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1
Caracterização elétrica e físico-química de estruturas dielétrico/4H-SiC obtidas por oxidação térmica
por
Palmieri
,
Rodrigo
Publicado em 2009
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Tese
2
Caracterização elétrica de estruturas metal/dielétrico high-k/Si
por
Palmieri
,
Rodrigo
Publicado em 2005
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Dissertação
3
Magnetometria de camadas atômicas de cobalto durante a deposição eletroquímica
por
Palmieri
,
Rodrigo
Publicado em 1999
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Artigo de conferência
4
Improvement of SiO2/4H-SiC interface properties by oxidation using hydrogen peroxide
por
Palmieri
,
Rodrigo
Publicado em 2009
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Artigo
5
Magnetômetro de gradiente alternado à baixa temperatura
por
Palmieri
,
Rodrigo
Publicado em 1998
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Artigo de conferência
6
Confecção de pontas para microscopia de tunelamento com polarização de spin
por
Palmieri
,
Rodrigo
Publicado em 2001
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Artigo de conferência
7
Microscopia de tunelamento com polarização de spin
por
Palmieri
,
Rodrigo
Publicado em 2000
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Artigo de conferência
8
Medida elétrica de defeitos eletricamente ativos na interface SiC/SiO/sub 2/
por
Contini, André Carlos
Publicado em 2006
Outros Autores:
“
...
Palmieri
,
Rodrigo
...
”
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Artigo de conferência
9
SiO2 films on 4H-SiC : reducing interface electrical degradation due to thermal oxidation
por
Pitthan Filho, Eduardo
Publicado em 2013
Outros Autores:
“
...
Palmieri
,
Rodrigo
...
”
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Artigo de conferência
10
The role played in the improvement of the SiO2/SiC interface by a thin SiO2 film thermally grown prior to oxide film deposition
por
Pitthan Filho, Eduardo
Publicado em 2013
Outros Autores:
“
...
Palmieri
,
Rodrigo
...
”
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Artigo
11
Influence of thermal growth parameters on the SiO2/4H-SiC interfacial region
por
Pitthan Filho, Eduardo
Publicado em 2013
Outros Autores:
“
...
Palmieri
,
Rodrigo
...
”
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Artigo
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