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1
Efeitos da radiação em dispositivos analógicos programáveis (FPAAs) e técnicas de proteção
por
Balen
,
Tiago
Roberto
Publicado em 2010
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Tese
2
Teste de dispositivos analógicos programáveis (FPAAS)
por
Balen
,
Tiago
Roberto
Publicado em 2006
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Dissertação
3
A self-checking scheme to mitigate single event upset effects in SRAM-based FPAAs
por
Balen
,
Tiago
Roberto
Publicado em 2009
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Artigo
4
Fault injection on a mixed-signal programmable SoC with design diversity mitigation
por
González Aguilera, Carlos Julio
Publicado em 2016
Outros Autores:
“
...
Balen
,
Tiago
Roberto
...
”
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Artigo
5
Design of an integrated system for on-line test and diagnosis of rotary actuators
por
Piccoli, Leonardo Bisch
Publicado em 2020
Outros Autores:
“
...
Balen
,
Tiago
Roberto
...
”
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Artigo
6
Reliability analysis of 0.5µm CMOS operational amplifiers under TID effects
por
Cardoso, Guilherme Schwanke
Publicado em 2014
Outros Autores:
“
...
Balen
,
Tiago
Roberto
...
”
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Artigo
7
Evaluation of single event upset susceptibility of FinFET-based SRAMs with weak resistive defects
por
Copetti, Thiago Santos
Publicado em 2021
Outros Autores:
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Balen
,
Tiago
Roberto
...
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Artigo
8
Comparing the impact of power supply voltage on CMOS-and FinFET-based SRAMs in the presence of resistive defects
por
Copetti, Thiago Santos
Publicado em 2020
Outros Autores:
“
...
Balen
,
Tiago
Roberto
...
”
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Artigo
9
Testing a fault tolerant mixed-signal design under TID and heavy ions
por
González Aguilera, Carlos Julio
Publicado em 2021
Outros Autores:
“
...
Balen
,
Tiago
Roberto
...
”
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