Estimação não-paramétrica da taxa de falha acumulada de um processo pontual

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Mendes, Fabrizio Teixeira
Data de Publicação: 2003
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP
Texto Completo: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-10112014-164502/
Resumo: Vários autores tem construído estimadores de Bayes nâo-paramétricos para a função de distribuição acumulada. A distribuição à priori tem, por exemplo, sido processos de Dirichlet, processos neutral to the right. Neste trabalho nós estudamos o problema de achar estimadores de Bayes nâo-paramétricos para a taxa de falha acumulada de um processo pontuai baseado no modelo de intensidade multiplicativo de Aalen. Desta forma nós consideramos uma classe conjugada de processos de Levy chamados de processos beta e apresentamos fórmulas para obter um processo posterior. 0 estimador de Bayes é comparado com dois outros estimadores não-paramétricos, Kaplan-Meier e Nelson-Aalen e um estimador paramétrico, a taxa de falha acumulada de uma distribuição Weibull.
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