Sinais gerados por um sensor que capta as deflecções de uma microviga, com comportamento não linear, de um microscópio de força atômica

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Brasil, Reyolando Manoel Lopes Rebello da Fonseca
Data de Publicação: 2014
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da USP (Biblioteca Digital da Produção Intelectual)
Texto Completo: http://www.conem2014.com.br/ANAIS/PDFS/CONEM2014-0315.PDF
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