Z2018-05-28Submitted by JOSIANE SANTOS DE OLIVEIRA (josianeso) on 2018-09-21T17:00:26Z No. of bitstreams: 1 Guilherme Ferreira Lopes_.pdf: 4084198 bytes, checksum: ddd09816e33c4ef8fac72a3f74fcc9d5 (MD5)Made available in DSpace on 2018-09-21T17:00:26Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Guilherme Ferreira Lopes_.pdf: 4084198 bytes, checksum: ddd09816e33c4ef8fac72a3f74fcc9d5 (MD5) Previous issue date: 2018-05-28CAPES - Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível SuperiorA memória NAND Flash lidera o mercado de memórias não voláteis por prover soluções para aplicações móveis, juntando alta densidade de armazenamento em uma área de silício muito pequena e consumindo pouca energia (RICHTER, 2014). Devido à mecanismos específicos para a realização de operações na memória, elas se tornam suscetíveis à falhas funcionais de interferências, assim aumentando a importância do teste(HOU; LI, 2014). Esta dissertação apresenta o projeto de um modelo funcional de memória NAND Flash com inserção de falhas caracterizadas em 2 etapas, a primeira etapa ocorreu utilizando a ferramenta LogisimTM, projetada para desenvolver e simular circuitos lógicos de forma que possam ser apresentados visualmente, a segunda etapa consistiu no desenvolvimento também de forma modular e escalar em linguagem de descrição de hardware (VHDL). As 2 ferramentas possuem a implementação de um circuito de injeção de falhas, capaz de simular e aplicar falhas funcionais de interferência e stuck-at na memória desenvolvida. Com base no modelo comercial de memórias NAND Flash, o trabalho visa desenvolver os circuitos presentes na memória, respeitando a organização dos sinais e a organização das células em páginas e blocos, sendo uma característica específica para memórias NAND Flash. Após o desenvolvimento do modelo funcional, ocorreu a primeira etapa de verificação e validação da memória, composta pela varredura de endereços, criação e comparação dos valores esperados com valores de saída e utilização de algoritmos de teste para a validação final, finalizando o projeto com a verificação e validação de cada falha injetada para que assim tenha-se um modelo funcional de uma memória NAND Flash capaz de inserir uma determinada falha na posição exata da matriz de memória. Após a modelagem realizou-se simulações para avaliar aplicabilidade do projeto desenvolvido e os resultados mostram o atingimento de 100% de cobertura das falhas desenvolvidas, chegando ao objetivo de criar um modelo funcional para possibilitar a inserção de falhas foi atingido.Lopes, Guilherme Ferreirahttp://lattes.cnpq.br/5353531202872378http://lattes.cnpq.br/3524433143718420Prade, Lucio Renêhttp://lattes.cnpq.br/6011299816045062Krug, Margrit ReniUniversidade do Vale do Rio dos SinosPrograma de Pós-Graduação em Engenharia ElétricaUnisinosBrasilEscola PolitécnicaModelo funcional de memória NAND Flash com injeção de falhas caracterizadasACCNPQ::Engenharias::Engenharia ElétricaModelo funcionalMemória NAND FlashInserção de FalhasLogisimTM. VHDLAlgoritmo de testeInterferênciaStuck-atinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesishttp://www.repositorio.jesuita.org.br/handle/UNISINOS/7288info:eu-repo/semantics/openAccessporreponame:Repositório Institucional da UNISINOS (RBDU Repositório Digital da Biblioteca da Unisinos)instname:Universidade do Vale do Rio dos Sinos (UNISINOS)instacron:UNISINOSORIGINALGuilherme Ferreira Lopes_.pdfGuilherme Ferreira Lopes_.pdfapplication/pdf4084198http://repositorio.jesuita.org.br/bitstream/UNISINOS/7288/1/Guilherme+Ferreira+Lopes_.pdfddd09816e33c4ef8fac72a3f74fcc9d5MD51LICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-82175http://repositorio.jesuita.org.br/bitstream/UNISINOS/7288/2/license.txt320e21f23402402ac4988605e1edd177MD52UNISINOS/72882018-09-21 14:01:34.399oai:www.repositorio.jesuita.org.br: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 Digital de Teses e Dissertaçõeshttp://www.repositorio.jesuita.org.br/oai/requestopendoar:2018-09-21T17:01:34Repositório Institucional da UNISINOS (RBDU Repositório Digital da Biblioteca da Unisinos) - Universidade do Vale do Rio dos Sinos (UNISINOS)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Modelo funcional de memória NAND Flash com injeção de falhas caracterizadas
title Modelo funcional de memória NAND Flash com injeção de falhas caracterizadas
spellingShingle Modelo funcional de memória NAND Flash com injeção de falhas caracterizadas
Lopes, Guilherme Ferreira
ACCNPQ::Engenharias::Engenharia Elétrica
Modelo funcional
Memória NAND Flash
Inserção de Falhas
LogisimTM. VHDL
Algoritmo de teste
Interferência
Stuck-at
title_short Modelo funcional de memória NAND Flash com injeção de falhas caracterizadas
title_full Modelo funcional de memória NAND Flash com injeção de falhas caracterizadas
title_fullStr Modelo funcional de memória NAND Flash com injeção de falhas caracterizadas
title_full_unstemmed Modelo funcional de memória NAND Flash com injeção de falhas caracterizadas
title_sort Modelo funcional de memória NAND Flash com injeção de falhas caracterizadas
author Lopes, Guilherme Ferreira
author_facet Lopes, Guilherme Ferreira
author_role author
dc.contributor.authorLattes.pt_BR.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/5353531202872378
dc.contributor.advisorLattes.pt_BR.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/3524433143718420
dc.contributor.author.fl_str_mv Lopes, Guilherme Ferreira
dc.contributor.advisor-co1.fl_str_mv Prade, Lucio Renê
dc.contributor.advisor-co1Lattes.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/6011299816045062
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Krug, Margrit Reni
contributor_str_mv Prade, Lucio Renê
Krug, Margrit Reni
dc.subject.cnpq.fl_str_mv ACCNPQ::Engenharias::Engenharia Elétrica
topic ACCNPQ::Engenharias::Engenharia Elétrica
Modelo funcional
Memória NAND Flash
Inserção de Falhas
LogisimTM. VHDL
Algoritmo de teste
Interferência
Stuck-at
dc.subject.por.fl_str_mv Modelo funcional
Memória NAND Flash
Inserção de Falhas
LogisimTM. VHDL
Algoritmo de teste
Interferência
Stuck-at
description CAPES - Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior
publishDate 2018
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2018-09-21T17:00:26Z
dc.date.available.fl_str_mv 2018-09-21T17:00:26Z
dc.date.issued.fl_str_mv 2018-05-28
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://www.repositorio.jesuita.org.br/handle/UNISINOS/7288
url http://www.repositorio.jesuita.org.br/handle/UNISINOS/7288
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidade do Vale do Rio dos Sinos
dc.publisher.program.fl_str_mv Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
dc.publisher.initials.fl_str_mv Unisinos
dc.publisher.country.fl_str_mv Brasil
dc.publisher.department.fl_str_mv Escola Politécnica
publisher.none.fl_str_mv Universidade do Vale do Rio dos Sinos
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da UNISINOS (RBDU Repositório Digital da Biblioteca da Unisinos)
instname:Universidade do Vale do Rio dos Sinos (UNISINOS)
instacron:UNISINOS
instname_str Universidade do Vale do Rio dos Sinos (UNISINOS)
instacron_str UNISINOS
institution UNISINOS
reponame_str Repositório Institucional da UNISINOS (RBDU Repositório Digital da Biblioteca da Unisinos)
collection Repositório Institucional da UNISINOS (RBDU Repositório Digital da Biblioteca da Unisinos)
bitstream.url.fl_str_mv http://repositorio.jesuita.org.br/bitstream/UNISINOS/7288/1/Guilherme+Ferreira+Lopes_.pdf
http://repositorio.jesuita.org.br/bitstream/UNISINOS/7288/2/license.txt
bitstream.checksum.fl_str_mv ddd09816e33c4ef8fac72a3f74fcc9d5
320e21f23402402ac4988605e1edd177
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da UNISINOS (RBDU Repositório Digital da Biblioteca da Unisinos) - Universidade do Vale do Rio dos Sinos (UNISINOS)
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1801845012292435968

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