Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2014 |
Outros Autores: | , |
Tipo de documento: | Artigo |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Repositório Institucional da FURG (RI FURG) |
Texto Completo: | http://repositorio.furg.br/handle/1/4810 |
Resumo: | Os avanços tecnológicos em circuitos integrados tem como foco principal a redução da dimensão dos transistores. No entanto, esta redução traz consequências indesejáveis, como o possível aumento no número de falhas. Neste contexto, este trabalho tem por objetivo analisar o comportamento de um tipo de falha permanente que ocorre em transistores MOS chamada de Stuck-On. Esta falha se caracteriza por manter um transistor sempre conduzindo, e sua principal característica para detecção é que o consumo de potência de um circuito tende a ser muito maior. Em nanotecnologias, a potência total sofre ainda com o aumento do consumo estático das novas tecnologias. Isso torna relevante avaliar o comportamento de portas lógicas em tecnologias nanométricas na presença de falhas Stuck-On. Para isso, foi adotado um conjunto de portas lógicas em tecnologia CMOS, injetando falhas únicas Stuck-On nos circuitos e avaliando os efeitos da falha no consumo de potência. Além disso, este trabalho investiga o impacto de inserir técnicas de tolerância a falhas para que o circuito continue em funcionamento correto mesmo na presença de falhas. Foi adotada a técnica de TMR nas portas lógicas avaliadas, comprovando a tolerância a falhas individuais e demonstrando o impacto nas características de potência, desempenho e área. |
id |
FURG_22f380e5d3fe10da2691c0847ca1d3ae |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:repositorio.furg.br:1/4810 |
network_acronym_str |
FURG |
network_name_str |
Repositório Institucional da FURG (RI FURG) |
repository_id_str |
|
spelling |
Zimpeck, Alexandra LackmannMeinhardt, CristinaButzen, Paulo Francisco2015-04-29T17:31:29Z2015-04-29T17:31:29Z2014ZIMPECK, Alexandra Lackmann; MEINHARDT, Cristina; BUTZEN, Paulo Francisco. Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias. Revista Junior de Iniciação Científica em Ciências Exatas e Engenharia, v. 1, n. 7, p. 1-10, 2014. Disponível em:<http://www.icceeg.c3.furg.br/index.php?Itemid=837&option=bloco_texto&id_site_componente=1241>. Acesso em: 08 abr. 2015.2236-0093http://repositorio.furg.br/handle/1/4810Os avanços tecnológicos em circuitos integrados tem como foco principal a redução da dimensão dos transistores. No entanto, esta redução traz consequências indesejáveis, como o possível aumento no número de falhas. Neste contexto, este trabalho tem por objetivo analisar o comportamento de um tipo de falha permanente que ocorre em transistores MOS chamada de Stuck-On. Esta falha se caracteriza por manter um transistor sempre conduzindo, e sua principal característica para detecção é que o consumo de potência de um circuito tende a ser muito maior. Em nanotecnologias, a potência total sofre ainda com o aumento do consumo estático das novas tecnologias. Isso torna relevante avaliar o comportamento de portas lógicas em tecnologias nanométricas na presença de falhas Stuck-On. Para isso, foi adotado um conjunto de portas lógicas em tecnologia CMOS, injetando falhas únicas Stuck-On nos circuitos e avaliando os efeitos da falha no consumo de potência. Além disso, este trabalho investiga o impacto de inserir técnicas de tolerância a falhas para que o circuito continue em funcionamento correto mesmo na presença de falhas. Foi adotada a técnica de TMR nas portas lógicas avaliadas, comprovando a tolerância a falhas individuais e demonstrando o impacto nas características de potência, desempenho e área.porTecnologia CMOSPortas lógicasStuck-onTolerância a falhasAnálise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologiasinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da FURG (RI FURG)instname:Universidade Federal do Rio Grande (FURG)instacron:FURGORIGINALAnálise do comportamento de portas lógicas.pdfAnálise do comportamento de portas lógicas.pdfapplication/pdf494543https://repositorio.furg.br/bitstream/1/4810/1/An%c3%a1lise%20do%20comportamento%20de%20portas%20l%c3%b3gicas.pdf5ab7f4e74204c069f51ca3f16437e2cdMD51open accessLICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-81748https://repositorio.furg.br/bitstream/1/4810/2/license.txt8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33MD52open access1/48102015-04-29 14:31:30.012open accessoai:repositorio.furg.br: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Repositório InstitucionalPUBhttps://repositorio.furg.br/oai/request || http://200.19.254.174/oai/requestopendoar:2015-04-29T17:31:30Repositório Institucional da FURG (RI FURG) - Universidade Federal do Rio Grande (FURG)false |
dc.title.pt_BR.fl_str_mv |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
title |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
spellingShingle |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias Zimpeck, Alexandra Lackmann Tecnologia CMOS Portas lógicas Stuck-on Tolerância a falhas |
title_short |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
title_full |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
title_fullStr |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
title_full_unstemmed |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
title_sort |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
author |
Zimpeck, Alexandra Lackmann |
author_facet |
Zimpeck, Alexandra Lackmann Meinhardt, Cristina Butzen, Paulo Francisco |
author_role |
author |
author2 |
Meinhardt, Cristina Butzen, Paulo Francisco |
author2_role |
author author |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
Zimpeck, Alexandra Lackmann Meinhardt, Cristina Butzen, Paulo Francisco |
dc.subject.por.fl_str_mv |
Tecnologia CMOS Portas lógicas Stuck-on Tolerância a falhas |
topic |
Tecnologia CMOS Portas lógicas Stuck-on Tolerância a falhas |
description |
Os avanços tecnológicos em circuitos integrados tem como foco principal a redução da dimensão dos transistores. No entanto, esta redução traz consequências indesejáveis, como o possível aumento no número de falhas. Neste contexto, este trabalho tem por objetivo analisar o comportamento de um tipo de falha permanente que ocorre em transistores MOS chamada de Stuck-On. Esta falha se caracteriza por manter um transistor sempre conduzindo, e sua principal característica para detecção é que o consumo de potência de um circuito tende a ser muito maior. Em nanotecnologias, a potência total sofre ainda com o aumento do consumo estático das novas tecnologias. Isso torna relevante avaliar o comportamento de portas lógicas em tecnologias nanométricas na presença de falhas Stuck-On. Para isso, foi adotado um conjunto de portas lógicas em tecnologia CMOS, injetando falhas únicas Stuck-On nos circuitos e avaliando os efeitos da falha no consumo de potência. Além disso, este trabalho investiga o impacto de inserir técnicas de tolerância a falhas para que o circuito continue em funcionamento correto mesmo na presença de falhas. Foi adotada a técnica de TMR nas portas lógicas avaliadas, comprovando a tolerância a falhas individuais e demonstrando o impacto nas características de potência, desempenho e área. |
publishDate |
2014 |
dc.date.issued.fl_str_mv |
2014 |
dc.date.accessioned.fl_str_mv |
2015-04-29T17:31:29Z |
dc.date.available.fl_str_mv |
2015-04-29T17:31:29Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/article |
format |
article |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.citation.fl_str_mv |
ZIMPECK, Alexandra Lackmann; MEINHARDT, Cristina; BUTZEN, Paulo Francisco. Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias. Revista Junior de Iniciação Científica em Ciências Exatas e Engenharia, v. 1, n. 7, p. 1-10, 2014. Disponível em:<http://www.icceeg.c3.furg.br/index.php?Itemid=837&option=bloco_texto&id_site_componente=1241>. Acesso em: 08 abr. 2015. |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
http://repositorio.furg.br/handle/1/4810 |
dc.identifier.issn.none.fl_str_mv |
2236-0093 |
identifier_str_mv |
ZIMPECK, Alexandra Lackmann; MEINHARDT, Cristina; BUTZEN, Paulo Francisco. Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias. Revista Junior de Iniciação Científica em Ciências Exatas e Engenharia, v. 1, n. 7, p. 1-10, 2014. Disponível em:<http://www.icceeg.c3.furg.br/index.php?Itemid=837&option=bloco_texto&id_site_componente=1241>. Acesso em: 08 abr. 2015. 2236-0093 |
url |
http://repositorio.furg.br/handle/1/4810 |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Repositório Institucional da FURG (RI FURG) instname:Universidade Federal do Rio Grande (FURG) instacron:FURG |
instname_str |
Universidade Federal do Rio Grande (FURG) |
instacron_str |
FURG |
institution |
FURG |
reponame_str |
Repositório Institucional da FURG (RI FURG) |
collection |
Repositório Institucional da FURG (RI FURG) |
bitstream.url.fl_str_mv |
https://repositorio.furg.br/bitstream/1/4810/1/An%c3%a1lise%20do%20comportamento%20de%20portas%20l%c3%b3gicas.pdf https://repositorio.furg.br/bitstream/1/4810/2/license.txt |
bitstream.checksum.fl_str_mv |
5ab7f4e74204c069f51ca3f16437e2cd 8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33 |
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv |
MD5 MD5 |
repository.name.fl_str_mv |
Repositório Institucional da FURG (RI FURG) - Universidade Federal do Rio Grande (FURG) |
repository.mail.fl_str_mv |
|
_version_ |
1798313624259788800 |