Caracterização elétrica de espelhos de corrente baseados em transistores GC SOI MOSFET em função da temperatura.
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2004 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP |
Texto Completo: | https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-09102024-090917/ |
Resumo: | Este trabalho realiza um estudo comparativo das características analógicas de saída de espelhos de corrente (Current Mirror, CM) fabricados com transistores SOI com dopagem assimétrica na região do canal (Graded-Channel, GC) e SOI convencionais operando desde temperatura ambiente até altas temperaturas. Simulações numéricas bidimensionais e resultados experimentais são utilizados para permitir o entendimento das componentes físicas que influenciam os resultados obtidos. Por meio das simulações numéricas foi possível tornar desprezível o descasamento, devido à variação nas dimensões e na tensão de limiar, dos transistores do espelho de corrente, permitindo a observação de que a estrutura GC SOI beneficia a precisão de espelhamento. O CM GC SOI sofre uma menor influência da modulação do comprimento de canal, graças à reduzida condutância de saída dos dispositivos GC SOI. Os benefícios da estrutura GC também melhoram a excursão de saída de espelhos de corrente, decorrente da elevação da tensão de ruptura do dreno. É verificada também uma leve melhora na precisão dos CM GC SOI operando no ponto invariante com a temperatura. Os resultados experimentais comprovaram as tendências observadas por simulação, na precisão do espelhamento e na excursão de saída operando em altas temperaturas, tanto para espelhos de corrente com dispositivos GC SOI de comprimento de canal de 4mm quanto para 2mm. Um estudo da resistência de saída é apresentado, e os resultados indicam que os espelhos de corrente com GC SOI não sofrem variação significativa ao elevar a temperatura, mantendo-se sempre com altos valores em relação ao dispositivo convencional. ) Os resultados mostram que os espelhos de corrente utilizando GC SOI representam uma excelente alternativa para a construção destes blocos analógicos operando desde a temperatura ambiente até altas temperaturas, com significativas melhoras em relação aos espelhos de corrente feitos com transistores SOI convencionais, especialmente em aplicações de baixa tensão de alimentação e baixa potência consumida. |
id |
USP_0e53fcc88ebd3e4d6524083e5ef7c2a9 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:teses.usp.br:tde-09102024-090917 |
network_acronym_str |
USP |
network_name_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP |
repository_id_str |
2721 |
spelling |
Caracterização elétrica de espelhos de corrente baseados em transistores GC SOI MOSFET em função da temperatura.Untitled in englishCircuitos eletrônicosElectronic circuitsTransistores (Características)Transistors (Characteristics)Este trabalho realiza um estudo comparativo das características analógicas de saída de espelhos de corrente (Current Mirror, CM) fabricados com transistores SOI com dopagem assimétrica na região do canal (Graded-Channel, GC) e SOI convencionais operando desde temperatura ambiente até altas temperaturas. Simulações numéricas bidimensionais e resultados experimentais são utilizados para permitir o entendimento das componentes físicas que influenciam os resultados obtidos. Por meio das simulações numéricas foi possível tornar desprezível o descasamento, devido à variação nas dimensões e na tensão de limiar, dos transistores do espelho de corrente, permitindo a observação de que a estrutura GC SOI beneficia a precisão de espelhamento. O CM GC SOI sofre uma menor influência da modulação do comprimento de canal, graças à reduzida condutância de saída dos dispositivos GC SOI. Os benefícios da estrutura GC também melhoram a excursão de saída de espelhos de corrente, decorrente da elevação da tensão de ruptura do dreno. É verificada também uma leve melhora na precisão dos CM GC SOI operando no ponto invariante com a temperatura. Os resultados experimentais comprovaram as tendências observadas por simulação, na precisão do espelhamento e na excursão de saída operando em altas temperaturas, tanto para espelhos de corrente com dispositivos GC SOI de comprimento de canal de 4mm quanto para 2mm. Um estudo da resistência de saída é apresentado, e os resultados indicam que os espelhos de corrente com GC SOI não sofrem variação significativa ao elevar a temperatura, mantendo-se sempre com altos valores em relação ao dispositivo convencional. ) Os resultados mostram que os espelhos de corrente utilizando GC SOI representam uma excelente alternativa para a construção destes blocos analógicos operando desde a temperatura ambiente até altas temperaturas, com significativas melhoras em relação aos espelhos de corrente feitos com transistores SOI convencionais, especialmente em aplicações de baixa tensão de alimentação e baixa potência consumida.This work presents a comparative study of the current mirror (CM) analog output characteristics made with asymmetrically doped SOI transistors (Graded-Channel, GC) and conventional SOI devices from room temperature up to high temperature operation. Two-dimensional simulations and experimental results are used to allow the understanding of the physical components that influence the obtained results. The use of numerical simulations allowed making the mismacth due to the variation of the device dimensions and threshold voltage neglegible in the current mirror transistors, emphasizing that the GC SOI structure improves in the mirroring precision. This happens because the GC device suffers a smaller influence of the channel length modulation due to drain bias leading to a reduced output conductance of the GC SOI devices. The benefits of the GC structure also improve the current mirror output swing, due to the increase of the drain breakdown voltage. It is also verified a slighly improvement in the CM GC SOI mirroring precision operating at the zero temperature coefficient poit. The experimental results confirmed the tendencies observed by simulation, in the mirroring precision and output swing operating in the high temperatures, for current mirrors with GC SOI devices presenting channel length of 4mm and 2mm. A study of the output resistance is presented, and the results indicate that the CM GC SOI do not suffer significant variation when raising thetemperature, always keeping with high values than the canventional SOI. The results show that the current mirrors using GC SOI are a good alternative for building these analog blocks operating from room temperature up to high temperatures, with remarkable improvements with respect to the current mirror made with conventional transistors, mainly in low-power low-voltage applications.Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USPPavanello, Marcelo AntonioFerreira, Renato Silva2004-07-02info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdfhttps://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-09102024-090917/reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USPinstname:Universidade de São Paulo (USP)instacron:USPLiberar o conteúdo para acesso público.info:eu-repo/semantics/openAccesspor2024-10-09T12:21:02Zoai:teses.usp.br:tde-09102024-090917Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttp://www.teses.usp.br/PUBhttp://www.teses.usp.br/cgi-bin/mtd2br.plvirginia@if.usp.br|| atendimento@aguia.usp.br||virginia@if.usp.bropendoar:27212024-10-09T12:21:02Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP - Universidade de São Paulo (USP)false |
dc.title.none.fl_str_mv |
Caracterização elétrica de espelhos de corrente baseados em transistores GC SOI MOSFET em função da temperatura. Untitled in english |
title |
Caracterização elétrica de espelhos de corrente baseados em transistores GC SOI MOSFET em função da temperatura. |
spellingShingle |
Caracterização elétrica de espelhos de corrente baseados em transistores GC SOI MOSFET em função da temperatura. Ferreira, Renato Silva Circuitos eletrônicos Electronic circuits Transistores (Características) Transistors (Characteristics) |
title_short |
Caracterização elétrica de espelhos de corrente baseados em transistores GC SOI MOSFET em função da temperatura. |
title_full |
Caracterização elétrica de espelhos de corrente baseados em transistores GC SOI MOSFET em função da temperatura. |
title_fullStr |
Caracterização elétrica de espelhos de corrente baseados em transistores GC SOI MOSFET em função da temperatura. |
title_full_unstemmed |
Caracterização elétrica de espelhos de corrente baseados em transistores GC SOI MOSFET em função da temperatura. |
title_sort |
Caracterização elétrica de espelhos de corrente baseados em transistores GC SOI MOSFET em função da temperatura. |
author |
Ferreira, Renato Silva |
author_facet |
Ferreira, Renato Silva |
author_role |
author |
dc.contributor.none.fl_str_mv |
Pavanello, Marcelo Antonio |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
Ferreira, Renato Silva |
dc.subject.por.fl_str_mv |
Circuitos eletrônicos Electronic circuits Transistores (Características) Transistors (Characteristics) |
topic |
Circuitos eletrônicos Electronic circuits Transistores (Características) Transistors (Characteristics) |
description |
Este trabalho realiza um estudo comparativo das características analógicas de saída de espelhos de corrente (Current Mirror, CM) fabricados com transistores SOI com dopagem assimétrica na região do canal (Graded-Channel, GC) e SOI convencionais operando desde temperatura ambiente até altas temperaturas. Simulações numéricas bidimensionais e resultados experimentais são utilizados para permitir o entendimento das componentes físicas que influenciam os resultados obtidos. Por meio das simulações numéricas foi possível tornar desprezível o descasamento, devido à variação nas dimensões e na tensão de limiar, dos transistores do espelho de corrente, permitindo a observação de que a estrutura GC SOI beneficia a precisão de espelhamento. O CM GC SOI sofre uma menor influência da modulação do comprimento de canal, graças à reduzida condutância de saída dos dispositivos GC SOI. Os benefícios da estrutura GC também melhoram a excursão de saída de espelhos de corrente, decorrente da elevação da tensão de ruptura do dreno. É verificada também uma leve melhora na precisão dos CM GC SOI operando no ponto invariante com a temperatura. Os resultados experimentais comprovaram as tendências observadas por simulação, na precisão do espelhamento e na excursão de saída operando em altas temperaturas, tanto para espelhos de corrente com dispositivos GC SOI de comprimento de canal de 4mm quanto para 2mm. Um estudo da resistência de saída é apresentado, e os resultados indicam que os espelhos de corrente com GC SOI não sofrem variação significativa ao elevar a temperatura, mantendo-se sempre com altos valores em relação ao dispositivo convencional. ) Os resultados mostram que os espelhos de corrente utilizando GC SOI representam uma excelente alternativa para a construção destes blocos analógicos operando desde a temperatura ambiente até altas temperaturas, com significativas melhoras em relação aos espelhos de corrente feitos com transistores SOI convencionais, especialmente em aplicações de baixa tensão de alimentação e baixa potência consumida. |
publishDate |
2004 |
dc.date.none.fl_str_mv |
2004-07-02 |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/masterThesis |
format |
masterThesis |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-09102024-090917/ |
url |
https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-09102024-090917/ |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.relation.none.fl_str_mv |
|
dc.rights.driver.fl_str_mv |
Liberar o conteúdo para acesso público. info:eu-repo/semantics/openAccess |
rights_invalid_str_mv |
Liberar o conteúdo para acesso público. |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf |
dc.coverage.none.fl_str_mv |
|
dc.publisher.none.fl_str_mv |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP |
publisher.none.fl_str_mv |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP instname:Universidade de São Paulo (USP) instacron:USP |
instname_str |
Universidade de São Paulo (USP) |
instacron_str |
USP |
institution |
USP |
reponame_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP |
collection |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP |
repository.name.fl_str_mv |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP - Universidade de São Paulo (USP) |
repository.mail.fl_str_mv |
virginia@if.usp.br|| atendimento@aguia.usp.br||virginia@if.usp.br |
_version_ |
1815256498936217600 |