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1
Analysis of Total Ionizing Dose Effects on 0.13 µm Technology-Temperature-Compensated Voltage References
por
Both
,
Thiago
Hanna
Publicado em 2013
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Artigo
2
Autocorrelation analysis in frequency domain as a tool for MOSFET low frequency noise characterization
por
Both
,
Thiago
Hanna
Publicado em 2017
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Tese
3
Análise dos efeitos de dose total ionizante em transistores CMOS tecnologia 0,35 μm
por
Both
,
Thiago
Hanna
Publicado em 2013
Acessar documento
Dissertação
4
Análise de falhas em uma memória PSRAM por efeitos de dose total ionizante
por
Both
,
Thiago
Hanna
Publicado em 2011
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Trabalho de conclusão de curso
5
Analysis of total ionizing dose effects on 0.13 µm technology-temperature-compensated voltage references
por
Both
,
Thiago
Hanna
Publicado em 2013
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Artigo
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