Exportação concluída — 

Study of proton radiation effects among diamond and rectangular gate MOSFET layouts

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Gimenez, S P
Data de Publicação: 2017
Tipo de documento: Artigo
Texto Completo: http://iopscience.iop.org/article/10.1088/2053-1591/4/1/015901
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title Study of proton radiation effects among diamond and rectangular gate MOSFET layouts
author Gimenez, S P
topic RADIAÇÃO IONIZANTE
publishDate 2017
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url http://iopscience.iop.org/article/10.1088/2053-1591/4/1/015901
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