Novo arranjo para determinar os coeficientes de emissão e a distribuição de energia dos elétrons secundários emitidos por sólidos

• Autor(a) principal: Pintao, Carlos Alberto Fonzar
• Data de Publicação: 1996
• Tipo de documento: Tese
• Idioma: por
• Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP
• Texto Completo: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-14112007-091415/
• topic: Coefficients of the emission; Coeficientes de emissão; Distribuição de elétrons secundários; Elétrons secundários; Secondary electrons; Secondary electrons distribution

Neste trabalho estudou-se um novo arranjo de medida para se obter a distribuição de energia dos elétrons secundários emitidos e os coeficientes de emissão por um sólido. Pelo fato deste arranjo permitir a medida direta do potencial de superfície no caso dos polímeros e da ddp de contato no caso dos metais, foi possível aplicar e descrever teoricamente o método de medida empregado para determinar o espectro energético dos secundários para a platina, Teflon-FEP, Mylar, PVDF- α, PVDF- β e polimero condutor. As cargas acumuladas durante a irradiação dos polímeros foram compensadas através do próprio feixe eletrônico. Este procedimento não é muito usual em relação aqueles aplicados na literatura e mostrou-se bastante eficaz. Pela primeira vez empregou-se o método dinâmico para determinar o coeficiente de emissão total em função da energia dos elétrons incidentes nos metais e verificou-se que estes resultados são idênticos aqueles obtidos pelo método do pulso. Um desdobramento natural ao aplicar o método dinâmico aos metais foram as medidas realizadas para camadas de ouro com espessura de 50 nm, 10 nm e 2,5 nm depositada sobre o Teflon-FEP, que deram origem ao modelo das duas camadas na interpretação dos resultados experimentais.