Study of proton radiation effects among diamond and rectangular gate MOSFET layouts
Autor(a) principal: | |
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Data de Publicação: | 2017 |
Tipo de documento: | Artigo |
Texto Completo: | http://iopscience.iop.org/article/10.1088/2053-1591/4/1/015901 |
id |
USP-2_207cd5fb4776c490a509663911c58469 |
---|---|
oai_identifier_str |
002845815 |
network_name_str |
Repositório Institucional da USP (Biblioteca Digital da Produção Intelectual) |
title |
Study of proton radiation effects among diamond and rectangular gate MOSFET layouts |
author |
Gimenez, S P |
topic |
RADIAÇÃO IONIZANTE |
publishDate |
2017 |
format |
article |
url |
http://iopscience.iop.org/article/10.1088/2053-1591/4/1/015901 |
instname_str |
Universidade de São Paulo (USP) |
instacron_str |
USP |